3. 

        <meter id="pryje"><nav id="pryje"><delect id="pryje"></delect></nav></meter>
          <label id="pryje"></label>
          


          
	
  	
          
	
          
		首頁(yè)　 
		資訊　 
		商機(jī) 　
		下載　 
		拆解 　
		高校　 
		招聘 　
		雜志　 
		會(huì)展　 
		EETV　 
		百科 　
		問(wèn)答　 
		電路圖　 
		工程師手冊(cè) 　
		Datasheet　
		100例 　
		活動(dòng)中心　 
		E周刊閱讀 　
		樣片申請(qǐng)
	
          




          
	EEPW首頁(yè) >> 
	主題列表 >> 
	tem
          

          
	
          
    	
          
    	  	
          
              	
                                
          
                  

                                
          
                    
          五位半導(dǎo)體行業(yè)專家對(duì)芯片缺陷分析
          
                                                            
            
                    	
          • 在圓桌會(huì)議上，半導(dǎo)體工程專家們就“半導(dǎo)體和封裝技術(shù)日益增加的復(fù)雜性將如何推動(dòng)故障分析方法的轉(zhuǎn)變”展開了討論，討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應(yīng)用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級(jí)產(chǎn)品專家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級(jí)營(yíng)銷經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場(chǎng)討論的精彩摘錄。[從左到右]
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        先進(jìn)封裝，F(xiàn)A  SEM  TEM                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                
          
                    
          理解RF器件性能測(cè)量過(guò)程中的紋波：理論與實(shí)驗(yàn)(下)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　本小節(jié)將計(jì)算圖1e所示介電模塊多次反射的反射和傳輸系數(shù)。圖2顯示了該介電模塊內(nèi)正常入射層波多次相互作用情況。

            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        RF  DUT  TEM                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                
          
                    
          理解RF器件性能測(cè)量過(guò)程中的紋波：理論與實(shí)驗(yàn)(上)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　在RF器件參數(shù)描述(例如：增益、線性和回波損耗等)期間，我們有時(shí)會(huì)看到紋波。出現(xiàn)這些紋波的原因是，信號(hào)在線纜、連接器、評(píng)估板線路、受測(cè)器件(DUT)和封裝內(nèi)傳播時(shí)存在多次反射情況。這些互連結(jié)點(diǎn)上的阻抗錯(cuò)配，導(dǎo)致這些紋波的出現(xiàn)。

            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        RF  DUT  TEM                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                
          
                    
          蛇形線的作用
          
                                                            
            
                    	
          • 經(jīng)常能看到論壇里有人在問(wèn)蛇形線的問(wèn)題。平時(shí)我們能看到蛇形線的地方大都是一些高速高密度板，好像帶有蛇形線的板子就更高級(jí)，會(huì)畫蛇形線就是高手了。網(wǎng)上關(guān)于蛇形線的文章也有很多，總感覺(jué)有些帖子的內(nèi)容會(huì)誤導(dǎo)新手，給人們帶來(lái)困擾，人為制造一些障礙。那么我們來(lái)看看實(shí)際應(yīng)用當(dāng)中蛇形線到底有什么作用。
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        蛇形線  PCB  帶狀線  TEM                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                                

                
          
	                
          
		                	
          
	
          
	共4條
	1/1															1								
	
          
		                
          
	               	
          
                
          
        	
          
            
          
        
          
	
          
	
	
          

          

          
        		關(guān)于我們 - 
        		廣告服務(wù) - 
        		企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 
        		網(wǎng)站地圖 - 
        		聯(lián)系我們 - 
        		征稿 - 
        		友情鏈接 - 
        		手機(jī)EEPW
        		
          
        		Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
          
        		《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
          
      			備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473
      		
          
    	
          
  	





          




          



看屁屁www成人影院,亚洲人妻成人图片,亚洲精品成人午夜在线,日韩在线 欧美成人

(function(){
    var bp = document.createElement('script');
    var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0];
    if (curProtocol === 'https') {
        bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js';
    }
    else {
        bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js';
    }
    var s = document.getElementsByTagName("script")[0];
    s.parentNode.insertBefore(bp, s);
})();