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集成電路測試機的挑戰(zhàn)與趨勢
- 迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100036） 摘?要：介紹了集成電路測試機（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案。 關(guān)鍵詞：集成電路；測試；微調(diào)；trim 集成電路自動測試設(shè)備（ATE，測試機）是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測，2019年中國測試機占據(jù)后道檢測設(shè)備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢是什么？電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士。 1 芯片測試的新挑戰(zhàn) 當(dāng)今的半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
- 關(guān)鍵字： 202001 集成電路 測試 微調(diào) trim
TI新增一款低噪聲e-Trim運算放大器OPA376
- 德州儀器(TexasInstruments，TI)推出一款具有e-Trim修整技術(shù)和低噪聲的單電源運算放大器OPA376。OPA376采用超小型封裝，提供25μA低偏移電壓(最大值)、5.5MHz大頻寬、7.5nV/√Hz低噪聲密度和950μA靜態(tài)電流(最大值)。 以上這些特性使新組件在各項參數(shù)間取得平衡，滿足濾波、數(shù)據(jù)擷取和單電源處理系統(tǒng)的交流和直流規(guī)格要求，適合傳感器與信號調(diào)節(jié)、無線通信、醫(yī)療儀器、掌上型測試裝置和消費音頻產(chǎn)品等應(yīng)用。&nbs
- 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù) 電源技術(shù) TI e-Trim 運算放大器 模擬IC 電源
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