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A/D轉(zhuǎn)換器和微控制器——走向集成

??????? ?許多微控制器廠商正在把模擬電路移入微控制器中，因?yàn)樗麄兇_信模擬單元在重要的方面能與邏輯門相抗衡：它們具有通用的功能，有廣泛的用途。在被考慮移入微控制器的模擬電路中就有A/D轉(zhuǎn)換器，當(dāng)然不是所有的模擬或混合信號(hào)模塊都適合與微控制器同處一塊芯片上。　　當(dāng)混合信號(hào)器件作為控制器的一部分時(shí)，如逐次近似寄存器（SAR）轉(zhuǎn)換器，不同的應(yīng)用情形下計(jì)算要求似乎差別很大。當(dāng)控制器作為混合信號(hào)器件的一部分時(shí)，如&De
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HOLTEK新推出HT46R92、HT46R94高電流LED驅(qū)動(dòng)A/D型MCU

?????????????????????????????????????? HT46R92、HT46R94是HOLTEK
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基于FPGA和DSP的高速瞬態(tài)信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)

　　引言　　目前國(guó)內(nèi)急需一種能夠?qū)﹄娀鸸て返陌l(fā)火過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)無(wú)損耗監(jiān)測(cè)的方法和手段，并根據(jù)監(jiān)測(cè)結(jié)果對(duì)火工品的可靠性進(jìn)行準(zhǔn)確的判決和認(rèn)證，解決科研和生產(chǎn)過(guò)程中的具體問(wèn)題。本系統(tǒng)采用感應(yīng)式線圈作為非接觸式啟爆電流的啟爆裝置，并采用高速A/D、FPGA、DSP等先進(jìn)的集成電路實(shí)現(xiàn)了電火工品的無(wú)損耗檢測(cè)。其主要目的是：第一，解決電火工品可靠性試驗(yàn)中微秒級(jí)瞬態(tài)信號(hào)的檢測(cè)、處理和存儲(chǔ)技術(shù);第二，為可靠性試驗(yàn)提供一種在線的無(wú)損耗實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)，以便對(duì)電火工品的發(fā)火全過(guò)程進(jìn)行監(jiān)測(cè);第三，為電火工品的發(fā)火可靠性認(rèn)證和評(píng)
關(guān)鍵字： FPGA DSP A/D

基于ADuC848的鉆井壓力數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

　　引言　　目前國(guó)內(nèi)的隨鉆測(cè)量鉆井壓力工具大部分是引進(jìn)國(guó)外設(shè)備，成本高、維修困難。已經(jīng)使用的國(guó)內(nèi)設(shè)備在體積、集成度和精度上有著明顯的不足，并且老化程度高?；诖朔N情況，筆者開(kāi)發(fā)了一個(gè)基于ADuC848微控制器的、可擴(kuò)展采集通道的鉆井壓力數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。ADuC848是美國(guó)ADI公司最新推出的一款具有軍品標(biāo)準(zhǔn)，單片最多可帶8路模擬信號(hào)輸入轉(zhuǎn)換通道，擴(kuò)展主機(jī)/從機(jī)模式最多可達(dá)16路模擬輸入通道的微控制器。它具有單16位高精度A/D轉(zhuǎn)換器、16位無(wú)差錯(cuò)編碼，大容量64 KBFlash ROM、4 KB片上F
關(guān)鍵字： ADuC848 A/D 轉(zhuǎn)換器

基于D/A轉(zhuǎn)換器的程控電源設(shè)計(jì)

　　引言　　在各種電子電路實(shí)驗(yàn)中，電源是一種必不可少的儀器，目前實(shí)驗(yàn)所用的電源大多是只有固定電壓輸出(例如常用的有： ±5V、±12V或±15V) ，其缺點(diǎn)是輸出電壓不可人為的改變，輸出精度和穩(wěn)定性都不高：在測(cè)量上，傳統(tǒng)的電源一般采用指針式或數(shù)字式來(lái)顯示電壓或電流，搭配電位器調(diào)整所要的電壓及電流輸出值。若要調(diào)整精確的電壓輸出，須搭配精確的顯示儀表監(jiān)測(cè)：又因電位器的阻值特性非線性，在調(diào)整時(shí)，需要花費(fèi)一定的時(shí)間，且會(huì)產(chǎn)生漂移，使得最終只好因陋就簡(jiǎn)。　　隨著
關(guān)鍵字： D/A 轉(zhuǎn)換器電源

一種精度可調(diào)的數(shù)字控制移相原理

　　1 　引言　　移相電路在現(xiàn)代通訊技術(shù)、波形調(diào)制和雷達(dá)掃描等許多方面有著大量的運(yùn)用。目前實(shí)現(xiàn)方式大致可分為模擬和數(shù)字2類。模擬移相器的電路較為復(fù)雜、線性差、響應(yīng)時(shí)間慢，抗電磁干擾能力差。而數(shù)字移相器主要分2類[1]：第一類是運(yùn)用直接數(shù)字式頻率合成技術(shù)DDS。另一類是利用單片機(jī)計(jì)數(shù)延時(shí)的方法實(shí)現(xiàn)。其中使用DDS的移相器的實(shí)現(xiàn)精度大多依照"360°/2°"的方式實(shí)現(xiàn)，即其能夠?qū)崿F(xiàn)180°，90°，45°，22.5°，11.25°
關(guān)鍵字： ROM 比較器 D/A

采用雙采樣技術(shù)的高性能采樣保持電路

　　1 引言　　隨著技術(shù)的發(fā)展，高速度高精度已成為流水線A/D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)目標(biāo)，而采樣/保持電路作為流水線結(jié)構(gòu)A/D轉(zhuǎn)換器的核心部分，他的性能決定了整個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器的性能。因此，設(shè)計(jì)一個(gè)高速高精度的采樣保持電路就顯得尤為重要。采樣保持電路的精度要求一般受限于運(yùn)放的有限增益和開(kāi)關(guān)電路引起的誤差。一方面，運(yùn)放并非理想運(yùn)放，他存在著增益誤差;另一方面由于采樣保持電路是一種開(kāi)關(guān)電容電路的運(yùn)用，他本身存在的開(kāi)關(guān)電荷注入效應(yīng)[1]和時(shí)鐘潰通，以及開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻的非線性[2]，都會(huì)影響采樣保持電路的精度。對(duì)于電荷注
關(guān)鍵字： A/D 轉(zhuǎn)換器放大器模擬IC 電源

OFDM水聲通信信道估計(jì)技術(shù)研究

　　水聲信道是一個(gè)十分復(fù)雜的時(shí)-空-頻變信道，其主要特征是復(fù)雜性、多變性、強(qiáng)多途和有限帶寬。聲傳播損失和海水吸收損失使得水聲信道帶寬受到極大限制，海洋水聲信道中多徑效應(yīng)的存在造成接收信號(hào)的畸變和嚴(yán)重的碼間干擾，給水聲通信系統(tǒng)的設(shè)計(jì)帶來(lái)了巨大的困難，信道中的相位起伏使得載波恢復(fù)和相干解調(diào)變得十分困難。在常用的高速水聲通信技術(shù)中，采用相位相干(PSK/QAM)調(diào)制要面對(duì)信道起伏時(shí)的相干解調(diào)問(wèn)題，而且要適應(yīng)收發(fā)端相對(duì)運(yùn)動(dòng)所帶來(lái)的多普勒頻移。OFDM作為一種可有效對(duì)抗碼間干擾、頻譜利用率高的高速傳輸系統(tǒng)，引起人們
關(guān)鍵字： OFDM 水聲信道 D/A 通信基礎(chǔ)

HOLTEK新推出8位HT46R4A于A/D型MCU

　　HT46R4A是HOLTEK半導(dǎo)體新推出8位精簡(jiǎn)A/D型MCU，內(nèi)建9位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，具有4K Word OTP程序內(nèi)存、192 Byte數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器, 6-level stack等規(guī)格，在封裝方面提供44-Pin QFP, 32-Pin DIP及28-Pin SKDIP/SOP等封裝。適用于家電、車用周邊及其它智能控制的產(chǎn)品，其精簡(jiǎn)的架構(gòu)提供使用者一個(gè)具有優(yōu)異性價(jià)比的解決方案。　　HT46R4A使用HOLTEK半導(dǎo)體的8位微控制器核心，兼具實(shí)用的周邊電路，例如內(nèi)建6信道9位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器
關(guān)鍵字： HOLTEK A/D MCU MCU和嵌入式微處理器

奧地利微電子推出微功耗10位150ksps A/D轉(zhuǎn)換器 AS1528/29

　　奧地利微電子發(fā)布 2 款高性價(jià)比的 A/D 轉(zhuǎn)換器以擴(kuò)展其微功耗 A/D 轉(zhuǎn)換器系列，一款是10位超低功耗單通道全差分A/D 轉(zhuǎn)換器AS1528，另一款是雙通道單端超低功耗 A/D 轉(zhuǎn)換器 AS1529。AS1528/29 系列對(duì)于有苛刻空間要求的小型電池驅(qū)動(dòng)設(shè)備和便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，如遙感器或筆式數(shù)字化儀而言，是理想的解決方案。這些器件采用小型 3x3mm TDFN 8 引腳封裝，可在高達(dá) 150 ksps 的采樣速度下以超低功耗運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)卓越的動(dòng)態(tài)性能。　　與同系列的 12 位AS1524/2
關(guān)鍵字：奧地利微電子 A/D轉(zhuǎn)換器 AS1528/29 半導(dǎo)體材料

A/D轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標(biāo)

A/D轉(zhuǎn)換器的主要技術(shù)指標(biāo)有轉(zhuǎn)換精度、轉(zhuǎn)換速度等。選擇A/D轉(zhuǎn)換器時(shí)，除考慮這兩項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)外，還應(yīng)注意滿足其輸入電壓的范圍、輸出數(shù)字的編碼、工作溫度范圍和電壓穩(wěn)定度等方面的要求。　　1. 轉(zhuǎn)換精度　　單片集成A/D轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換精度是用分辨率和轉(zhuǎn)換誤差來(lái)描述的。　?。?）分辨率 A/D轉(zhuǎn)換器的分辨率以輸出二進(jìn)制（或
關(guān)鍵字： A/D轉(zhuǎn)換器技術(shù) 指標(biāo) 模擬IC 電源

基于ispPAC和單片機(jī)的熱電偶實(shí)驗(yàn)儀

摘要：介紹了一種基于EDA技術(shù)的熱電偶實(shí)驗(yàn)裝置。本系統(tǒng)以ispPAC和單片機(jī)為核心電路，輔以高精度A/D轉(zhuǎn)換器件及LED顯示器，實(shí)現(xiàn)對(duì)溫差電動(dòng)勢(shì)的測(cè)量及數(shù)字顯示。該系統(tǒng)具有穩(wěn)定性好、集成度高、靈活性強(qiáng)、實(shí)驗(yàn)成本低等特點(diǎn)。關(guān)鍵詞：熱電偶, ispPAC，單片機(jī)，A/D轉(zhuǎn)換器 1. 引言在大學(xué)物理熱電偶實(shí)驗(yàn)中，傳統(tǒng)的溫差電動(dòng)勢(shì)的測(cè)量多采用補(bǔ)償法，溫度的測(cè)量使用水銀溫度計(jì)。整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程復(fù)雜、原理不直觀，儀器誤差較大。因其對(duì)電源要
關(guān)鍵字：熱電偶 ispPAC 單片機(jī) A/D轉(zhuǎn)換器 MCU和嵌入式微處理器

一種采用雙采樣技術(shù)的高性能采樣保持電路

　　1 引言　　隨著技術(shù)的發(fā)展，高速度高精度已成為流水線A/D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)目標(biāo)，而采樣/保持電路作為流水線結(jié)構(gòu)A/D轉(zhuǎn)換器的核心部分，他的性能決定了整個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器的性能。因此，設(shè)計(jì)一個(gè)高速高精度的采樣保持電路就顯得尤為重要。采樣保持電路的精度要求一般受限于運(yùn) 　　放的有限增益和開(kāi)關(guān)電路引起的誤差。一方面，運(yùn)放并非理想運(yùn)放，他存在著增益誤差;另一方面由于采樣保持電路是一種開(kāi)關(guān)電容電路的運(yùn)用，他本身存在的開(kāi)關(guān)電荷注入效應(yīng)[1]和時(shí)鐘潰通，以及開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻的非線性[2]，都會(huì)影響采樣保持電路的精度。對(duì)
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TLC1549串口傳輸與單片機(jī)的A／D設(shè)計(jì)

　　1 概述　　TLC1549系列是美國(guó)德州儀器公司生產(chǎn)的具有串行控制、連續(xù)逐次逼近型的模數(shù)轉(zhuǎn)換器，它采用兩個(gè)差分基準(zhǔn)電壓高阻輸入和一個(gè)三態(tài)輸出構(gòu)成三線接口，其中三態(tài)輸出分別為片選(CS低電平有效)，輸入/輸出時(shí)鐘(I/O CLOCK)，數(shù)據(jù)輸出(DATAOUT)。TLC1549引腳排列如圖1所示。TLC1549能以串行方式送給單片機(jī)，其功能結(jié)構(gòu)如圖2所示。由于TLC1549采用CMOS工藝。內(nèi)部具有自動(dòng)采樣保持、可按比例量程校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換范圍、抗噪聲干擾功能，而且開(kāi)關(guān)電容設(shè)計(jì)使在滿刻度時(shí)總誤差最大僅為
關(guān)鍵字：模擬技術(shù) 電源技術(shù) TLC1549 串口 A／D 模擬IC

基于LabVIW的光纖水聽(tīng)器閉環(huán)工作點(diǎn)控制系統(tǒng)

　　1 引言　　干涉型光纖水聽(tīng)器由于輸出的相位調(diào)制信號(hào)與外界聲信號(hào)成非線性關(guān)系，而且受溫度變化、壓力波動(dòng)和機(jī)械抖動(dòng)等因素的影響，兩臂相位差會(huì)隨機(jī)漂移，從而引起信號(hào)幅度的隨機(jī)漲落，即相位衰落現(xiàn)象。因此，其信號(hào)檢測(cè)比其它類型的光纖水聽(tīng)器要困難得多。伴隨著光纖水聽(tīng)器技術(shù)近30年的發(fā)展，出現(xiàn)了許多抗相位衰落的信號(hào)檢測(cè)方法[1～9]，其中閉環(huán)工作點(diǎn)控制屬于主動(dòng)相位補(bǔ)償?shù)囊环N，具有簡(jiǎn)單、線性度好和抗光源相位噪聲等優(yōu)點(diǎn)[1，6]，但是干涉儀中壓電陶瓷(PZT)的引入，大大降低了系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性，且操作不方便。
關(guān)鍵字：嵌入式系統(tǒng) 單片機(jī) A/D LabVIW 正弦信號(hào) 測(cè)試工具