波士頓半導體設備公司(BSE) 近日宣布，其在亞洲的現有銷售與服務機構將立即開始在該地區(qū)提供Aetrium 分選機的銷售與服務。 BSE 最近收購了Aetrium Inc. 的測試分選機資產(其使用者與使用波士頓半導體設備公司現有自動化測試設備(ATE) 的公司及部門相同)。 BSE 龐大的亞洲銷售與服務團隊力量將為Aetrium 分選機提供支援, 更可以加強該公司對亞洲地區(qū)關鍵半導體制造商及封測代工(OSAT) 客戶的支援?！ 〔ㄊ款D半導體設備公司執(zhí)行副總裁Colin Scholefield 稱：「
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BSE Aetrium ATE
消費類領域的融合正在加速，在消費類電腦以及通信應用中，由于每個設備不斷地增添新的功能，它們之間的界線變得更加模糊。例如無線手機，僅此一個設備現已內置數碼攝像機、視頻、因特網與電子郵件接入、多媒體消息、
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SoC ATE 消費類 系統(tǒng)
圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE(自動測試設備)中用作微處理器驅動的電源負載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅動功率 MOSFET Q1 的柵極。被測
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ATE 測試電源 負載 數字可編程
圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE(自動測試設備)中用作微處理器驅動的電源負載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅動功率 MOSFET Q1 的柵極。
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ATE 測試電源 負載 數字可編程
電子產品世界,為電子工程師提供全面的電子產品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網絡家園
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ATE 射頻測試 特征描述 WiMAX
事實證明，WiMAX收發(fā)器件有益于消費電子市場的發(fā)展，它們在此找到了多種用途，其中包括把WiFi熱點連接到互聯(lián)網。為確保器件按預想的那樣工作，并且使它們迅速上市，器件制造商們需要先進的多功能測試設備和同樣先進的
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WiMAX ATE 射頻測試
圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE（自動測試設備）中用作微處理器驅動的電源負載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅動功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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ATE 測試電源 負載 數字可編程
理解ATE SPI (串行外設接口)大多數Maxim? ATE設計都采用了一個串行接口，以便從外部控制器件。這種串行接口 ...
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ATE SPI 串行外設
Boston Semi Equipment Group（BSE 集團）旗下公司 Test Advantage 今天宣布已經收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產品、解決方案和共同的客戶群，以增強 Test Advantage 在后端半導體市場的產品和服務。
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BSE ATE
圖1所示的數字可編程精密電阻可在定制設計的 ATE（自動測試設備）中用作微處理器驅動的電源負載。IC1 是一個 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅動電流-電壓變換器 IC2A，IC2A又驅動功率 MOSFET Q1 的柵極。被
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ATE 自動測試 設備 測試電源
中國目前唯一一個專注于工業(yè)組裝技術與裝備應用領域的專業(yè)展覽會--第三屆華南國際工業(yè)組裝技術與裝備展覽會（Assembly Technology Expo China-ATE），將在成功舉辦兩屆的基礎上，于2008 年8月26日至29日再次閃亮登陸深圳會展中心。
工業(yè)組裝產品技術在整車制造和汽車零部件、電子及通訊設備、家用電器、醫(yī)療設備和機械制造行業(yè)等領域有著非常廣泛的應用。華南地區(qū)作為全球制造業(yè)增長最快的地區(qū)之一，在電子信息產業(yè)發(fā)展、汽車制造等行業(yè)均遠遠領先于我國其他地區(qū)。數據分析顯示，華南地區(qū)
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展會 ATE 道康寧 汽車 電子 通訊 家用電器 醫(yī)療設備
ATE 系統(tǒng)設計師經常要同時面對降低系統(tǒng)成本和提高系統(tǒng)靈活性的挑戰(zhàn)。本文講述 ATE 系統(tǒng)電源新的獨特性能和如何幫助 ATE 系統(tǒng)設計師從容應對這些挑戰(zhàn)。
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最大 靈活性 經濟性 系統(tǒng) ATE 輸出 電源 實現 利用
邊界掃描廣泛應用在板級測試和系統(tǒng)內編程中。這些應用典型地包含了具有邊界掃描能力的器件與群集器件測試之間的連接性測試，來驗證與非邊界掃描器件(存儲器和邏輯器件)的連接性。
測試性和可實現測試覆蓋范圍是UUT(被測單元)特定的，并依賴于邊界掃描實現的水平。特別是在產品測試中，利用連接到UUT上的外設I/O進行測試來擴展邊界掃描測試覆蓋范圍。最近幾年，第3方邊界掃描工具的集成流行于板級產品測試設備，如內電路測試器。往往這樣的集成，比獨立應用的邊界掃描系統(tǒng)優(yōu)越性并不多。某些方案靠組合邊界掃描和ATE資源
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ATE 邊界掃描 UUT
據市場研究公司Gartner最新發(fā)表的研究報告稱，2008年全球半導體設備開支預計將達到403億美元，比2007年的448億美元減少9.9%。
Gartner半導體生產事業(yè)部副總裁KlausRinnen稱，2007年的特點是DRAM內存不顧供過于求的現實繼續(xù)加大投資、NAND閃存開支增速減緩和代工廠商恢復開支的狀況令人失望。在2008年，我們預計隨著DRAM內存市場將糾正資本開支的長期錯誤，半導體主要設備市場的開支將減少。代工廠商開支增長速度減緩和由于擔心美國經濟衰退而采取的謹慎態(tài)度都是造成20
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半導體 NAND 閃存 IC自動測試設備 ATE
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