c／s 文章 進入c／s技術(shù)社區(qū)
硅谷數(shù)模為手機VR推出DisplayPort USB-C方案
- “如果你的女朋友想去巴黎旅游，你又沒得到足夠的年終獎，可以給他買一套VR設(shè)備，她便可以去到塞納河。”硅谷數(shù)模半導(dǎo)體公司(Analogix)的產(chǎn)品經(jīng)理胡偉民向電子產(chǎn)品世界的編輯描繪了VR的有趣應(yīng)用，并預(yù)測年輕人是最熱衷于VR產(chǎn)品的群體。據(jù)介紹，未來通過手機實現(xiàn)VR(虛擬現(xiàn)實)，只要有一根有DisplayPort協(xié)議的USB-C線連接手機和眼鏡/頭盔即可。 胡偉民是在日前深圳舉辦的“易維訊第六屆年度中國ICT媒體論壇”上發(fā)表此觀點的。據(jù)他透露，目前已有客戶在開發(fā)，估計2017年會有DisplayPort
- 關(guān)鍵字： 硅谷數(shù)模 USB-C
軟硬結(jié)合——酷我音樂盒的逆天玩法
- 1、靈感來源： LZ是純宅男，一天從早上8:00起一直要呆在電腦旁到晚上12:00左右吧~平時也沒人來閑聊幾句，刷空間暑假也沒啥動態(tài)，聽音樂吧...~有些確實不好聽，于是就不得不打斷手頭的工作去點擊下一曲或是找個好聽的歌來聽...但是，[移動手鎖定鼠標(biāo)-->移動鼠標(biāo)關(guān)閉當(dāng)前頁面選擇音樂軟件頁面-->選擇合適的音樂-->恢復(fù)原來的界面] 這一過程也會煩人不少，如果說軟件的設(shè)計要在用戶體驗上做足功夫，感覺這一點是軟件設(shè)計人員很難管住的方面，畢竟操作系統(tǒng)也就這樣安排的嘛(當(dāng)然，
- 關(guān)鍵字： C# 串口
R&S先進IC測試方案，全面助力萬物互連時代的IC設(shè)計應(yīng)用
- 2016年12月12日-16日，羅德與施瓦茨公司在北京、上海和深圳三地成功舉辦了“2016年R&S射頻集成電路測試技術(shù)研討會”。260多名來自各種IC設(shè)計企業(yè)的用戶代表參加了本次研討會，共同交流和分享了IC 測試領(lǐng)域的產(chǎn)品和方案，不僅提升了羅德與施瓦茨在IC 行業(yè)的產(chǎn)品競爭力，而且對整個IC設(shè)計行業(yè)的發(fā)展和進步起到了促進作用。 在本次活動上，R&S的技術(shù)專家詳細介紹了其領(lǐng)先的針對IoT 和通用IC設(shè)計與測試的產(chǎn)品和解決方案，包括最新IoT芯片測試技術(shù)，
- 關(guān)鍵字： R&S IC設(shè)計
大聯(lián)大世平推出基于Nuvoton的可應(yīng)用于VR的Type-C 數(shù)字耳機解決方案
- 近日，致力于亞太地區(qū)市場的領(lǐng)先半導(dǎo)體元器件分銷商---大聯(lián)大控股宣布，其旗下世平推出基于新唐科技(Nuvoton)的可應(yīng)用于VR系統(tǒng)的Type-C數(shù)字耳機解決方案。 圖示1-采用USB-Type C接口的數(shù)字耳機 根據(jù)IHS Technology的報告預(yù)測，USB-Type C接口使用量最大的市場將集中在智能手機、平板和筆記本電腦上。從蘋果在最新一代手機上取消傳統(tǒng)3.5mm接口開始，USB-Type C等數(shù)字接口的應(yīng)用范圍和速
- 關(guān)鍵字： 大聯(lián)大 Type-C
三星將在CES 2017上展示為孩子與護膚所打造的C-Lab項目
- 今日，三星電子宣布，鑒于去年與C-Lab創(chuàng)意實驗室相關(guān)的展示活動所取得的成功，將在CES 2017的Eureka Park展區(qū)中再次展示C-Lab打造的三項成果。作為一項創(chuàng)立于2012年12月的創(chuàng)業(yè)商業(yè)計劃，C-Lab創(chuàng)意實驗室有望充分激發(fā)富有創(chuàng)造力的企業(yè)文化，還重在培育來自三星員工的新奇創(chuàng)意。這項計劃對各種業(yè)務(wù)領(lǐng)域發(fā)展起來的創(chuàng)意都會提供支持。將在本次CES 2017上進行展示的項目包括這三項：Tag+是一款能夠為孩子們的玩具增添特殊功能的電子設(shè)備；S-Skin是一套幫助家庭
- 關(guān)鍵字： Tag+ S-Skin Lumini
R&S?ESW 測試接收機為認(rèn)證測試提供快速可靠的測試方案
- 由于需要高度復(fù)雜的認(rèn)證和研發(fā)測試，航空航天與國防電子（AD）和汽車行業(yè)正呼吁一款具有杰出性能的EMI測試接收機。羅德與施瓦茨在杜塞爾多
- 關(guān)鍵字： R&S?ESW測試接收
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差 I
- 偏移[1]和增益誤差[2]（如圖7所示）是C-V測量中最常見的誤差。X軸以對數(shù)標(biāo)度的方式給出了電容的真實值，大小范圍從皮法到納法。Y軸表示系統(tǒng)
- 關(guān)鍵字： C-V測量技術(shù)技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差I(lǐng)I
- 線纜長度補償是一種經(jīng)常被忽視的校正技術(shù)。它是針對儀器廠商提供的某些特殊線纜進行相位偏移校正的。交流信號沿著線纜傳輸需要一定的時間，
- 關(guān)鍵字： C-V測量技術(shù)技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——基于數(shù)字源表的準(zhǔn)靜態(tài)電容測
- 在準(zhǔn)靜態(tài)電容測量[1]中，我們通過測量電流和電荷來計算電容值。這種斜率方法使用簡單，但是它的頻率范圍有限（1～10Hz），因而只能用于一些
- 關(guān)鍵字： C-V測量技術(shù)數(shù)字源表靜態(tài)電
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱—— C-V測量方法與應(yīng)用的匹配
- 交流阻抗技術(shù)是最常用的電容測量技術(shù)[1]。它最適合于一般的低功率門電路，也適用于大多數(shù)測試結(jié)構(gòu)和大多數(shù)探針。其優(yōu)勢在于所需的設(shè)備相對
- 關(guān)鍵字： C-V測量技術(shù)匹
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱—— C-V測量參數(shù)提取的局限性
- 在探討C-V測試系統(tǒng)的配置方法之前，了解半導(dǎo)體C-V測量技術(shù)[1]的局限性是很重要的：·電容：從10fF到1微法·電阻：從01歐姆到100M歐姆·
- 關(guān)鍵字： C-V測量技術(shù)參數(shù)提
C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——C-V測量技術(shù)連接與校正 I
- 盡管很多C-V測量技術(shù)本身相對簡單，但是以一種能夠確保測量質(zhì)量的方式實現(xiàn)C-V測試儀與探針臺的連接卻不是那么簡單。目前探針臺使用的機械手
- 關(guān)鍵字： C-V測量技術(shù)校
c／s介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條c／s!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對c／s的理解，并與今后在此搜索c／s的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對c／s的理解，并與今后在此搜索c／s的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
c／s電路
c／s相關(guān)帖子
c／s資料下載
c／s專欄文章
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473