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硅谷數(shù)模為手機VR推出DisplayPort USB-C方案
- “如果你的女朋友想去巴黎旅游，你又沒得到足夠的年終獎，可以給他買一套VR設備，她便可以去到塞納河?！惫韫葦?shù)模半導體公司(Analogix)的產(chǎn)品經(jīng)理胡偉民向電子產(chǎn)品世界的編輯描繪了VR的有趣應用，并預測年輕人是最熱衷于VR產(chǎn)品的群體。據(jù)介紹，未來通過手機實現(xiàn)VR(虛擬現(xiàn)實)，只要有一根有DisplayPort協(xié)議的USB-C線連接手機和眼鏡/頭盔即可?！ 『鷤ッ袷窃谌涨吧钲谂e辦的“易維訊第六屆年度中國ICT媒體論壇”上發(fā)表此觀點的。據(jù)他透露，目前已有客戶在開發(fā)，估計2017年會有DisplayPort
- 關鍵字： 硅谷數(shù)模 USB-C
C-V測量技術、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差 I
- 偏移[1]和增益誤差[2]（如圖7所示）是C-V測量中最常見的誤差。X軸以對數(shù)標度的方式給出了電容的真實值，大小范圍從皮法到納法。Y軸表示系統(tǒng)
- 關鍵字： C-V測量技術技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術、技巧與陷阱——常見C-V測量誤差II
- 線纜長度補償是一種經(jīng)常被忽視的校正技術。它是針對儀器廠商提供的某些特殊線纜進行相位偏移校正的。交流信號沿著線纜傳輸需要一定的時間，
- 關鍵字： C-V測量技術技巧與陷阱測量誤
C-V測量技術、技巧與陷阱——基于數(shù)字源表的準靜態(tài)電容測
- 在準靜態(tài)電容測量[1]中，我們通過測量電流和電荷來計算電容值。這種斜率方法使用簡單，但是它的頻率范圍有限（1～10Hz），因而只能用于一些
- 關鍵字： C-V測量技術數(shù)字源表靜態(tài)電
C-V測量技術、技巧與陷阱—— C-V測量方法與應用的匹配
- 交流阻抗技術是最常用的電容測量技術[1]。它最適合于一般的低功率門電路，也適用于大多數(shù)測試結構和大多數(shù)探針。其優(yōu)勢在于所需的設備相對
- 關鍵字： C-V測量技術匹
C-V測量技術、技巧與陷阱—— C-V測量參數(shù)提取的局限性
- 在探討C-V測試系統(tǒng)的配置方法之前，了解半導體C-V測量技術[1]的局限性是很重要的：·電容：從10fF到1微法·電阻：從01歐姆到100M歐姆·
- 關鍵字： C-V測量技術參數(shù)提
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