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DA 證書鏈之初體驗(yàn)

1. 前言本文是上文《STM32H5 DA 之初體驗(yàn)(帶 TrustZone)》的后續(xù)之作。倘若你還沒有閱讀此文，那么建議你先閱讀下，然后再回過頭來閱讀本文。之前我們已經(jīng)講過了如何通過 DA 認(rèn)證來回退芯片產(chǎn)品狀態(tài)，或者重新打開調(diào)試口，這樣開發(fā)人員在芯片為 Closed 狀態(tài)下時(shí)仍可以調(diào)試芯片。在這個(gè) DA 認(rèn)證過程中，有使用到兩個(gè)東西：證書和私鑰，它與之前已經(jīng)預(yù)配置到芯片內(nèi)部的 obk 文件是對(duì)應(yīng)的關(guān)系。也就是說, 如果你已經(jīng)預(yù)配置了芯片, 但對(duì)應(yīng)的私鑰文件或者證書丟失或忘記保存了, 那么此芯
關(guān)鍵字：證書鏈 DA 調(diào)試認(rèn)證 Debug Aughentication

2022年5月11日，EDA（集成電路設(shè)計(jì)工具）智能軟件和系統(tǒng)領(lǐng)先企業(yè)芯華章正式發(fā)布基于創(chuàng)新架構(gòu)的數(shù)字驗(yàn)證調(diào)試系統(tǒng)——昭曉Fusion DebugTM 。該系統(tǒng)基于芯華章自主開發(fā)的調(diào)試數(shù)據(jù)庫和開放接口，可兼容產(chǎn)業(yè)現(xiàn)有解決方案，提供完善的生態(tài)支持，并具備易用性、高性能等特點(diǎn)，能夠幫助工程師簡(jiǎn)化困難的調(diào)試任務(wù)，有效解決難度不斷上升的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證挑戰(zhàn)。在芯華章研討會(huì)暨產(chǎn)品發(fā)布會(huì)上，芯華章科技軟件研發(fā)總監(jiān)黃世杰詳細(xì)介紹了昭曉Fusion DebugTM產(chǎn)品的完整解決方案，并且用實(shí)際項(xiàng)目演示了工具的典型應(yīng)用場(chǎng)景。合肥
關(guān)鍵字：芯華章數(shù)字驗(yàn)證調(diào)試系統(tǒng) 昭曉 Fusion Debug

2021 年 12 月 06 日：MikroElektronika(MIKROE)作為一家通過提供基于成熟標(biāo)準(zhǔn)的創(chuàng)新式硬軟件產(chǎn)品來大幅縮短開發(fā)時(shí)間的嵌入式解決方案的公司，今天推出 Planet Debug，即一種硬件即服務(wù)平臺(tái)，使設(shè)計(jì)人員能夠遠(yuǎn)程開發(fā)和調(diào)試嵌入式系統(tǒng)，而不必投資昂貴的硬件。只需 4 美元/天，設(shè)計(jì)人員就可以根據(jù)自己的要求，配置遠(yuǎn)程 Planet Debug 工作站，進(jìn)行設(shè)計(jì)，通過 MIKROE 的 NECTO Studio IDE（集成開發(fā)環(huán)境）來開發(fā)和調(diào)試自己的應(yīng)用代碼，而不需要采購硬件
關(guān)鍵字： MIKROE Planet Debug 嵌入式設(shè)計(jì) 硬件即服務(wù)平臺(tái)