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工程師該如何解決開(kāi)關(guān)電源的EMI問(wèn)題?
- 隨著微電子技術(shù)的高速發(fā)展,實(shí)際應(yīng)用對(duì)開(kāi)關(guān)電源提出更苛刻的技術(shù)要求,不僅講究高效率、高功率密度,且為保證模塊及整體系統(tǒng)的可靠性,會(huì)要求電磁干擾盡可能小。那么在設(shè)計(jì)或應(yīng)用時(shí)如何攻克電源的EMI難題呢? 現(xiàn)今開(kāi)關(guān)電源的控制方式采用脈沖寬度調(diào)制技術(shù)(PWM),當(dāng)工作在高頻通斷狀態(tài)時(shí),開(kāi)關(guān)管、整流二極管、變壓器等高動(dòng)態(tài)功率器件在快速瞬變過(guò)程中,產(chǎn)生較強(qiáng)的諧波干擾噪聲和尖峰干擾噪聲,并通過(guò)輸入輸出線、分布電容的傳導(dǎo)、空間輻射、串?dāng)_等耦合途徑影響自身電路及其它電子系統(tǒng)設(shè)備的正常工作?! ∫?、電磁干擾(EMI)的綜
- 關(guān)鍵字: 工程師 EMI
資深工程師電源設(shè)計(jì)策略:如何避免傳導(dǎo)EMI問(wèn)題
- 資深工程師電源設(shè)計(jì)策略:如何避免傳導(dǎo)EMI問(wèn)題-大部分傳導(dǎo) EMI 問(wèn)題都是由共模噪聲引起的。而且,大部分共模噪聲問(wèn)題都是由電源中的寄生電容導(dǎo)致的。
- 關(guān)鍵字: EMI 電源設(shè)計(jì)
開(kāi)關(guān)電源電磁干擾的解決方案
- 開(kāi)關(guān)電源電磁干擾的解決方案-近年來(lái),開(kāi)關(guān)電源以其效率高、體積小、輸出穩(wěn)定性好的優(yōu)點(diǎn)而迅速發(fā)展起來(lái)。但是,由于開(kāi)關(guān)電源工作過(guò)程中的高頻率、高di/dt和高dv/dt使得電磁干擾問(wèn)題非常突出,國(guó)內(nèi)已經(jīng)以新的3C認(rèn)證取代了CCIB和CCEE認(rèn)證,使得對(duì)開(kāi)關(guān)電源在電磁兼容方面的要求更加詳細(xì)和嚴(yán)格。
- 關(guān)鍵字: 開(kāi)關(guān)電源 電磁干擾 EMI
USB3.1連接器改善EMI/RFI問(wèn)題傳輸率達(dá)10Gbit/s
- USB3.1連接器改善EMI/RFI問(wèn)題傳輸率達(dá)10Gbit/s-USB 3.1連接器傳輸品質(zhì)將大幅提升。USB 3.1連接器不僅改善電磁與射頻干擾(EMI/RFI)問(wèn)題,亦與先前連接器相容,將有助原始設(shè)備制造商減少金屬隔離片使用數(shù)量,降低筆電與個(gè)人電腦主機(jī)板的物料清單成本。
- 關(guān)鍵字: EMI 連接器 USB技術(shù)
EMC理論基礎(chǔ)知識(shí)——濾波設(shè)計(jì)
- EMC理論基礎(chǔ)知識(shí)——濾波設(shè)計(jì)-濾波電路是由電感、電容、電阻、鐵氧體磁珠和共模線圈構(gòu)成的頻率選擇性網(wǎng)絡(luò),低通濾波器是電磁兼容抑制技術(shù)中普遍應(yīng)用的濾波器。為了減小電源和信號(hào)線纜對(duì)外輻射,接口電路和電源電路必須進(jìn)行濾波設(shè)計(jì)。
- 關(guān)鍵字: EMC 濾波設(shè)計(jì) EMI
車用MCU的抗EMI設(shè)計(jì)與測(cè)試方案
- 車用MCU的抗EMI設(shè)計(jì)與測(cè)試方案-集成電路電磁兼容不僅涉及集成電路電磁干擾與抗擾度的設(shè)計(jì)和測(cè)試方法,而且有必要與集成電路的應(yīng)用相結(jié)合。針對(duì)汽車電子領(lǐng)域來(lái)講,將對(duì)整車級(jí)、零部件級(jí)的電磁兼容要求強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合到集成電路的設(shè)計(jì)中,才能使電路更易于設(shè)計(jì)出符合標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品。作為電子控制系統(tǒng)里面最為關(guān)鍵的單元——微控制器(MCU),其EMC性能的好壞直接影響各個(gè)模塊與系統(tǒng)的控制功能。
- 關(guān)鍵字: 汽車電子 MCU EMI
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