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基于GPIB/VXI/IEEE1394總線的板級(jí)電路功能測(cè)試和故障診斷自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
- 隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試技術(shù)對(duì)電子裝備發(fā)展的支撐作用越來(lái)越突出，測(cè)試保障裝備建設(shè)已受到前所未有的重視。為保證實(shí)際應(yīng)用時(shí)集成度越來(lái)越高的電子設(shè)備能有效、可靠的工作，得出較精確的數(shù)據(jù)，就需要一種高效率
- 關(guān)鍵字： 診斷 自動(dòng)化 測(cè)試系統(tǒng) 故障 功能測(cè)試 GPIB/VXI/IEEE1394
基于LabVIEW平臺(tái)和GPIB接口的測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)及應(yīng)用
- 基于LabVIEW平臺(tái)和GPIB接口的測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)及應(yīng)用,計(jì)算機(jī)技術(shù)和大規(guī)模集成電路技術(shù)的發(fā)展,促進(jìn)了數(shù)字化儀器、智能化儀器的快速發(fā)展。與此同時(shí),工程上也越來(lái)越希望將常用儀器設(shè)備與計(jì)算機(jī)連接起來(lái)組成一個(gè)由計(jì)算機(jī)控制的智能系統(tǒng)。而工程中常用儀器設(shè)備種類(lèi)繁多、功能
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試系統(tǒng) 開(kāi)發(fā) 應(yīng)用 接口 GPIB LabVIEW 平臺(tái) 基于
基于LabVIEW平臺(tái)和GPIB總線的測(cè)試系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)
- 引言傳統(tǒng)的電路性能檢測(cè)采用人工檢測(cè)來(lái)檢定電路是否合格，主要存在以下弊端：第一，在測(cè)試過(guò)程中頻繁地更換儀器和被測(cè)對(duì)象的連線，操作儀器不斷地完成整個(gè)測(cè)試過(guò)程，后續(xù)還需要人工進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析和編寫(xiě)檢測(cè)報(bào)告等
- 關(guān)鍵字： LabVIEW GPIB 總線 測(cè)試系統(tǒng)
采用GPIB和計(jì)算機(jī)并行口的SoC自動(dòng)化測(cè)試方案介紹
- 引言 GPIB(通用接口總線)是國(guó)際通用的標(biāo)準(zhǔn)儀器接口。測(cè)試儀器供應(yīng)商一般都提供豐富的GPIB指令集，用戶(hù)可以直接調(diào)用通訊命令，從而大大縮減底層搭建的工作量。
計(jì)算機(jī)打印接口應(yīng)用擴(kuò)展 計(jì)算機(jī)打印接口(LP - 關(guān)鍵字： GPIB SoC 計(jì)算機(jī) 并行口
儀器總線性能——理解儀器控制中的競(jìng)爭(zhēng)的總線技術(shù)
- 歡迎使用《設(shè)計(jì)下一代測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)者指南》。該指南收集了許多與測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)相關(guān)的白皮書(shū)，可以幫助您在開(kāi)發(fā)測(cè)試系統(tǒng)時(shí)降低成本、提高測(cè)試吞吐量并擴(kuò)展對(duì)未來(lái)需求的支持。本書(shū)提供了一個(gè)關(guān)于構(gòu)建模塊化、軟件定義RF平臺(tái)的案例研究。如欲閱讀完整的開(kāi)發(fā)者指南，您可以：下載PDF版本(共90多頁(yè))或者查看《設(shè)計(jì)下一代測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)者指南》的電子版本。查看《設(shè)計(jì)下一代測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)者指南》的網(wǎng)頁(yè)版本。
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試系統(tǒng) GPIB
基于LabWindows /CVI介質(zhì)復(fù)介電常數(shù)的測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 0引言復(fù)介電常數(shù)是表征介質(zhì)材料電磁特性最重要的參量之一，為使其付諸使用，必須準(zhǔn)確地知道介質(zhì)材料...
- 關(guān)鍵字： GPIB 虛擬儀器 復(fù)介電常數(shù)
基于GPIB的數(shù)字多用表的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 隨著自動(dòng)化技術(shù)的不斷發(fā)展，給我們的生產(chǎn)、生活帶來(lái)了很大的方便，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，可以自動(dòng)完成數(shù)據(jù)的采集、處理，使人們從大量繁瑣的計(jì)算任務(wù)中解脫出來(lái)，因此，其應(yīng)用日益普遍。本文所設(shè)計(jì)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可以自動(dòng)測(cè)量交流電壓、直流電壓，頻率等各種量值，有著重要的應(yīng)用價(jià)值。
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試系統(tǒng) GPIB HP34401A
LabVIEW的GPIB的總線標(biāo)準(zhǔn)接口功能
- GPIB系統(tǒng)中設(shè)備與總線的交互作用定義為接口功能。GPIB標(biāo)準(zhǔn)共定義了10種接口功能，包括5種基本接口功能和5...
- 關(guān)鍵字： LabVIEW GPIB 總線標(biāo)準(zhǔn)接口
基于GPIB和計(jì)算機(jī)并行口的SoC自動(dòng)化測(cè)試方案
- 引言 GPIB(通用接口總線)是國(guó)際通用的標(biāo)準(zhǔn)儀器接口。測(cè)試儀器供應(yīng)商一般都提供豐富的GPIB指令集，用戶(hù)可以直接調(diào)用通訊命令，從而大大縮減底層搭建的工作量。
計(jì)算機(jī)打印接口應(yīng)用擴(kuò)展 計(jì)算機(jī)打印接口(LP - 關(guān)鍵字： GPIB SoC 計(jì)算機(jī) 并行口
基于PXI和GPIB總線電路測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)與設(shè)計(jì)
- 傳統(tǒng)的人工方法檢測(cè)硬件電路的性能存在一系列的問(wèn)題。測(cè)試總線技術(shù)是支撐自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的核心技術(shù)，該項(xiàng)目借鑒國(guó)內(nèi)外在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)尤其是軍用ATS中的先進(jìn)技術(shù)，針對(duì)該電路性能檢測(cè)的需要，提出基于PXI和GPIB總線的LabVIEW軟件平臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法。對(duì)提高電路測(cè)試效率、可信度和自動(dòng)化水平具有重要意義，解決了工程應(yīng)用的實(shí)際問(wèn)題，是一項(xiàng)成功的ATS應(yīng)用案例。
- 關(guān)鍵字： GPIB PXI 總線 電路測(cè)試
gpib介紹
GPIB程序庫(kù)中包括IEEE 488.2應(yīng)用程序和傳統(tǒng)的GPIB應(yīng)用程序。GPIB 488.2應(yīng)用程序中增加了IEEE 488.2兼容性，具有IEEE 488.2的功能。然而，在本課程中，我們只討論傳統(tǒng)的GPIB應(yīng)用程序。
惠普公司在60年代末和70年代初開(kāi)發(fā)了GPIB通用儀器控制接口總線標(biāo)準(zhǔn)。IEEE國(guó)際組織在1975年對(duì)GPIB進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化，由此GPIB變成了IEEE 488標(biāo)準(zhǔn)。術(shù)語(yǔ)GP [ 查看詳細(xì) ]
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