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令I(lǐng)EEE 1149.1 掃描鏈的管理更為方便
- 符合 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)的芯片日漸普及。對于設(shè)計測試 (Design for Test) 工程師來說,這類芯片可以協(xié)助他們解決如何深入電路板進行測試的復(fù)雜測試問題。由于集成電路的結(jié)構(gòu)日趨復(fù)雜,而電路板上的電路也遠比以前密集,專用的 5 線串行測試總線可以提供一條簡便而又標(biāo)準(zhǔn)化的路徑深入系統(tǒng)內(nèi)部的測試節(jié)點,這是采用目前的電路內(nèi)測試 (ICT) 方式所無法做到的。許多新一代的電路板設(shè)計都采用 JTAG 標(biāo)準(zhǔn),以便工程師可以深入系統(tǒng)內(nèi)部進行測試及編程。其實對于很多應(yīng)用方案來說,沒有其它更有效的方法可以
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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 美國電氣和電子工程師協(xié)會
美國電氣和電子工程師協(xié)會(IEEE)是一個國際性的電子技術(shù)與信息科學(xué)工程師的協(xié)會,是世界上最大的專業(yè)技術(shù)組織之一(成員人數(shù)),擁有來自175個國家的36萬會員(到2005年)。1963年1月1日由美國無線電工程師協(xié)會(IRE, 創(chuàng)立于1912年)和美 [ 查看詳細 ]
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