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物聯(lián)網(wǎng)創(chuàng)客指南：MCU設(shè)計(jì)的最佳實(shí)踐和除錯(cuò)技巧
- 物聯(lián)網(wǎng)創(chuàng)客指南：MCU設(shè)計(jì)的最佳實(shí)踐和除錯(cuò)技巧-在本節(jié)中，SiliconLabs將分享在軟件開(kāi)發(fā)方面的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)。關(guān)鍵詞extern，static和volatile都是什么？你應(yīng)該在你的代碼中使用遞歸還是malloc？
- 關(guān)鍵字： MCU 設(shè)計(jì) SiliconLabs
高性能MCU解決方案可實(shí)現(xiàn)汽車駕駛艙里的智能世界
- 高性能MCU解決方案可實(shí)現(xiàn)汽車駕駛艙里的智能世界-隨著車載信息系統(tǒng)的高度發(fā)展，HMI功能強(qiáng)且精度高的顯示器的需求應(yīng)運(yùn)而生，汽車駕駛座正在向“綜合駕駛艙”發(fā)展。瑞薩電子與車載信息系統(tǒng)的發(fā)展同步提供能實(shí)現(xiàn)更高性能和高功能的“R-Car”，并且為對(duì)應(yīng)因汽車的檔次和區(qū)域的不同功能要求，正在進(jìn)行R-Car E2、R-Car M2、R-Car H2 3種檔次的展開(kāi)。本文主要針對(duì)后兩者解決方案在車載信息上的一些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)做了簡(jiǎn)要介紹。
- 關(guān)鍵字： 瑞薩電子 MCU GPU R-Car
物聯(lián)網(wǎng) MCU：小尺寸產(chǎn)生大影響
- 物聯(lián)網(wǎng) MCU：小尺寸產(chǎn)生大影響-MCU 幾乎是每一個(gè)聯(lián)網(wǎng)設(shè)備的關(guān)鍵元件，并有望推動(dòng)數(shù)百萬(wàn)物聯(lián)網(wǎng) （IoT）“終端節(jié)點(diǎn)”的部署。每個(gè)終端節(jié)點(diǎn)都包括各種不同的元件，如表計(jì)、傳感器、顯示器、預(yù)處理器，以及將多種功能合并在單一器件中的數(shù)據(jù)融合元件。
- 關(guān)鍵字： MCU 物聯(lián)網(wǎng) 傳感器
全球七大主流單片機(jī)詳解
- 全球七大主流單片機(jī)詳解-單片機(jī)現(xiàn)在可謂是鋪天蓋地，種類繁多，讓開(kāi)發(fā)者們應(yīng)接不暇，發(fā)展也是相當(dāng)?shù)难杆伲旅鎸榇蠹規(guī)?lái)51、MSP430、TMS、STM32、PIC、AVR、STC單片機(jī)之間的優(yōu)缺點(diǎn)比較及功能體現(xiàn)。
- 關(guān)鍵字： MCU 51單片機(jī) PIC單片機(jī) MSP430
MSP430FW427無(wú)磁水表設(shè)計(jì)方案詳解
- MSP430FW427無(wú)磁水表設(shè)計(jì)方案詳解-MSP430FW42x系列單片機(jī)是TI公司針對(duì)電子式流量與旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)檢測(cè)最新開(kāi)發(fā)的專用MCU芯片，它將超低功耗MCU、旋轉(zhuǎn)掃描接口 （SCAN IF）和液晶顯示LCD驅(qū)動(dòng)模塊完美地結(jié)合在一起。該器件的超低功耗結(jié)構(gòu)和流量檢測(cè)模塊不僅延長(zhǎng)了電池的壽命，同時(shí)還提高了儀表的精度與性能。
- 關(guān)鍵字： MSP430FW427 MCU
MCU數(shù)位控制技術(shù)助力變頻馬達(dá)性能大躍進(jìn)
- MCU數(shù)位控制技術(shù)助力變頻馬達(dá)性能大躍進(jìn)-變頻馬達(dá)主要依靠半導(dǎo)體元件組成的電子電路來(lái)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)運(yùn)轉(zhuǎn)，其中MCU數(shù)位控制技術(shù)的良寙攸關(guān)著馬達(dá)效率是否理想；而在MCU控制技術(shù)日趨成熟，加上FOC演算法助力之下，變頻馬達(dá)效率將逐步躍進(jìn)。
- 關(guān)鍵字： 工業(yè)馬達(dá) MCU 數(shù)位控制
等離子彩電微控制電路原理分析
- 等離子彩電微控制電路原理分析-微控制器電路主要由MCU及工作條件電路、遙控接收電路、按鍵輸入電路、EEPROM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、Flash程序存儲(chǔ)器、開(kāi)關(guān)量控制電路、模擬量控制電路、I2C總線控制電路等組成。
- 關(guān)鍵字： PDP技術(shù) MCU 控制電路
車用MCU的抗EMI設(shè)計(jì)與測(cè)試方案
- 車用MCU的抗EMI設(shè)計(jì)與測(cè)試方案-集成電路電磁兼容不僅涉及集成電路電磁干擾與抗擾度的設(shè)計(jì)和測(cè)試方法，而且有必要與集成電路的應(yīng)用相結(jié)合。針對(duì)汽車電子領(lǐng)域來(lái)講，將對(duì)整車級(jí)、零部件級(jí)的電磁兼容要求強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合到集成電路的設(shè)計(jì)中，才能使電路更易于設(shè)計(jì)出符合標(biāo)準(zhǔn)的最終產(chǎn)品。作為電子控制系統(tǒng)里面最為關(guān)鍵的單元——微控制器（MCU），其EMC性能的好壞直接影響各個(gè)模塊與系統(tǒng)的控制功能。
- 關(guān)鍵字： 汽車電子 MCU EMI
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