mems開關(guān) 文章 進(jìn)入mems開關(guān)技術(shù)社區(qū)
基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
- 先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設(shè)備(ATE)測試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導(dǎo)體市場在不斷發(fā)展，為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進(jìn)的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
- 關(guān)鍵字： MEMS開關(guān) SoC測試
mems開關(guān)介紹
MEMS開關(guān)就是MEMS技術(shù)的具體應(yīng)用。顧名思義,開關(guān)就是來控制電路通斷狀況的，高效、快速反應(yīng)、準(zhǔn)確、重復(fù)使用頻率、高可靠性是現(xiàn)代電路系統(tǒng)對開關(guān)的特殊要求。MEMS開關(guān)的研究始于1979年IBM的K.E.Peterson，隨后經(jīng)過了二十幾年的發(fā)展，由于薄膜的柔軟和變形，MEMS開關(guān)始終沒有取得人們預(yù)期的成績。隨著通訊頻率的不斷增高，現(xiàn)有的半導(dǎo)體開關(guān)因不能滿足頻率的升高而失去開關(guān)能力。MEMS開關(guān)的 [ 查看詳細(xì) ]
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