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一種基于Multisim 10的LED彩控變換電路設(shè)計(jì)與仿真

運(yùn)用Multisim 10仿真軟件，設(shè)計(jì)一個(gè)8×8點(diǎn)陣LED顯示器。該控制器實(shí)現(xiàn)了8×8點(diǎn)陣LED顯示器的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)逐行滾動(dòng)顯示，逐列滾動(dòng)顯示和逐點(diǎn)顯示。結(jié)果表明，利用Multisim 10這種高效的設(shè)計(jì)平臺(tái)，能夠方便地設(shè)計(jì)電路，并用虛擬儀器庫(kù)進(jìn)行仿真以及驗(yàn)證電路是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求。與傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法相比，更省時(shí)，低成本和高效率。 0 引言目前的數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)都比較模塊化。EDA技術(shù)是指以計(jì)算機(jī)為工作平臺(tái)，融合了應(yīng)用電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、信息處理及智能化技術(shù)的最新成果，進(jìn)行電
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基于Multisim的阻容耦合放大電路設(shè)計(jì)

摘要：Multisim 10與Protel相比具有更加形象直觀的人機(jī)交互界面。阻容耦合兩級(jí)放大電路是模擬電路中比較經(jīng)典的電路，文章采用實(shí)驗(yàn)法，借助Multisim 10仿真平臺(tái)，分析阻容耦合兩級(jí)放大電路靜態(tài)工作點(diǎn)和動(dòng)態(tài)參數(shù)，將實(shí)際焊接測(cè)量的數(shù)據(jù)與仿真結(jié)果對(duì)比，探索電路最大不失真波形的特點(diǎn)，這在實(shí)際設(shè)計(jì)電路時(shí)具有深遠(yuǎn)的現(xiàn)實(shí)意義。 0 引言近年來(lái)，電子技術(shù)的發(fā)展日新月異，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的迅速發(fā)展，EDA技術(shù)促進(jìn)了電子線路的設(shè)計(jì)和應(yīng)用。本文借助Multisim 10的仿真平臺(tái)，采用實(shí)驗(yàn)法，分析了阻容耦合兩
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LED照明驅(qū)動(dòng)電路失效機(jī)理的探討

1.引言近幾年從事LED制造、和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的時(shí)常推廣。LED燈具失效一是來(lái)源于電源和驅(qū)動(dòng)的失效，二是來(lái)源于LED器件本身的失效。本文試著從實(shí)際的LED電源驅(qū)動(dòng)電路這一方面，分析其電路的工作原理，然后試著從在不同環(huán)境下的LED驅(qū)動(dòng)電路下，分析各種工作敏感參數(shù)對(duì)失效的影響，來(lái)進(jìn)行失效模式的分析，最后，通過(guò)仿真來(lái)驗(yàn)證結(jié)果。并從理
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一種LED彩控變換電路的設(shè)計(jì)與仿真

0 引言目前的數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)都比較模塊化。EDA技術(shù)是指以計(jì)算機(jī)為工作平臺(tái)，融合了應(yīng)用電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、信息處理及智能化技術(shù)的最新成果，進(jìn)行電子產(chǎn)品的自動(dòng)設(shè)計(jì)。利用EDA 工具，電子設(shè)計(jì)師可以從概念、算法、協(xié)議等開(kāi)始設(shè)計(jì)電子系統(tǒng)，大量工作可以通過(guò)計(jì)算機(jī)完成，并可以將電子產(chǎn)品從電路設(shè)計(jì)、性能分析到設(shè)計(jì)出IC版圖或PCB版圖的整個(gè)過(guò)程的計(jì)算機(jī)上自動(dòng)處理完成. Multisim 10是電子電路設(shè)計(jì)與仿真工具。科研方面主要利用電路仿真工具進(jìn)行電路設(shè)計(jì)與仿真.相對(duì)于其他EDA 軟件，它具有更加形象直觀
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Multisim 10-LED更出彩！彩控變換的設(shè)計(jì)與仿真

目前的數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)都比較模塊化。EDA技術(shù)是指以計(jì)算機(jī)為工作平臺(tái)，融合了應(yīng)用電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、...
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基于Multisim 10的LED彩控變換電路的設(shè)計(jì)與仿真

目前的數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)都比較模塊化。EDA技術(shù)是指以計(jì)算機(jī)為工作平臺(tái)，融合了應(yīng)用電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、...
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NI Multisim 13.0針對(duì)教學(xué)、科研和專業(yè)設(shè)計(jì)提升模擬、數(shù)字和電路仿真功能

2013 年 12月，美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)近日發(fā)布了Multisim 13.0，這是一款適合全球教師、學(xué)生和工程師使用的一流SPICE仿真環(huán)境，可幫助他們探索和設(shè)計(jì)電路以及開(kāi)發(fā)電路原型。
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基于Multisim和LabVIEW的虛擬電子稱

摘要：針對(duì)目前應(yīng)變式傳感器教學(xué)環(huán)節(jié)中存在的設(shè)備落后、缺乏生動(dòng)形象的實(shí)驗(yàn)手段、與實(shí)際工程應(yīng)用脫節(jié)等問(wèn)題，把...
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Elmos推出E524.14數(shù)字智能超聲波倒車輔助系統(tǒng)芯片

2013年8月19日，德國(guó)多特蒙德，艾爾默斯公司(Elmos)日前宣布推出最新可用于驅(qū)動(dòng)超聲波傳感器的E524.14數(shù)字智能超聲波倒車輔助系統(tǒng)芯片。
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Multisim 8的弱信號(hào)放大電路的仿真測(cè)試

1引言運(yùn)算放大器(op-amp)簡(jiǎn)稱運(yùn)放，因最初主要用于模擬量的數(shù)學(xué)運(yùn)算而得名。它是一個(gè)高電壓增益、高輸入電阻和低輸出電阻的直接耦合多級(jí)放大電路，也是最基本、最具代表性、應(yīng)用最廣泛的一種模擬集成電路。在工業(yè)自動(dòng)
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基于Multisim 8的弱信號(hào)放大電路的仿真測(cè)試

4.3 函1 引言　　運(yùn)算放大器(op-amp)簡(jiǎn)稱運(yùn)放，因最初主要用于模擬量的數(shù)學(xué)運(yùn)算而得名。它是一個(gè)高電壓增益 ...
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Multisim、protel和proteus對(duì)比

Multisim有超強(qiáng)板級(jí)的模擬/數(shù)字電路板的設(shè)計(jì)工作。它包含了電路原理圖的圖形輸入、電路硬件描述語(yǔ)言輸入方式，具有豐富的仿真分析能力。高版本可以進(jìn)行單片機(jī)等MCU的仿真。Multisim有實(shí)際元器件和虛擬元器件，它們之
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Multisim10仿真軟件在模擬電子技術(shù)教學(xué)中的應(yīng)用

為了提高學(xué)生的學(xué)習(xí)積極性，加深學(xué)生對(duì)模擬電子技術(shù)的學(xué)習(xí)興趣，本文詳細(xì)介紹Multisim10在模擬電子技術(shù)中的具體應(yīng)用，通過(guò)教學(xué)實(shí)例闡述Multisim10在教學(xué)過(guò)程中的應(yīng)用方法和實(shí)際意義。實(shí)踐結(jié)果表明，在教學(xué)過(guò)程中采用Multisim10進(jìn)行電路的仿真分析與計(jì)算，使得理論教學(xué)更加直觀、靈活，從而學(xué)生能夠更好的掌握基礎(chǔ)理論知識(shí)，取得良好的教學(xué)效果。
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凌力爾特推出14位4.5Msps逐次逼近寄存器ADC LTC2314-14

凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出 14 位 4.5Msps 逐次逼近寄存器 (SAR) ADC LTC2314-14，該器件采用纖巧 8 引線 TSOT-23 封裝，與同類解決方案相比，尺寸減小多達(dá) 90%，適用于空間受限型應(yīng)用。
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基于Multisim的數(shù)字鐘實(shí)驗(yàn)電路的設(shè)計(jì)與仿真

在電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)教學(xué)中，構(gòu)建學(xué)生的電路設(shè)計(jì)理念，提高學(xué)生的電路設(shè)計(jì)能力，是教學(xué)的根本目的和核心內(nèi)容。數(shù)字鐘電路的設(shè)計(jì)和仿真，涉及模擬電子技術(shù)、數(shù)字電子技術(shù)等多方面知識(shí)，能夠體現(xiàn)實(shí)驗(yàn)者的理論功底和設(shè)計(jì)水平
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