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Multitest：Quad Tech概念正是下一代垂直接觸技術(shù)
- 設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的廠商Multitest公司，日前宣布其Quad Tech概念正是下一代的垂直接觸技術(shù)。因其卓越測(cè)試良品率和超長(zhǎng)探針壽命，從而具有顯著測(cè)試成本優(yōu)勢(shì)。 Quad Tech采用非套筒結(jié)構(gòu)，擁有四個(gè)內(nèi)部接觸點(diǎn)。該設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了出色電氣和機(jī)械性能。Quad Tech具有高電流功能、高帶寬和低電感等特點(diǎn)。從機(jī)械性能方面看，Quad Tech的長(zhǎng)形變行程可適應(yīng)更大的Z軸高度公差。 Quad Tech的設(shè)計(jì)使Multitest可使用獨(dú)特且極為精確的生產(chǎn)工藝，該生產(chǎn)工藝
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Multitest MT9928 XM測(cè)試分選機(jī)被選為戰(zhàn)略平臺(tái)
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商、設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布其信譽(yù)卓著的MT9928 XM重力測(cè)試分選機(jī)最近在半導(dǎo)體生產(chǎn)某關(guān)鍵廠商的廣泛性評(píng)估中力挫兩大競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手。
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Multitest在成本和產(chǎn)能方面實(shí)現(xiàn)優(yōu)化
- Multitest公司，日前宣布MT2168在更短測(cè)試時(shí)間和更高并行性(如16個(gè)測(cè)試位)方面充分利用當(dāng)今測(cè)試機(jī)的能力。但市場(chǎng)上許多應(yīng)用的器件同步測(cè)試數(shù)不到16個(gè)。MT2168具有創(chuàng)新和快速的內(nèi)部傳送系統(tǒng)、高預(yù)熱能力及其高擴(kuò)展設(shè)計(jì)，因此成為這些應(yīng)用的最佳之選。
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Multitest推出三溫測(cè)試分選機(jī)MT9928xm
- 德國(guó)羅森海姆，2011年9月---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先供應(yīng)商Multitest公司，日前宣布其MT9928三溫測(cè)試分選機(jī)成為新型MEMS振蕩器應(yīng)用的選擇方案，該應(yīng)用需要最精確的溫度校準(zhǔn)。Multitest以生產(chǎn)具有高度精確穩(wěn)定控制功能的測(cè)試設(shè)備而聞名。因此，MT9928 xm成為MEMS應(yīng)用的測(cè)試分選機(jī)選擇方案。
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Multitest交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)
- 德國(guó)羅森海姆，2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，已向一家知名IDM的歐洲基地交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)。配合Multitest InStrip 分選機(jī)，InPhone系統(tǒng)專用于MEMS麥克風(fēng)的高并行度MEMS測(cè)試與校準(zhǔn)。InStrip 配置適于InCarrier測(cè)試。因此，單粒MEMS封裝可通過InStrip分選機(jī)進(jìn)行高并行性測(cè)試。
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Multitest的MT2168展示卓越的拿放精度
- 2011年8月德國(guó)羅森海姆---面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布在亞洲的一家量產(chǎn)基地驗(yàn)證了其MT2168卓越的貼裝概念?？蛻舭l(fā)現(xiàn)，被測(cè)器件在輸出托盤中的放置速度顯著改善。
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Multitest獲得多份老化測(cè)試板續(xù)訂訂單
- 德國(guó)羅森漢姆，2011年8月----Multitest的老化測(cè)試產(chǎn)品事業(yè)部從一家大型歐洲汽車IDM那里獲得了多份老化測(cè)試板續(xù)訂訂單。 Multitest的老化測(cè)試板(BIB)業(yè)務(wù)始于2010年，充分發(fā)揮其在ATE板設(shè)計(jì)、制造和組裝方面的能力及其測(cè)試座和測(cè)試方面的技術(shù)專知。迄今為止，Multitest已經(jīng)在20家客戶取得了資格，其中包括大型國(guó)際IDM。應(yīng)用范圍從4G無線產(chǎn)品、航空航天應(yīng)用、系統(tǒng)單晶片到微處理器。
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Multitest推出的Mercury測(cè)試座具有高達(dá)6%的合格率提升
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布，以出色的電氣及機(jī)械性能著稱的Mercury™測(cè)試座，在與另一強(qiáng)勁亞洲競(jìng)爭(zhēng)廠家所產(chǎn)的知名測(cè)試座的逐個(gè)評(píng)估中，展現(xiàn)了其領(lǐng)先特性。 在一項(xiàng)大批量生產(chǎn)測(cè)試中，Multitest Mercury™測(cè)試座的一次合格率平均顯著提高了2至6個(gè)百分點(diǎn)。正是因?yàn)檫@一出色成績(jī)，一家國(guó)際性IDM已經(jīng)開始在多個(gè)器件的測(cè)試中使用Mercury™測(cè)
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Multitest推出全新三溫水平16測(cè)試位分選機(jī)
- 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，現(xiàn)推出新型16測(cè)試位三溫水平拿放式分選機(jī)：MT9510 x16。 該系統(tǒng)以成熟的MT95XX平臺(tái)技術(shù)為基礎(chǔ)，此平臺(tái)已擁有50多家客戶公司的600多套系統(tǒng)的安裝量。 與MT9510 XP類似，新的16測(cè)試位分選機(jī)保證了-55°C 到+175°C的出色溫度表現(xiàn)，并擁有多種選擇方案實(shí)現(xiàn)高等級(jí)靜電保護(hù)。系統(tǒng)運(yùn)行速度高，并且可以很容易地廣泛用于各種封裝
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Multitest任命新總裁
- ? ??????? 面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，宣布提升Reinhart Richter先生為Multitest集團(tuán)總裁，該任命立即生效。 Reinhart Richter先生在Multitest擔(dān)任銷售及服務(wù)副總裁已有10年之久。在新崗位，他將利用其公司經(jīng)驗(yàn)以及對(duì)行業(yè)和市場(chǎng)的了解，帶領(lǐng)Multitest成為S
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Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測(cè)試成本
- 面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其Dura?Kelvin測(cè)試座再次證明在超長(zhǎng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國(guó)際性IDM大批量生產(chǎn)廠，Dura?Kelvin測(cè)試座顯著降低了總體測(cè)試成本。 在項(xiàng)目期限內(nèi)，首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura?Kelvin明顯超過了所有目標(biāo)，使用壽命已超過4百萬次插撥，這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98
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優(yōu)化測(cè)試單元產(chǎn)能：Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測(cè)試儀性能
- 面向集成設(shè)備制造商（IDM）和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計(jì)旨在實(shí)現(xiàn)最佳測(cè)試儀利用率。短Index時(shí)間（DUT交換時(shí)間）、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測(cè)試儀保持同步。 理想情況下，如果分選機(jī)沒有局限性，增強(qiáng)的測(cè)試儀性能從兩方面優(yōu)化了測(cè)試單元產(chǎn)能：它們得益于更短測(cè)試時(shí)間和更高測(cè)試并行性的應(yīng)用。 目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測(cè)試儀性能，即使它們擁有多個(gè)相應(yīng)的測(cè)試位亦是如此
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