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NI PXIe-5667接收器測(cè)量性能可應(yīng)對(duì)頻譜監(jiān)測(cè)和信號(hào)監(jiān)控難題
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布NI PXIe-5667頻譜監(jiān)測(cè)接收器 ，可用于無(wú)線電監(jiān)測(cè)、干擾檢測(cè)、頻譜規(guī)則以及ITU推薦的相關(guān)應(yīng)用。
- 關(guān)鍵字： NI PXIe-5667 頻譜監(jiān)測(cè)
NI miniSystems促進(jìn)實(shí)踐性教育的發(fā)展
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日推出了NI miniSystems，它是一些真實(shí)系統(tǒng)的微型版本，例如測(cè)功機(jī)和智能電網(wǎng)，由NI與教育界的領(lǐng)先供應(yīng)商聯(lián)合開發(fā)。當(dāng)學(xué)生開始進(jìn)修工程學(xué)位時(shí)，NI miniSystems可以幫助學(xué)生快速具象地了解數(shù)學(xué)和科學(xué)的理論知識(shí)。
- 關(guān)鍵字： NI miniSystems 測(cè)功機(jī)
NI 圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)助力2012 中國(guó)機(jī)器人大賽
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)攜手上海交通大學(xué)于2012年12月1日到2日共同舉行2012中國(guó)機(jī)器人大賽暨RoboCup公開賽(上海賽區(qū))籃球機(jī)器人比賽。來(lái)自全國(guó)各地9所高校的9支隊(duì)伍、共50余名參賽隊(duì)員代表參加了此次比賽，圍繞籃球機(jī)器人1大項(xiàng)3小項(xiàng)項(xiàng)目展開競(jìng)技。
- 關(guān)鍵字： NI 圖形化系統(tǒng) 機(jī)器人
NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺(tái)的I/O模塊
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日針對(duì)NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過(guò)擴(kuò)展C系列平臺(tái), NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級(jí)的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測(cè)和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)量平臺(tái) 嵌入式
使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
- “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)來(lái)采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù)，并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統(tǒng)?！?/li>
- 關(guān)鍵字： NI 監(jiān)測(cè)系統(tǒng) LabVIEW
NI參加2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測(cè)試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測(cè)試"的精彩演講，演講人NI中國(guó)無(wú)線通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評(píng)為"企業(yè)演講最佳演講人"。
- 關(guān)鍵字： NI TD-LTE 通信
NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
- 關(guān)鍵字： NI TestStand 測(cè)試系統(tǒng)
儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)
- 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月16日在北京萬(wàn)達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題，向近千位來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測(cè)試測(cè)量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)試測(cè)量 嵌入式
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