ni labview+ 文章進(jìn)入ni labview+技術(shù)社區(qū)

基于LabVIEW的電力系統(tǒng)的高頻瞬變的檢測(cè)

開發(fā)一個(gè)通信靈活的便攜式測(cè)量設(shè)備，可以記錄電力系統(tǒng)中的高頻瞬變以及在線向多個(gè)用戶顯示數(shù)據(jù)。解...
關(guān)鍵字： LabVIEW CompactRIO 高頻瞬變

基于NI CompactRIO與LabVIEW的電力系統(tǒng)的高頻瞬變

　　開發(fā)一個(gè)通信靈活的便攜式測(cè)量設(shè)備，可以記錄電力系統(tǒng)中的高頻瞬變以及在線向多個(gè)用戶顯示數(shù)據(jù)?！　〗鉀Q方案:　　使用NI CompactRIO平臺(tái)與LabVIEW軟件快速開發(fā)了一個(gè)高度靈活的測(cè)量系統(tǒng)原型，提供快速采樣和大帶
關(guān)鍵字： CompactRIO LabVIEW 電力系統(tǒng) 高頻

LabVIEW 2010數(shù)據(jù)分析與報(bào)告

　概覽　　LabVIEW 2010包含數(shù)百個(gè)信號(hào)處理與分析函數(shù)，可以對(duì)您的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行更好的分析，利用LabVIEW 2010的報(bào)表生成函數(shù)可以對(duì)分析結(jié)果進(jìn)行總結(jié)和整理，從而能更好地呈現(xiàn)出來?！　∧夸洝　?. 在線分析與報(bào)告　　
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NI成功舉辦第六屆高校教師交流會(huì)

　　美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于7與20日在上海成功舉辦了第六屆NI高校教師交流會(huì)(ProfessorDay 2010) 。會(huì)議圍繞“創(chuàng)新”為主題，通過精彩的演講、展示和交流活動(dòng)，為來自全國(guó)90多所高校的200余名參會(huì)教師奉獻(xiàn)了一場(chǎng)關(guān)于圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)助力工程教育創(chuàng)新的技術(shù)盛宴。　　圍繞“創(chuàng)新”帶來的挑戰(zhàn)，NI中國(guó)院校市場(chǎng)經(jīng)理徐赟先生和特邀嘉賓辛辛那提大學(xué)講座教授、上海交通大學(xué)長(zhǎng)江學(xué)者李杰教授共同以精彩
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自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)展望

　　當(dāng)今，各種創(chuàng)新型技術(shù)層出不窮，對(duì)測(cè)試測(cè)量行業(yè)產(chǎn)生巨大影響。NI通過與不同行業(yè)工程師深入交流，結(jié)合學(xué)術(shù)研究、商業(yè)咨詢、用戶調(diào)查等多種工具，提出2010年測(cè)試測(cè)量工程師需要關(guān)注的五大技術(shù)主題。　　1采用標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu) 　　在企業(yè)產(chǎn)品線日益膨脹的情況下，采用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化架構(gòu)開發(fā)通用測(cè)試平臺(tái)是行之有效的方法，以提高產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)測(cè)試的整個(gè)生命周期里測(cè)試硬件和軟件組件的復(fù)用性。一個(gè)理想的解決方案是：企業(yè)根據(jù)常用的實(shí)際測(cè)試需要定義一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化的“核心標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)”，針對(duì)不同型號(hào)產(chǎn)品和不同地
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使用LabVIEW和CompactRIO實(shí)現(xiàn)清洗機(jī)流水線的自動(dòng)化

　　標(biāo)注所有位置和手部操控項(xiàng)的輸送帶　　作者: 　　M. Malovrh - Bosio d.o.o. 　　D. Kovacic - Bosio d.o.o. 　　A. Romih - Bosio d.o.o. 　　K. Martinovic - Bosio d.o.o. 　　行業(yè): 　　消費(fèi)品, 工業(yè)控制/ 設(shè)備/ 系統(tǒng) 　　產(chǎn)品: 　　NI 9425, PPC-2115, NI 9211, NI 9476, cRIO-9074, NI 9203, LabVIEW 　　挑戰(zhàn): 　
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使用LabVIEW和CompactRIO快速原型測(cè)量系統(tǒng)用于檢測(cè)電力系統(tǒng)中的高頻瞬變

　　使用CompactRIO檢測(cè)電弧的間歇性接地故障　　作者: 　　Christoffer Örndal - Department of Measurement Technology and Industrial Electrical Engineering, Lunds University 　　Andreas Andreas Jönsson - DLAB – Lund University 　　Magnus Akke - DLAB – Lund U
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使用LabVIEW 2010實(shí)現(xiàn)更高效的測(cè)量

　　目錄　　1. MAX 　　2. NI-DAQmx驅(qū)動(dòng)軟件　　3. 定制前面板　　4. 范例查找器和LabVIEW社區(qū) 　　5. 采集、分析和記錄數(shù)據(jù)的最簡(jiǎn)單方法　　LabVIEW 2010是一個(gè)圖形化編程環(huán)境，可以輕松地使用任何傳感器在任何PC總線上進(jìn)行測(cè)量。和基于文本的傳統(tǒng)編程語(yǔ)言相比，LabVIEW能夠幫助你更高效地采集數(shù)據(jù)，無論是簡(jiǎn)單的溫度測(cè)量，還是具有1萬(wàn)個(gè)通道的復(fù)雜系統(tǒng)的數(shù)據(jù)捕獲。　　LabVIEW程序被稱為虛擬儀器(VI)。每個(gè)VI都包括一個(gè)前面板和一個(gè)程序框圖。前
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利用LabVIEW 數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控模塊，對(duì)大型造紙廠的紙漿生產(chǎn)進(jìn)行仿真與控制

　　多元模型開發(fā)結(jié)構(gòu) 　　作者: 　　Matt Taylor - Iggesund Paperboard Workington Mill 　　行業(yè): 　　Manufacturing, 管道/紙業(yè) 　　產(chǎn)品: 　　數(shù)據(jù)采集, 數(shù)據(jù)記錄與監(jiān)控模塊, LabVIEW 　　挑戰(zhàn): 　　創(chuàng)建一個(gè)用來監(jiān)測(cè)大型造紙廠紙漿的生產(chǎn)過程，以節(jié)約能源和降低成本。　　解決方案: 　　為了增加吞吐量，節(jié)約能源，以及優(yōu)化生產(chǎn)過程，我們利用NI LabVIEW數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控(DSC)模塊來處理復(fù)雜的，非線性的建模
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基于NI PXI平臺(tái)的旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作模態(tài)測(cè)試

　　功率譜(恒定轉(zhuǎn)速) 　　作者: 　　洪廣偉 - 上海宏勤信息科技有限公司　　行業(yè): 　　產(chǎn)品: 　　挑戰(zhàn): 　　由于沒有白噪聲作為激勵(lì)，同時(shí)變轉(zhuǎn)速的旋轉(zhuǎn)機(jī)械振動(dòng)中多個(gè)諧波的混疊，造成頻率混疊或者無法激勵(lì)除模態(tài)，所以旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作模態(tài)測(cè)試(OMA)一直是一個(gè)難題。　　解決方案: 　　使用NI PXI平臺(tái)和NI聲音振動(dòng)工具包，構(gòu)造了能夠用于旋轉(zhuǎn)機(jī)械的模態(tài)測(cè)試方案，為旋轉(zhuǎn)機(jī)械的共振監(jiān)測(cè)和動(dòng)態(tài)特性測(cè)試提供了新方法　　"基于LabVIEW的圖形化開發(fā)平臺(tái)，我們開發(fā)了可用于工作旋
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采用LabVIEW和NI無線傳感器網(wǎng)絡(luò)監(jiān)測(cè)一座12世紀(jì)的名

測(cè)量節(jié)點(diǎn)
作者:
Juan José Cabana González - Diseño Implementación y Optimización OPIDIS
Marian Chiriac - Fundación Santa María La Real
Jose M. de Uña García - OPIDIS
行業(yè):
關(guān)鍵字： LabVIEW 無線傳感器網(wǎng)絡(luò)監(jiān)測(cè)

利用LabVIEW 數(shù)據(jù)記錄和監(jiān)控模塊，對(duì)大型造紙廠的

多元模型開發(fā)結(jié)構(gòu)
作者:
Matt Taylor - Iggesund Paperboard Workington Mill
行業(yè):
Manufacturing, 管道/紙業(yè)
產(chǎn)品:
數(shù)據(jù)采集, 數(shù)據(jù)記錄與監(jiān)控模塊, LabVIEW
挑戰(zhàn):
創(chuàng)建一個(gè)用來監(jiān)測(cè)大型造紙廠紙漿的生產(chǎn)
關(guān)鍵字： LabVIEW 數(shù)據(jù)記錄監(jiān)控模塊大型

使用LabVIEW和CompactRIO快速原型測(cè)量系統(tǒng)用于檢測(cè)

使用CompactRIO檢測(cè)電弧的間歇性接地故障
作者:
Christoffer Örndal - Department of Measurement Technology and Industrial Electrical Engineering, Lunds University
Andreas Andreas Jönsson -
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