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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> ni-mydaq

          在無(wú)人機(jī)制導(dǎo)、導(dǎo)航與控制中應(yīng)用半實(shí)物仿真

          • “使用NI PXI,我們能夠在實(shí)時(shí)狀態(tài)下以低延時(shí)完成復(fù)雜的無(wú)人機(jī)模型仿真,并完美地模擬了航空設(shè)備界面?!?/li>
          • 關(guān)鍵字: NI  HIL  LabVIEW  

          使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

          • “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開(kāi)發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)來(lái)采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù),并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統(tǒng)。”
          • 關(guān)鍵字: NI  監(jiān)測(cè)系統(tǒng)  LabVIEW  

          Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測(cè)試,改進(jìn)測(cè)試速度和范圍

          • 就傳統(tǒng)儀器而言,每次測(cè)試大約會(huì)取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號(hào)收發(fā)儀的測(cè)試速度非???,因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻,進(jìn)而采集共300,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
          • 關(guān)鍵字: NI  Qualcomm  測(cè)試  FPGA  

          NI參加2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)

          • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測(cè)試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測(cè)試"的精彩演講,演講人NI中國(guó)無(wú)線(xiàn)通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評(píng)為"企業(yè)演講最佳演講人"。
          • 關(guān)鍵字: NI  TD-LTE  通信  

          NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀助半導(dǎo)體移動(dòng)設(shè)備制造商降低測(cè)試成本

          • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA,它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化,可幫助工程師滿(mǎn)足日益復(fù)雜的射頻測(cè)試要求,而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
          • 關(guān)鍵字: NI  分析儀  PXIe-5632  

          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

          • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
          • 關(guān)鍵字: NI  TestStand  測(cè)試系統(tǒng)  

          儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)

          • 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月16日在北京萬(wàn)達(dá)索菲特大飯店圓滿(mǎn)落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題,向近千位來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測(cè)試測(cè)量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
          • 關(guān)鍵字: NI  測(cè)試測(cè)量  嵌入式  

          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

          • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu),NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易,擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性,讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
          • 關(guān)鍵字: NI  自動(dòng)化測(cè)試  

          NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

          • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架,能夠簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試的開(kāi)發(fā)和報(bào)告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告生成方法,適用于并行測(cè)試,還能夠提升測(cè)試吞吐量。
          • 關(guān)鍵字: NI  測(cè)試  

          復(fù)雜的汽車(chē)電子系統(tǒng)需要高效的測(cè)試解決方案

          • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(NI)在汽車(chē)電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年,在半導(dǎo)體技術(shù)與汽車(chē)融合的大趨勢(shì)下,他們有哪些舉措呢?為此,我們采訪了NI公司汽車(chē)電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading,聽(tīng)他來(lái)講述NI公司在汽車(chē)電子方面的解決之道。
          • 關(guān)鍵字: NI  ECU  汽車(chē)電子  

          LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對(duì)數(shù)字開(kāi)發(fā)的影響

          • 長(zhǎng)期以來(lái)的預(yù)測(cè)趨勢(shì)揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測(cè)試趨于統(tǒng)一,這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢(shì)在于縮短了投入市場(chǎng)的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量,而這些優(yōu)勢(shì)都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測(cè)試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中,從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署,都可以對(duì)這些早期測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行重用。
          • 關(guān)鍵字: NI  LabVIEW  FPGA  

          整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測(cè)量

          • 在下一代無(wú)線(xiàn)局域網(wǎng)白皮書(shū)中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問(wèn)題。眾所周知,測(cè)試工程師都想盡快找到測(cè)試該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備。大多數(shù)測(cè)試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無(wú)法適用于該情況。出現(xiàn)該問(wèn)題的原因十分簡(jiǎn)單:測(cè)試工程師急需各種資源,主要包括時(shí)間、預(yù)算和空間。
          • 關(guān)鍵字: NI  FPGA  WLAN  

          NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍(lán)牙技術(shù)測(cè)試解決方案

          • 全新發(fā)布的針對(duì)802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙(BLE)技術(shù)測(cè)試的NI解決方案集成了NI WLAN測(cè)量套件,基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW,可以幫助搭建高性能、基于軟件設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)。
          • 關(guān)鍵字: NI  FPGA  WLAN  

          NI LabWindows/CVI 2012加速測(cè)試測(cè)量應(yīng)用程序的開(kāi)發(fā)

          • NI LabWindows/CVI 2012,是用于測(cè)試測(cè)量應(yīng)用的ANSI C集成開(kāi)發(fā)環(huán)境(IDE)的一個(gè)重要的升級(jí)更新,它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過(guò)改善-了的工具包,能夠幫助工程師更加快速地開(kāi)發(fā)他們的系統(tǒng)。
          • 關(guān)鍵字: NI  LabWindows/CVI  測(cè)試測(cè)量  

          構(gòu)建新型儀器:軟件定義的儀器

          • 如同每個(gè)孩子所擁有的第一套LEGO玩具改變了他們對(duì)世界的認(rèn)識(shí)一樣,26年前,美國(guó)國(guó)家儀器通過(guò)NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,重新改變了人們對(duì)儀器的認(rèn)知。今年,NI將再次重演歷史,發(fā)布一款新型儀器,幫助測(cè)試工程師擺脫廠商定義儀器的束縛。
          • 關(guān)鍵字: NI  LabVIEW  VST  PXIe-5644R  
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          ni-mydaq介紹

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