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儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)
- 由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月16日在北京萬(wàn)達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題，向近千位來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測(cè)試測(cè)量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)試測(cè)量 嵌入式
從GBIP到PXI--量測(cè)技術(shù)發(fā)展簡(jiǎn)史
- 前言對(duì)于當(dāng)今的電子工業(yè)而言，從組件到系統(tǒng)、設(shè)計(jì)到生產(chǎn)，量測(cè)工作皆是不可或缺的一環(huán)。工廠必須借助量測(cè)獲知...
- 關(guān)鍵字： GBIP PXI 量測(cè)技術(shù)
NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
- 關(guān)鍵字： NI 自動(dòng)化測(cè)試
十五年磨礪 PXI應(yīng)用迎來(lái)黃金時(shí)代
- 基于PCI的PXI標(biāo)準(zhǔn)從1997年被提出以來(lái)，作為挑戰(zhàn)存在已久的VXI出現(xiàn)的新鮮面孔，借助PC平臺(tái)的快速發(fā)展，PXI技術(shù)以驚人的速度在測(cè)試和控制應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。在PXI快速發(fā)展的過(guò)程中，1998年成立的PXI系統(tǒng)聯(lián)盟起了重要的推廣作用，系統(tǒng)聯(lián)盟在1999年就達(dá)到了50家，為PXI的起跑提供了強(qiáng)有力的支撐。
- 關(guān)鍵字： PXI 測(cè)量測(cè)試 201210
LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對(duì)數(shù)字開(kāi)發(fā)的影響
- 長(zhǎng)期以來(lái)的預(yù)測(cè)趨勢(shì)揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測(cè)試趨于統(tǒng)一，這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢(shì)在于縮短了投入市場(chǎng)的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢(shì)都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測(cè)試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程中，從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署，都可以對(duì)這些早期測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行重用。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW FPGA
NI LabWindows/CVI 2012加速測(cè)試測(cè)量應(yīng)用程序的開(kāi)發(fā)
- NI LabWindows/CVI 2012，是用于測(cè)試測(cè)量應(yīng)用的ANSI C集成開(kāi)發(fā)環(huán)境(IDE)的一個(gè)重要的升級(jí)更新，它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過(guò)改善-了的工具包，能夠幫助工程師更加快速地開(kāi)發(fā)他們的系統(tǒng)。
- 關(guān)鍵字： NI LabWindows/CVI 測(cè)試測(cè)量
構(gòu)建新型儀器：軟件定義的儀器
- 如同每個(gè)孩子所擁有的第一套LEGO玩具改變了他們對(duì)世界的認(rèn)識(shí)一樣，26年前，美國(guó)國(guó)家儀器通過(guò)NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，重新改變了人們對(duì)儀器的認(rèn)知。今年，NI將再次重演歷史，發(fā)布一款新型儀器，幫助測(cè)試工程師擺脫廠商定義儀器的束縛。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW VST PXIe-5644R
了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計(jì)射頻儀器的優(yōu)勢(shì)所在
- 概覽 無(wú)線設(shè)備的數(shù)量、通信標(biāo)準(zhǔn)的多樣性，以及調(diào)制方案的復(fù)雜度，每一年都在不斷增加。而隨著每一代新技術(shù)的誕生，由于使用傳統(tǒng)技術(shù)測(cè)試無(wú)線設(shè)備，需要大量更復(fù)雜的測(cè)試設(shè)備，其成本也在不斷提高。 使用虛擬(軟件)儀器與模塊化I/O相結(jié)合是一種最小化硬件成本并減少測(cè)試時(shí)間的方法。軟件設(shè)計(jì)儀器的新方法使得射頻測(cè)試工程師無(wú)需憑借自定義或特殊標(biāo)準(zhǔn)的儀器，就能以多個(gè)數(shù)量級(jí)的幅度減少測(cè)試時(shí)間。
- 關(guān)鍵字： NI 虛擬(軟件)儀器 LabVIEW FPGA vst
NI參加2012年汽車(chē)測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)于2012年9月18日至20日參加在上海光大會(huì)展中心舉辦的2012年汽車(chē)測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)。在此次汽車(chē)測(cè)試與質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)上面，NI聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴集中展示了在汽車(chē)領(lǐng)域多項(xiàng)前端應(yīng)用和解決方案。
- 關(guān)鍵字： NI 汽車(chē)測(cè)試 LabVIEW
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