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          基于NI TestStand 和LabVIEW 開(kāi)發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

          • 行業(yè)趨勢(shì):當(dāng)今市場(chǎng)上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加,所以...
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  自動(dòng)化測(cè)試  NI  TestStand  

          NI自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望:系統(tǒng)軟件棧

          •   軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分,軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起,軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上, 當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中,軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。從許多測(cè)試工程企業(yè)的工程人員的組成比例即可看出這種情況,即雇傭的軟件工程師 比硬件工程師多。為了應(yīng)對(duì)軟件開(kāi)發(fā)成本的上升及產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的縮短,當(dāng)前業(yè)界領(lǐng)先的公司都在強(qiáng)調(diào)設(shè)計(jì)一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件棧,以確保他們?cè)谲浖矫娴耐度肽?夠被延續(xù)下去,提高軟件資源的重用率。事實(shí)上, 2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理
          • 關(guān)鍵字: NI  測(cè)試  

          基于NI TestStand 和LabVIEW開(kāi)發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)

          • 當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加,所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測(cè)試儀器,所以產(chǎn)品的測(cè)試成本過(guò)高,無(wú)法與其較低的制造成本保持一致。
          • 關(guān)鍵字: NI  測(cè)試系統(tǒng)  DUT  

          NI自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)展望2:系統(tǒng)軟件棧

          • 軟件是自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分,軟件第一次被用于控制獨(dú)立的儀器到現(xiàn)在已有40多年。從那時(shí)起,軟件在自動(dòng)化測(cè)試中的作用日益凸顯。事實(shí)上, 當(dāng)前大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)中,軟件開(kāi)發(fā)費(fèi)用通常是硬件成本費(fèi)用的2到10倍以上。
          • 關(guān)鍵字: NI  系統(tǒng)軟件棧  

          基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器ST-Ericsson將半導(dǎo)體測(cè)試速度提升10倍

          • 構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測(cè)試解決方案,滿足半導(dǎo)體芯片測(cè)試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)而升級(jí)整個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室。
          • 關(guān)鍵字: NI  ST-Ericsson  

          使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試

          • 我們使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一個(gè)高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng),我們使用圖像采集(IMAQ)模塊來(lái)完成對(duì)LCD屏幕的檢測(cè),使用數(shù)字I/O模塊生成LCD測(cè)試所需的圖形信號(hào),使用模擬輸出模塊檢測(cè)麥克風(fēng),使用模擬輸入模塊測(cè)試測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘電池,揚(yáng)聲器和屏幕背光燈(對(duì)電流損耗進(jìn)行測(cè)試)。
          • 關(guān)鍵字: NI  LCD  PXI  

          NI發(fā)布全新Single-Board RIO嵌入式設(shè)備

          • 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布4款全新的NI Single-Board RIO板級(jí)嵌入式設(shè)備,配備了實(shí)時(shí)處理器、Spartan-6現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)、模擬和數(shù)字I / O以及更多的內(nèi)置外設(shè),可用于實(shí)現(xiàn)自定制嵌入式控制和監(jiān)控應(yīng)用。
          • 關(guān)鍵字: NI  嵌入式  處理器  

          RF WCDMA基準(zhǔn)比較測(cè)試白皮書

          • 通過(guò)與傳統(tǒng)的儀器進(jìn)行比較,了解軟件定義的PXI RF儀器在速度上的優(yōu)勢(shì)。如WCDMA測(cè)量結(jié)果所示,基于多核處理器并行執(zhí)行的LabVIEW測(cè)量算法與傳統(tǒng)儀器相比可以實(shí)現(xiàn)明顯的速度提升。
          • 關(guān)鍵字: NI  RF  PXI  

          使用LabVIEW和FPGA來(lái)創(chuàng)建一個(gè)自動(dòng)化的微控制器測(cè)試系統(tǒng)

          • 對(duì)于之前的應(yīng)用程序測(cè)試平臺(tái),我們使用公司內(nèi)部開(kāi)發(fā)的控制器板,但該板需要一套單獨(dú)的兼容工具鏈來(lái)下載這些應(yīng)用...
          • 關(guān)鍵字: LabVIEW  自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)  NI  

          NI5665與傳統(tǒng)儀器對(duì)比演示-設(shè)置與細(xì)節(jié)

          • 本文討論了巔峰對(duì)決:NI 5665 與傳統(tǒng)臺(tái)式儀器對(duì)比 這一視頻中所演示的設(shè)置細(xì)節(jié)。在此演示中,比較了NI PXIe-5665與Agilent PXA的測(cè)試性能與速度。視頻并不是關(guān)于兩個(gè)儀器的技術(shù)指標(biāo)對(duì)比,而是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的對(duì)比。
          • 關(guān)鍵字: NI  測(cè)試  5665  

          GPS接收器測(cè)試

          • 從波音 747 客機(jī)的導(dǎo)航操作、汽車駕駛每天都會(huì)使用的 GPS 導(dǎo)航系統(tǒng),到尋寶者要找到深藏于森林某處的寶藏,GPS 技術(shù)已經(jīng)迅速融入于多種應(yīng)用中。
          • 關(guān)鍵字: NI  GPS  

          設(shè)定相位同調(diào)RF量測(cè)系統(tǒng):從MIMO到波束賦形

          • 自從傳送出第一筆無(wú)線電波之后,工程師就持續(xù)發(fā)明新方法,以優(yōu)化電磁微波訊號(hào)。RF 訊號(hào)已廣泛用于多種應(yīng)用,其中又以無(wú)線通信與 RADAR 的 2 項(xiàng)特殊應(yīng)用正利用此常見(jiàn)技術(shù)。就本質(zhì)而言,此 2 項(xiàng)應(yīng)用的獨(dú)到之處,即是利用電磁波的空間維度 (Spatial dimension)。直到今天,許多無(wú)線通信系統(tǒng)整合了多重輸入/輸出 (MIMO) 天線架構(gòu),以利用多重路徑的訊號(hào)傳播 (Propagation) 功能。
          • 關(guān)鍵字: NI  RF  MIMO  

          許多儀器控制總線對(duì)一個(gè)LabVIEW

          • 在過(guò)去的20年中,出現(xiàn)了許多可以用來(lái)控制儀器的通信總線。在整個(gè)過(guò)程中,NI LabVIEW一直是連接并控制儀器的軟件。隨著新型儀器控制總線的出現(xiàn),NI繼續(xù)對(duì)LabVIEW進(jìn)行創(chuàng)新,提供最好的儀器控制體驗(yàn)。使用LabVIEW,就可以完成以下任務(wù):
          • 關(guān)鍵字: NI  LabVIEW  

          決定無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)未來(lái)的三個(gè)趨勢(shì)

          • 本文將說(shuō)明無(wú)線領(lǐng)域的三個(gè)趨勢(shì),這三個(gè)趨勢(shì)不僅影響RF測(cè)試儀器的設(shè)計(jì),還影響工程師使用這些工具的方式。
          • 關(guān)鍵字: NI  虛擬儀器  
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