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采用FPGA的低功耗系統(tǒng)設計
- 結合采用低功耗元件和低功耗設計技術在目前比以往任何時候都更有價值。隨著元件集成更多功能，并越來越小型化，對低功耗的要求持續(xù)增長。當把可編程邏輯器件用于低功耗應用時，限制設計的低功耗非常重要。本文將討論減小動態(tài)和靜態(tài)功耗的各種方法，并且給出一些例子說明如何使功耗最小化。 功耗的三個主要來源是啟動、待機和動態(tài)功耗。器件上電時產(chǎn)生的相關電流即是啟動電流;待機功耗又稱作靜態(tài)功耗，是電源開啟但I/O上沒有開關活動時器件的功耗;動態(tài)功耗是指器件正常工作時的功耗。 啟動電流因器件而異。例如，基于SRAM
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 FPGA 低功耗 I/O
Linear 發(fā)布直接轉換I/Q解調(diào)器
- 凌力爾特公司(Linear)推出新的高線性度直接轉換 I/Q 解調(diào)器 LT5575，該器件極大地降低了 3G 和 WiMAX 基站接收器的成本。LT5575 具有 800MHz 至 2.7GHz 的寬工作頻率范圍，因此用一個器件就覆蓋了所有蜂窩和 3G 基礎設施、WiMAX 和 RFID 系統(tǒng)的頻帶。該器件能夠將射頻信號直接轉換成 DC 或低頻基帶信號，從而簡化了接收器設計、減少了組件數(shù)并允許使用較低成本的低頻組件。LT5575 在 900MHz 時具有卓越的 28dBm IIP3 和 54.1dBm
- 關鍵字： 通訊 無線 網(wǎng)絡 凌力爾特 I/Q 解調(diào)器 模擬IC
R&S為寬帶通信提供新型高檔頻譜分析儀
- 羅德與施瓦茨公司新推出的R&S FSG，是一款兼顧性能和成本的頻譜分析儀，非常符合目前無線通信產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)階段的需求。R&S FSG支持所有的2G和3G移動通信標準以及目前的寬帶技術，如WiMAX。FSG的解調(diào)帶寬可達28MHz，因此可以處理UMTS LTE的測試任務。 FSG具有很高的動態(tài)范圍，頻率范圍可達13.6GHz，具有矢量信號分析功能，這使得R&S FSG成為分析數(shù)字調(diào)制信號的強大工具。 R&S FSG適用于多種應用場合，如實驗室研發(fā)、生產(chǎn)線以及產(chǎn)品認
- 關鍵字： 測試 測量 R&S 寬帶通信 分析儀 分析儀器
R&S推出新款WiMAX測試儀CMW270
- 羅德與施瓦茨公司(R&S)推出第一臺用于WiMAX終端生產(chǎn)的單機解決方案。作為一款新的WiMAX測試儀，羅德與施瓦茨公司的CMW270的測試速度可以高達現(xiàn)存解決方案的十倍。從而確保了WiMAX芯片及終端產(chǎn)線的最大產(chǎn)量。同時，針對測試準確性方面，儀器特別優(yōu)化了測量穩(wěn)定性以及線性，從而獲得極佳的測量可重復性(repeatability)。R&SCMW270集信號發(fā)生器與信號分析儀于一體，前面板上提供了三個經(jīng)精確校準的RF連接器，可以大大降低測試搭建的復雜度，使客戶能節(jié)省生產(chǎn)或維護的成本、時
- 關鍵字： 測試 測量 R&S WiMAX 測試儀 基礎儀器 無線網(wǎng)絡
51單片機I/O口使用經(jīng)驗
- 按常規(guī)，在51端口（P1、P2、P3）某位用作輸入時，必須先向對應的鎖存器寫入1，使FET截止。一般情況是這樣，也有例外。所謂IO口內(nèi)部與電源相連的上拉電阻而非一常規(guī)線性電阻，實質(zhì)上，該電阻是由兩個場效應管并聯(lián)在一起：一個FET為負載管，其阻值固定；另一個FET可工作在導通或截止兩種狀態(tài)（姑且叫可變FET）。使其總電阻值變化近似為0或阻值較大（20千歐--40千歐）兩種情況。當和端口鎖存器相連的FET由導通至截止時，該阻值近似為0，可將引腳快速上拉至高電平；當和鎖存器
- 關鍵字： 單片機 I/O MCU和嵌入式微處理器
fimicro將Ramtron的4Mb F-RAM存儲器用于智能I/O模塊設計中
- F-RAM和集成半導體產(chǎn)品開發(fā)商及供應商 Ramtron International Corporation 宣布位于德國的嵌入式軟件和硬件供應商 fimicro 已在其新型的 active104 系列 PC/104 兼容單板計算機 (SBC) 和智能 I/O 擴展模塊中，采用了 Ramtron 的非易失性 F-RAM 存儲器。fimicro 已在其 active104 SBC、RAID、以太網(wǎng)和 USB 板的設計中使用了 Ramtron 的 FM22L16 4兆位 (Mb) 并行 F-RAM，以取代
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 F-RAM 半導體 I/O模塊 半導體材料
S i／C負極在實際應用中的失效原因分析
- 近幾年來，Si由于具有較高的比容量而成為鋰離子蓄電池負極材料的研究熱點。但是，硅在反復充放電過程中經(jīng)歷很大的體積變化，很快發(fā)生明顯容量衰減。雖然許多研究機構以及材料廠商通過表面改性、摻雜以及復合等方法，對材料進行了優(yōu)化，取得了一定的效果，但仍然不是十分理想，在實際應用中還存在著許多的問題，因此還沒有得到廣泛的實際應用。我們將一種Si/C負極材料應用于14500圓柱形電池體系中，對它與碳負極電池的基本性能進行了對比，并對該種Si/C負極材料在實際應用中存在的問題以及失效原因進行了分析。 1實驗
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 S i／C MCU和嵌入式微處理器
基于單片機控制的數(shù)字氣壓計設計與實現(xiàn)
- 摘要：介紹了一種精密數(shù)字氣壓計的軟硬件實現(xiàn)方法。該方法通過氣壓傳感器獲得與大氣壓相對應的模擬電壓值，并經(jīng)過V／F變換輸入到單片機進行處理，從而實時顯示相應的氣壓值。用本文所述的方法制成的氣壓計攜帶方便，操作簡單，精確度高，完全符合設計要求。 關鍵詞：氣壓計；氣壓傳感器；V／F轉換器； 單片機 １ 引言 氣壓計是利用壓敏元件將待測氣壓直接變換為容易檢測、傳輸?shù)碾娏骰螂妷盒盘?，然后再?jīng)過后續(xù)電路處理并進行實時顯示的一種設備。其中的核心元件就是氣壓傳感器，它在監(jiān)視壓力大小、控制壓力變化以及物
- 關鍵字： 氣壓計 氣壓傳感器 V／F轉換器 單片機 MCU和嵌入式微處理器
用開放測試平臺R&S CompactTSVP快速實現(xiàn)數(shù)字功能性測試
- 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進行大量數(shù)據(jù)運算的領域，快速數(shù)字功能性測試也可以實現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實測值都可以存儲在本地。由于模塊內(nèi)部能實時對比實測值與期望值，記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測試時間。 R&S TS PHDT，這個小
- 關鍵字： 嵌入式系統(tǒng) 單片機 R&S CompactTSVP PXI 嵌入式
R&S發(fā)布用于復雜電子電路測試的嶄新測試模塊 TS-PHDT
- 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進行大量數(shù)據(jù)運算的領域，快速數(shù)字功能性測試也可以實現(xiàn)。全新的高速數(shù)字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達40MHz的數(shù)據(jù)速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實測值都可以存儲在本地。由于模塊內(nèi)部能實時對比實測值與期望值，記錄的測試數(shù)據(jù)不再需要傳送到系統(tǒng)控制器，因此節(jié)約了大量的測試時間。 R&S TS PHDT，這個小
- 關鍵字： 汽車電子 R&S 測試 測量 TS-PHDT 汽車電子
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