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基于RS-485總線的可擴(kuò)展局域網(wǎng)絡(luò)的研究
- RS-485總線通信模式由于具有結(jié)構(gòu)簡單、價格低廉、使用方便、通信距離和數(shù)據(jù)傳輸速率適當(dāng)及可靠性較高等特點(diǎn)而被廣泛應(yīng)用于儀器儀表、智能化傳感器集散控制、智能化大樓、監(jiān)控報警、鐵路通信和電力數(shù)據(jù)采集等領(lǐng)域。本文將對RS-485總線模式下組成的可擴(kuò)展局域網(wǎng)絡(luò)作一探討。
- 關(guān)鍵字： 局域網(wǎng)絡(luò) 研究 擴(kuò)展 總線 RS-485 基于 轉(zhuǎn)換器
C++編程語言在嵌入式應(yīng)用中的安全問題
- 關(guān)鍵字： 嵌入式系統(tǒng) C++ MISRA
基于LPC2292和μC/OS-II的無線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計
- 選用LPC2292作為控制器，以μC/OS-II構(gòu)建軟件平臺，采用GPRS作為無線通信手段，并用溫濕度傳感器構(gòu)成采集單元采集環(huán)境溫濕度信息，通過GPRS和控制中心交互，設(shè)計了一種無線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的軟硬件實現(xiàn)方法。該系統(tǒng)以模塊化完成，其實現(xiàn)方法具有一定的通用性。
- 關(guān)鍵字： 系統(tǒng) 設(shè)計 數(shù)據(jù)采集 無線 LPC2292 C/OS-II 基于 轉(zhuǎn)換器
安捷倫宣布RSC為亞洲地區(qū)測試測量產(chǎn)品的授權(quán)分銷商
- 安捷倫科技今天宣布授權(quán)電子、機(jī)電和工業(yè)產(chǎn)品領(lǐng)先分銷商 RS Components 為公司亞洲地區(qū)測試與測量產(chǎn)品的分銷商。 選擇RS Components，就使客戶能接觸 Agilent 市場領(lǐng)先的眾多測試和測量產(chǎn)品，包括數(shù)字萬用表、示波器和臺式電源。這些產(chǎn)品系列精確、功能性強(qiáng)和易于使用，為客戶帶來 Agilent 產(chǎn)品的價值。這次宣布擴(kuò)充了兩公司間現(xiàn)有的全球協(xié)議，為該地區(qū)市場日益增長的需求提供安捷倫測試設(shè)備產(chǎn)品和支持。 RS Components亞太地區(qū)總經(jīng)理Richard Huxley說
- 關(guān)鍵字： RS-Components 數(shù)字萬用表 示波器 臺式電源
基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實時操作系統(tǒng)的低功耗開發(fā)
- 基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實時操作系統(tǒng)的低功耗開發(fā), 隨著嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用的日益廣泛，如何實現(xiàn)嵌入式系統(tǒng)的低功耗開發(fā)已經(jīng)成為嵌入式應(yīng)用發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)之一，是近幾年來人們在嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn)。嵌入式系統(tǒng)正被廣泛應(yīng)用于移動性較強(qiáng)的產(chǎn)品中去
- 關(guān)鍵字： 操作系統(tǒng) 實時 C/OS-II 嵌入式 低功耗
基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測試系統(tǒng)
- 基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測試系統(tǒng), 1 引言 Modbus 協(xié)議最初由Modicon 公司開發(fā)出來，1979 年末該公司成為施耐德自動化 （Schneider Automation）部門的一部分?，F(xiàn)在Modbus 協(xié)議已經(jīng)是工業(yè)領(lǐng)域全球最流行的協(xié) 議。Modbus 協(xié)議為應(yīng)用層報文傳輸協(xié)議
- 關(guān)鍵字： 測試系統(tǒng) 協(xié)議 Modbus C/OS-II 基于
RS-485多機(jī)通信的組網(wǎng)方式
- 本文介紹了以波仕轉(zhuǎn)換器為代表的幾種RS-485多機(jī)通信的組網(wǎng)方式：總線式、菊花鏈?zhǔn)?、星形、單環(huán)冗余型。用戶可以根據(jù)現(xiàn)場的串口設(shè)備的位置分布或者可靠性要求來選擇。通信軟件都是一樣的，與普通的RS-485總線多機(jī)通信一樣。
- 關(guān)鍵字： 方式 組網(wǎng) 通信 RS-485 轉(zhuǎn)換器
半導(dǎo)體C-V測量基礎(chǔ)
- 通用測試 電容-電壓(C-V)測試廣泛用于測量半導(dǎo)體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析，包括雙極結(jié)型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導(dǎo)體器件。 這類測量的基本特征非常適用于各種應(yīng)用和培訓(xùn)。大學(xué)的研究實驗室和半導(dǎo)體廠商利用這類測量評測新材料、新工藝、新器件和新電路。C-V測量對于產(chǎn)品和良率增強(qiáng)工程師也是極其重要的，
- 關(guān)鍵字： 吉時利 C-V測試 半導(dǎo)體 MOSFET MOSCAP
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