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利用APTIX MP3C和Spartan-IIE FPGA實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)系統(tǒng)的
- 隨著數(shù)字電路設(shè)計的規(guī)模及復(fù)雜程度的提高,對其進(jìn)行測試試驗(yàn)證所花費(fèi)的時間和費(fèi)用也隨之提高,所以減少測試驗(yàn)證成本是當(dāng)前數(shù)字電路設(shè)計的關(guān)鍵。
- 關(guān)鍵字: Spartan-IIE APTIX MP3C FPGA
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