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stm32移植ucos-i
stm32移植ucos-i 文章 進(jìn)入stm32移植ucos-i技術(shù)社區(qū)
Google公布五月I/O 2018大會(huì)日程
- 2 月最后一天,Google 終于公布了 I/O 2018 的日程安排。本次開(kāi)發(fā)者大會(huì)的舉辦日期為 5 月 7 ~ 10 號(hào)(周一 ~ 周四),但是第一天的安排似乎被各種徽章的收集給填滿(mǎn)了。首日會(huì)議涉及 Google Play、Android 即時(shí)應(yīng)用、Android KTX,“Android Kotlin 開(kāi)發(fā)和入門(mén)”,以及 Android、Android apps for Chrome OS、Android Wear 的最新進(jìn)展。 兩場(chǎng)主題
- 關(guān)鍵字: Google I/O
一文讀懂Linux下如何訪(fǎng)問(wèn)I/O端口和I/O內(nèi)存
- 一、I/O端口 端口(port)是接口電路中能被CPU直接訪(fǎng)問(wèn)的寄存器的地址。幾乎每一種外設(shè)都是通過(guò)讀寫(xiě)設(shè)備上的寄存器來(lái)進(jìn)行的。CPU通過(guò)這些地址即端口向接口電路中的寄存器發(fā)送命令,讀取狀態(tài)和傳送數(shù)據(jù)。外設(shè)寄存器也稱(chēng)為“I/O端口”,通常包括:控制寄存器、狀態(tài)寄存器和數(shù)據(jù)寄存器三大類(lèi),而且一個(gè)外設(shè)的寄存器通常被連續(xù)地編址?! 《?、IO內(nèi)存 例如,在PC上可以插上一塊圖形卡,有2MB的存儲(chǔ)空間,甚至可能還帶有ROM,其中裝有可執(zhí)行代碼?! ?nbsp; 三、IO端口和I
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【E問(wèn)E答】單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)應(yīng)該考慮哪些問(wèn)題?
- (1)存儲(chǔ)器擴(kuò)展:容量需求,在選擇時(shí)就考慮到單片機(jī)的內(nèi)部存儲(chǔ)器資源,如能滿(mǎn)足要求就不需要進(jìn)行擴(kuò)展,在必須擴(kuò)展時(shí)注意存儲(chǔ)器的類(lèi)型、容量和接口,一般盡量留有余地,并且盡可能減少芯片的數(shù)量。選擇合適的方法、ROM和RAM的形式,RAM是否要進(jìn)行掉電保護(hù)等?! ?2)I/O接口的擴(kuò)展:?jiǎn)纹瑱C(jī)應(yīng)用系統(tǒng)在擴(kuò)展I/O接口時(shí)應(yīng)從體積、價(jià)格、負(fù)載能力、功能等幾個(gè)方面考慮。應(yīng)根據(jù)外部需要擴(kuò)展電路的數(shù)量和所選單片機(jī)的內(nèi)部資源(空閑地址線(xiàn)的數(shù)量)選擇合適的地址譯碼方法?! ?3)輸入通道的設(shè)計(jì):輸入通道設(shè)計(jì)包括開(kāi)關(guān)量和模擬輸
- 關(guān)鍵字: 單片機(jī) I/O
Molex推出通過(guò)ODVA 完整合規(guī)測(cè)試認(rèn)證 M8 級(jí)別全連通性 IP67 DeviceNet I/O 模塊
- Molex推出通過(guò)ODVA 完整合規(guī)測(cè)試認(rèn)證 M8 級(jí)別全連通性 IP67 DeviceNet I/O 模塊-Molex推出市場(chǎng)上第一種Brad DeviceNet HarshIO M8 模塊,該模塊通過(guò) ODVA 的完整合規(guī)測(cè)試并獲得認(rèn)證,針對(duì)電源、I/O 和 DeviceNet 現(xiàn)場(chǎng)總線(xiàn)提供 M8 級(jí)別的全連通性,是一種 IP67 等級(jí)的、獨(dú)一無(wú)二的小形狀系數(shù)解決方案,可實(shí)現(xiàn)高密度的機(jī)器上 I/O 連接,適合數(shù)控機(jī)床和機(jī)器人,以及材料加工和裝瓶設(shè)備應(yīng)用。
- 關(guān)鍵字: molex ip67 i/o
電路設(shè)計(jì)中的八大誤區(qū)
- 電路設(shè)計(jì)中的八大誤區(qū):一這板子的PCB設(shè)計(jì)要求不高,就用細(xì)一點(diǎn)的線(xiàn),自動(dòng)布吧;二,這些總線(xiàn)信號(hào)都用電阻拉一下,感覺(jué)放心些;三,CPU和FPGA的這些不用的I/O口怎么處理呢?先讓它空著吧,以后再說(shuō);四,這款FPGA還剩這么多門(mén)用不完,可盡情發(fā)揮吧;五,這些小芯片的功耗都很低,不用考慮……
- 關(guān)鍵字: 電路設(shè)計(jì) PCB 自動(dòng)布線(xiàn) I/O口 FPGA
單片機(jī)的鍵盤(pán)接口
- 在開(kāi)發(fā)單片機(jī)的應(yīng)用系統(tǒng)中,鍵盤(pán)接口是最常用的人機(jī)接口。鍵盤(pán)按照是否進(jìn)行硬件編碼可分為編碼鍵盤(pán)與非編碼鍵盤(pán),PC機(jī)上的鍵盤(pán)是典型的編碼鍵盤(pán),而單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中的鍵盤(pán)一般采用非編碼鍵盤(pán)便可滿(mǎn)足需要。
- 關(guān)鍵字: 鍵盤(pán)接口 I/O引線(xiàn) 單片機(jī)
MAX II 器件的I/O擴(kuò)展
- 為了能夠有效地?cái)U(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的通用I/O功能,許多系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)都必須大量采用低成本I/O引腳。MAX? II 器件靈活的低成本I/O是目前I/O引腳受限ASSP和微控制器的完美補(bǔ)充。
- 關(guān)鍵字: MAXII I/O擴(kuò)展
基于ARM和CPLD的橫機(jī)機(jī)頭電路測(cè)試系統(tǒng)
- 為解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)信號(hào)的測(cè)試可靠性問(wèn)題,基于低成本、高效率的考慮,研究設(shè)計(jì)了機(jī)頭控制系統(tǒng)電路板的批量測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用TI公司的LM 3S5R31芯片作為系統(tǒng)的核心部分,通過(guò)CPLD進(jìn)行I/O擴(kuò)展及輔助控制,使得系統(tǒng)功能靈活強(qiáng)大。將同一信號(hào)通路中的前后級(jí)元件信號(hào)進(jìn)行編碼,向待測(cè)板發(fā)送握手信號(hào)并使之發(fā)送反饋信號(hào),該系統(tǒng)將反饋信號(hào)進(jìn)行采樣并在程序中比較計(jì)算,制作了實(shí)物并進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)。
- 關(guān)鍵字: 故障測(cè)試 I/O擴(kuò)展 CPLD
蘋(píng)果造車(chē)項(xiàng)目終被證實(shí) i-car何時(shí)會(huì)到來(lái)?
- 該來(lái)的事情始終會(huì)來(lái)。盡管很多人不愿意相信,然而蘋(píng)果造車(chē)的事情還是被證實(shí)了。美國(guó)加州機(jī)動(dòng)車(chē)管理部門(mén)把第30張無(wú)人駕駛測(cè)試牌照頒發(fā)給了蘋(píng)果,證實(shí)了蘋(píng)果造車(chē)這個(gè)所謂的“傳聞”。時(shí)間節(jié)點(diǎn)選得很好美國(guó)股市剛好進(jìn)入了休市狀態(tài),投資圈有兩天時(shí)間對(duì)這個(gè)消息進(jìn)行消化。 這個(gè)消息意味著,以后美國(guó)硅谷的朋友們,將會(huì)看到蘋(píng)果公司的無(wú)人駕駛汽車(chē)在測(cè)試。Of course,你們看到的車(chē)子一定不是未來(lái)的i-car。然而蘋(píng)果一定會(huì)有i-car,這一點(diǎn)小編認(rèn)為不需要在這里浪費(fèi)太多時(shí)間。
- 關(guān)鍵字: 蘋(píng)果 i-car
一種新型的寬帶方向圖可重構(gòu)天線(xiàn)
- 本文介紹了一款新穎的PRA(Pattern Reconfigurable Antenna)。天線(xiàn)輻射單元主要由三部分組成:包括矩形驅(qū)動(dòng)貼片,兩個(gè)對(duì)稱(chēng)的開(kāi)了CRS(Cross Ring Slot)的半圓形寄生單元以及地平面。兩組p-i-n二極管分別放置在十字形環(huán)縫隙上,通過(guò)這兩組p-i-n二極管電開(kāi)關(guān)將它們連接起來(lái),從而可以實(shí)現(xiàn)輻射方向圖可調(diào)。仿真結(jié)果表明,天線(xiàn)在4.29GHz~4.87GHz頻率范圍內(nèi)S11<-10dB,阻抗帶寬大于500MHz,具備良好的寬帶特性。并且具有三種輻射方向圖,可以通過(guò)p-i-
- 關(guān)鍵字: CRS 方向圖可調(diào) 寬帶 p-i-n二極管 201701
I-V測(cè)量技術(shù)的發(fā)展
- 與直流電流-電壓(I-V)和電容-電壓(C-V)測(cè)量一樣,超快I-V測(cè)量[1]能力對(duì)于特征分析實(shí)驗(yàn)室中所有負(fù)責(zé)開(kāi)發(fā)新材料、器件[2]或工藝的所有技
- 關(guān)鍵字: I-V測(cè)量技
stm32移植ucos-i介紹
您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條stm32移植ucos-i!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)stm32移植ucos-i的理解,并與今后在此搜索stm32移植ucos-i的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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