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	tessent in-system test
          

          
	
          
    	
          
    	  	
          
              	
                                
          
                  

                                
          
                    
          On-card power system design
          
                                                            
            
                    	
          • It''s no secret that on-card power systems are rapidly increasing in complexity.  Leading edge ICs are demanding lower and lower voltages and multiple voltage rails that must be applied in the correct sequence.  At the same time, the current the
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        power  system  嵌入式                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                
          
                    
          Choosing a power system for portables
          
                                                            
            
                    	
          • Manufacturers of portable devices quickly discover that it is difficult to equip a portable device with the right battery pack. The selection of a battery cell will have a major impact on the functionality, size, cost, and success of a portable device. De
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        power  protables  system                          
            • 
                   	
          
                    
          
                
          
                                
          
                    
          科利登獲《測試與測量世界》Best in Test Award
          
                                                            
            
                    	
          • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測試與測量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測試獎(jiǎng)）獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        Award  Best  in  Test  測試與測量世界  科利登  測試測量                          
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          tessent in-system test介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條tessent in-system test!
           
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)tessent in-system test的理解，并與今后在此搜索tessent in-system test的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
          
    		
          
  		
          
  		  		  		
  		  		  		
  		  		  		
  		  		        		  		
          
    		
          
      			
          
        			
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