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EPA通信協(xié)議在μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- EPA通信協(xié)議在μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)中的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),本文提出了一種基于μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)的EPA通信協(xié)議的實(shí)現(xiàn)方案。簡要介紹了EPA通信協(xié)議和模型，針對(duì)在以μC/OS-II嵌入式系統(tǒng)為平臺(tái)實(shí)現(xiàn)EPA設(shè)備通信的需求，提出了設(shè)計(jì)思路及其構(gòu)建方法，并在實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)上得到應(yīng)用。
- 關(guān)鍵字： 系統(tǒng) 設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn) 嵌入式 C/OS-II 通信 協(xié)議 EPA 通信協(xié)議
μC/OS-II在壓力測(cè)控系統(tǒng)中的應(yīng)用
- μC/OS-II在壓力測(cè)控系統(tǒng)中的應(yīng)用,本文將嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng) µC/OS-II應(yīng)用到壓力測(cè)控裝置進(jìn)行工業(yè)控制，詳細(xì)敘述了將將嵌入式操作系統(tǒng)嵌入到 SOC構(gòu)架的單片機(jī) C8051F041上的方法，并在該基礎(chǔ)上，結(jié)合 PID控制算法，加入了比例控制算法，提高了系統(tǒng)的快速響應(yīng)，提高了系統(tǒng)軟件的可靠性和實(shí)時(shí)控制性能。
- 關(guān)鍵字： 應(yīng)用 系統(tǒng) 壓力 C/OS-II
C++編程語言在嵌入式應(yīng)用中的安全問題
- 關(guān)鍵字： 嵌入式系統(tǒng) C++ MISRA
基于LPC2292和μC/OS-II的無線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 選用LPC2292作為控制器，以μC/OS-II構(gòu)建軟件平臺(tái)，采用GPRS作為無線通信手段，并用溫濕度傳感器構(gòu)成采集單元采集環(huán)境溫濕度信息，通過GPRS和控制中心交互，設(shè)計(jì)了一種無線數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的軟硬件實(shí)現(xiàn)方法。該系統(tǒng)以模塊化完成，其實(shí)現(xiàn)方法具有一定的通用性。
- 關(guān)鍵字： 系統(tǒng) 設(shè)計(jì) 數(shù)據(jù)采集 無線 LPC2292 C/OS-II 基于 轉(zhuǎn)換器
基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的低功耗開發(fā)
- 基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的低功耗開發(fā), 隨著嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用的日益廣泛，如何實(shí)現(xiàn)嵌入式系統(tǒng)的低功耗開發(fā)已經(jīng)成為嵌入式應(yīng)用發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)之一，是近幾年來人們?cè)谇度胧较到y(tǒng)的設(shè)計(jì)中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn)。嵌入式系統(tǒng)正被廣泛應(yīng)用于移動(dòng)性較強(qiáng)的產(chǎn)品中去
- 關(guān)鍵字： 操作系統(tǒng) 實(shí)時(shí) C/OS-II 嵌入式 低功耗
基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測(cè)試系統(tǒng)
- 基于μC/OS-II的Modbus協(xié)議測(cè)試系統(tǒng), 1 引言 Modbus 協(xié)議最初由Modicon 公司開發(fā)出來，1979 年末該公司成為施耐德自動(dòng)化 （Schneider Automation）部門的一部分?，F(xiàn)在Modbus 協(xié)議已經(jīng)是工業(yè)領(lǐng)域全球最流行的協(xié) 議。Modbus 協(xié)議為應(yīng)用層報(bào)文傳輸協(xié)議
- 關(guān)鍵字： 測(cè)試系統(tǒng) 協(xié)議 Modbus C/OS-II 基于
半導(dǎo)體C-V測(cè)量基礎(chǔ)
- 通用測(cè)試 電容-電壓(C-V)測(cè)試廣泛用于測(cè)量半導(dǎo)體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測(cè)量還可以對(duì)其他類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析，包括雙極結(jié)型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導(dǎo)體器件。 這類測(cè)量的基本特征非常適用于各種應(yīng)用和培訓(xùn)。大學(xué)的研究實(shí)驗(yàn)室和半導(dǎo)體廠商利用這類測(cè)量評(píng)測(cè)新材料、新工藝、新器件和新電路。C-V測(cè)量對(duì)于產(chǎn)品和良率增強(qiáng)工程師也是極其重要的，
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 C-V測(cè)試 半導(dǎo)體 MOSFET MOSCAP
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