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          亞微米CMOS電路中VDD-VSSESD保護結構設計(二)

          • 3 仿真分析及具體設計結果3.1 仿真分析在亞微米的ESD結構的設計中,一種常見的具體的ESD瞬態(tài)檢測電壓如圖2 VDD-VSS間的電壓鉗位結構。其原理如下:主要利用結構中的RC延遲作用,一般T=RC被設計為100ns-1000ns之間,而
          • 關鍵字: VDD-VSSESD  CMOS  亞微米  電路    

          亞微米CMOS電路中VDD-VSSESD保護結構設計

          • 1 引言ESD(Electric Static Discharge)保護結構的有效設計是CMOS集成電路可靠性設計的重要任務之一,其ESD結構與工藝技術、特征尺寸密切相關,隨著IC工藝技術的進一步發(fā)展,特征尺寸越來越小,管子的柵氧層厚度越來越
          • 關鍵字: VDD-VSSESD  CMOS  亞微米  電路    

          超聲波電子導盲電路

          • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡家園
          • 關鍵字: RC振蕩器  VDD  GND  

          鋰離子電池智能充電器硬件的設計(圖)

          AB類功率放大器驅動電路的研究與設計

          •   1 AB類功放驅動電路設計目標   在實用電路中,往往要求放大電路的末級(即輸出級)輸出一定的功率,以驅動負載。能夠向負載提供足夠信號功率的放大電路稱為功率放大電路,簡稱功放。經(jīng)典功率放大器有4種類型:A類,AB類,B類和C類,他們的主要差別在于偏置的情況不同。理想的4類經(jīng)典放大器的最大效率的理論值與導通角的函數(shù)關系如圖1所示。   A類功率放
          • 關鍵字: AB類功放驅動電路  NMOS  VDD  隔直電容  
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