<meter id="pryje"><nav id="pryje"><delect id="pryje"></delect></nav></meter>
          <label id="pryje"></label>

          首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 清洗不良

          功率半導體晶元浪涌擊穿的分析與研究

          • 整流橋擊穿短路失效,故障表現(xiàn)為橋堆內部二極管晶元浪涌擊穿。本文從整流橋失效機理、器件結構、生產過程可靠性等方面分析,通過采用X-ray、超景深微鏡、QT2等設備對器件進行全面分析論斷。通過研究分析發(fā)現(xiàn),此故障為晶元焊接后清洗不良所致,焊接過后晶元周圍多余焊料未清洗干凈,導致晶元耐電壓能力下降。整改從清洗環(huán)節(jié)入手,通過更改清洗溶液比重,以及建立報警和可追溯機制,杜絕此故障發(fā)生。
          • 關鍵字: 晶元  錫渣  清洗不良  浪涌擊穿  比重  202109  
          共1條 1/1 1

          清洗不良介紹

          您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條清洗不良!
          歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對清洗不良的理解,并與今后在此搜索清洗不良的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

          熱門主題

          樹莓派    linux   
          關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
          Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
          《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
          備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網安備11010802012473
          看屁屁www成人影院,亚洲人妻成人图片,亚洲精品成人午夜在线,日韩在线 欧美成人 (function(){ var bp = document.createElement('script'); var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0]; if (curProtocol === 'https') { bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js'; } else { bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js'; } var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(bp, s); })();