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硅碎文章進入硅碎技術(shù)社區(qū)

半導體三極管的失效分析與可靠性研究

三極管在電路中主要起放大和開關(guān)作用，產(chǎn)品在實際應用中失效多單，經(jīng)分析主要故障為短路與開路失效。通過X光、CT掃描、開封等方法分析研究，發(fā)現(xiàn)此故障為焊接不良、塌絲導致。對全流程包含設備的生產(chǎn)環(huán)節(jié)進行整改，并通過優(yōu)化檢測方法、增加顯微鏡檢查以及X光全檢等檢測設備，提高產(chǎn)品可靠性。
關(guān)鍵字：虛焊硅碎塌絲顯微鏡 X光透視測試方法 202201

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