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精密ADC中的偏置和增益校準(zhǔn)功能：自校準(zhǔn)

了解模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）中的自校準(zhǔn)或內(nèi)部校準(zhǔn)功能。在本系列之前，我們討論了兩點(diǎn)校準(zhǔn)可用于消除ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）的偏移和增益誤差。根據(jù)所使用的硬件，可以使用定點(diǎn)或浮點(diǎn)方法來實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)方程式。替代方法是使用包括集成校準(zhǔn)函數(shù)的ADC，因?yàn)樵诰_ADC中可能找到不同類型的校準(zhǔn)函數(shù)，即：自我校準(zhǔn)系統(tǒng)校準(zhǔn)背景校準(zhǔn)在本文中，我們將探討自校準(zhǔn)功能。ADC校準(zhǔn)選項(xiàng)一些ADC支持校準(zhǔn)模式，這可以簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)并幫助我們從系統(tǒng)處理器中節(jié)約一些中央處理單元（CPU）周期。在這種情況下，您只需要調(diào)整ADC設(shè)置，發(fā)送適當(dāng)?shù)男?zhǔn)命令，然后等
關(guān)鍵字：精密ADC，偏置，增益校準(zhǔn)功能，自校準(zhǔn)

為增進(jìn)工業(yè)、醫(yī)學(xué)和儀器系統(tǒng)性能 ADI公司提高精密ADC的性能水平 ——新的ADC能夠提高儀器設(shè)備的速度和精度，同時(shí)降低了系統(tǒng)功耗和尺寸。美國(guó)模擬器件公司在2006年慕尼黑國(guó)際電子展(Electronica 2006)A4展館159號(hào)展位展出三款模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）使精密ADC的性能達(dá)到嶄新水平。這些新的ADC適合于工業(yè)、醫(yī)學(xué)和儀器設(shè)備等需要速度、精度、低功耗、集成度和小尺寸對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和性能至關(guān)重要的應(yīng)用。許多精密應(yīng)用的設(shè)計(jì)工程師，例如醫(yī)學(xué)圖像處理設(shè)備、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和振動(dòng)分析設(shè)備，都需要用于成
關(guān)鍵字： ADI 電源技術(shù) 精密ADC 模擬技術(shù)

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