DFT
DFT 隨著電子電路集成度的提高,電路愈加復(fù)雜,要完成一個電路的測試所需要的人力和時間也變得非常巨大。為了節(jié)省測試時間,除了采用先進的測試方法外,另外一個方法就是提高設(shè)計本身的可測試性。其中,可測試性包括兩個方...... [查看詳細]