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	 > EDA/PCB > 新品快遞 > 奧林巴斯推出可觀察IC圖案顯微鏡
          
    
          

          

          


	
	
	

          
	
          
		
          
			
          奧林巴斯推出可觀察IC圖案顯微鏡
          
						
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				作者：
				時(shí)間：2005-12-01
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			　奧林巴斯將于2006年1月5日推出共焦掃描紅外激光顯微鏡（Confocal Laser Scanning Microscope）“LEXT OLS3000-IR”，能夠?qū)CB（Flip Chip Bonding，倒裝焊接）后的IC芯片圖案及其背面，以及MEMS內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)觀察。同時(shí)還可用作SiP（系統(tǒng)級(jí)封裝）技術(shù)的無(wú)損檢測(cè)工具。含稅價(jià)為1207萬(wàn)5000日元。  

          　　利用老式紅外顯微鏡對(duì)IC芯片的背面等進(jìn)行觀察時(shí)，根據(jù)芯片背面的研磨狀態(tài)，外部可見(jiàn)光會(huì)因芯片表面而發(fā)生散射，因而不易進(jìn)行觀察。而LEXT OLS3000-IR由于使用了共焦掃描光學(xué)系統(tǒng)，因此能夠清楚地觀察到芯片背面聚焦的位置。平面顯示分辨率為1024          
				
            
                
			
							
          
                
			              
              
            
          
		
          
		
          
		
          
		
          
		
          
			
            
				
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          關(guān)鍵詞：
            			            奧林巴斯
                        
            
          
            
			
          
		
          	
		

	

          
	
	
          
		
          
			
          評(píng)論
          					
		
          
		
          
			
          
			
				
          
					
					
          
						
                        
					
          
				
          
                		
						
						
			
          
		
          
		
          
		
          
            
			
            
		
          
	
          
	
          
	
          
		
		

          


	
          
	
          
		
		
	
          


    
          
        
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