2008年12月8日,中芯宣布首批45納米產(chǎn)品通過良率測(cè)試 作者: 時(shí)間:2009-12-04 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢 收藏 2008年12月8日,中芯國(guó)際集成電路制造有限公司宣布其第一批45納米產(chǎn)品已成功通過良率測(cè)試,此時(shí)距2007年12月該公司與IBM簽訂45納米低功耗和高性能bulkCMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)技術(shù)許可協(xié)議不到1年時(shí)間。
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