Multitest推出信號及電源完整性術(shù)語表
面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測試分選機(jī)、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前發(fā)布信號及電源完整性術(shù)語表。由Multitest的信號完整性工程師Ryan Satrom編制的新術(shù)語表解釋了與電源完整性相關(guān)的主要術(shù)語和概念。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/135442.htm
電源完整性是關(guān)于通過盡量降低電源配送網(wǎng)絡(luò)(PDN)的噪音來向DUT提干凈的電源電壓學(xué)術(shù)。正在迅速成為測試接口設(shè)計(jì)中的最大挑戰(zhàn)之一。
電源完整性的影響預(yù)計(jì)在未來幾年將不斷提高。對于測試業(yè)界來說,了解到測試接口所帶來的電源完整性挑戰(zhàn)的相關(guān)問題,并且提高其能力來應(yīng)對這些挑戰(zhàn)正在變得日益重要。
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