通過增益校準提高DAC積分非線性(INL)
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圖3:帶ADC反饋的IDAC
INL通常在滿量程的一半達到其最大值,如圖 4所示。如果我們能把這個峰值降下來,我們將會顯著改善INL。這個發(fā)現(xiàn)引導我們使用兩點校正代替終端或單點校正技術,因為通過終端或單點校正技術并不足以完全去除增益誤差。第一個校準點用來校準前半部分(見方程1)。同樣,第二個校準點用于校準后半部分(見方程2)。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/135954.htm![](http://editerupload.eepw.com.cn/201208/4c8b8859ac2448d3336cea147c08bef3.jpg)
該算法工作流程如下,見圖5。最初,這兩個增益修正值在DAC數(shù)字輸入值中間和末端計算和保存。這是唯一一次使用ADC。因此,我們只有需要測量和計算校準一次。
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圖5:兩點增益校準算法流程圖
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