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          20nm和3D IC將是積極的產業(yè)

          作者: 時間:2012-09-17 來源:SEMI 收藏

            過去一年中,Mentor公司實現(xiàn)了10億美元的營業(yè)額。并在設計、IC、DFM(可制造設計)、DFT(可測試設計)、SoC驗證方面都有很大進展。在北京的MentorForum期間,筆者就目前設計業(yè)的一些困惑,詢問了Mentor的掌舵人。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/136884.htm

            問:隨著工藝的演進,每家foundry(代工廠)能支持的設計公司越來越少。例如65nm時,一家代工廠大概可以同時支持60~80個設計。40nm時40~50個,28nm時20~30個,時可能12~16個,因為太復雜,代工廠沒有精力了。目前公開說在要去建廠的廠商一共四家:Intel、IBM、三星、TSMC。那么,這對IC設計業(yè)會帶來哪些影響?

            答:每一個新的工藝,都有一個慢慢被接受并提升的過程。到了28/20nm,F(xiàn)oundry在設備的投入確實相當?shù)拇?。不過我們認為,隨著這些資本投入逐漸變?yōu)楫a能后,我們相信會有更多的客戶會樂意進入這些先進的工藝,因為成本更加的低廉。除了上述的幾家,我們相信UMC(聯(lián)電)及SMIC(中芯國際)都會很快進入20nm的行列。

            另外,任何新的先進半導體制程都是由大批量設計驅動的,像FPGA、無線基帶芯片和圖形芯片等。由于工藝成熟,代工廠的資源可支持更多的客戶,使更多的公司開始做先進技術節(jié)點的設計。

            28和20nm能夠提供獨特的差異化。由于代工廠的投資是前代的二三倍,因此接下來的兩年會有豐富的晶圓片出現(xiàn)。這些大容量、低成本的晶圓片將鼓勵更多企業(yè)設計芯片。此外,大批量將導致非常有吸引力的晶片成本,這將使IC設計公司有動力開發(fā)較低成本的28nm和20nm芯片。因此,20nm將是非常積極的產業(yè)。

            問:20nm時代的經(jīng)濟性如何?有人分析過[注1],從0.13微米往90nm走的時候,大概我們還從面積上獲得33.6%的降低,從90nm到65nm,還有20.6%,65到45有18%,45到32有10.1%,32到22nm時候,只有3.3%了。估計從22納米再往下走,成本下降的空間非常有限。摩爾定律還會繼續(xù)走下去嗎?

            答:摩爾定律是一種“學習曲線”:每18個月芯片成本減少約50%,芯片內晶體管的數(shù)量每18個月翻番。我們認為這種“學習曲線”應能繼續(xù)。但20nm以后,晶體管的線性尺寸縮減或許將有減緩,不過卻可以通過其他的方式維持這一學習曲線的速率。例如FinFET以及IC,就是透過三維立體的晶體管形式,或者多芯片堆疊的方法,來滿足將來設計對復雜度以及成本的要求。這意味著,,降低每個晶體管的成本仍將遵循“學習曲線”趨勢,正如它過去50年中的一樣。

            問:本土IC設計公司有能力做20nm、芯片的還較稀少,Mentor的EDA工具給中國本地帶來的意義是什么?這次大會想給本地企業(yè)傳遞哪些新理念?

            答:Mentor是市場上為3DIC芯片設計提供關鍵軟件的EDA公司。Calibre?提供3DIC所需要的完整驗證方案。。此外,Mentor的Tessent?DFT工具能支持所有需測試的堆疊芯片(die)的需求,包括邏輯和存儲。Mentor的封裝設計軟件幫助設計師開發(fā)3DIC設計的封裝和interposer??梢哉f,Mentor是3D設計工具的領導者。

            在20nm方面,Mentor是第一個向市場推出20nm物理驗證工具,主要是Calibre系列。我們還把物理設計和驗證技術集成起來,針對20nm所需要的新技術,如doublepatterning(2次曝光)[注2],能夠在布局&布線的階段,就能夠預防并解決DoublePatterning可能出現(xiàn)的問題。此外,我們看到20nm技術有利于更復雜的邏輯設計,Mentor的硬件仿真器可以大幅度減少設計的驗證時間,能幫助客戶提早將產品推向市場。。可以說,Mentor在20nm領域已經(jīng)提供了完整的方案,領先其他對手。

            注1:這段有關工藝與面積的數(shù)字來源于《電子產品世界》2012年第9期30頁。與Mentor公司所認知的數(shù)字不太一致。

            注2:doublepatterning(兩次曝光):20nm后需要兩次曝光或多次曝光。28nm到20nm時,設備不用做大的改變,但是設計手段要變。因為20nm后,設計間距太窄了,一次曝光會使光線無法穿過,或者穿過的光線大大失真。doublepatterning就像兩個人坐在一起,為了加大間距,中間可隔開一個位置。因此,人們把一層金屬拆成兩個mask(掩膜),這樣間距加大,光的不良效應就降低。方法是第一次曝光奇數(shù)行,第二次偶數(shù)行。



          關鍵詞: 20nm 3D

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