關(guān)于光纖接續(xù)損耗測(cè)試以及分析

　　摘要：本文介紹光纖接續(xù)損耗產(chǎn)生的原因，光纖接續(xù)損耗測(cè)試的原理以及幾種測(cè)試方法的應(yīng)用和計(jì)算，較為系統(tǒng)的闡述了光纖接續(xù)損耗測(cè)試的科學(xué)方法。 

　　光纖接續(xù)損耗是光纖通信系統(tǒng)性能指標(biāo)中的一項(xiàng)重要參數(shù)，損耗值的大小直接影響到光傳輸系統(tǒng)的整體傳輸質(zhì)量，在光纜施工和維護(hù)測(cè)試中，運(yùn)用科學(xué)的測(cè)試分析方法，對(duì)提高整個(gè)光纜接續(xù)施工質(zhì)量和維護(hù)工作極其重要，尤其是進(jìn)一步研究光通信中長(zhǎng)波長(zhǎng)的單模光纖的通信性能、傳輸衰耗、測(cè)量精度和檢查維修等方面有一定現(xiàn)實(shí)意義。

一、 光纖接續(xù)損耗分析

　　1、 光纖接續(xù)損耗產(chǎn)生的原因

　　1.1 本征損耗

　　本征損耗是光纖材料所固有的一種損耗，預(yù)制棒拉絲成纖后就確定了，這種損耗無(wú)法避免，引起光纖本征損耗的主要原因是散射和吸收，散射是由于材料密度不均勻而產(chǎn)生的瑞利散射，吸收主要是光纖材料中的雜質(zhì)粒子對(duì)某些波長(zhǎng)的光產(chǎn)生強(qiáng)烈的吸收。

　　1.2光纖的附加損耗

　　附加損耗是成纖后產(chǎn)生的損耗，主要是由于光纖受到彎曲和微彎所產(chǎn)生的，在成纜和光纜的施工過程中，都不可避免地要發(fā)生彎曲，因此就會(huì)產(chǎn)生附加損耗，對(duì)于單模光纖，對(duì)接的兩根纖，由于模場(chǎng)直徑，纖芯和包層的同心度、纖芯的不圓度參數(shù)的差異，會(huì)導(dǎo)致光纖接續(xù)損耗的產(chǎn)生，在兩根光纖完全對(duì)準(zhǔn)，且忽略端面間隙的情況下，接續(xù)損耗主要取決于光纖模場(chǎng)直徑的差異，接續(xù)損耗的計(jì)算為：b=20lg[1/2(d1/d2+ d2/ d1)], d1與d2分別為兩對(duì)接光纖的模場(chǎng)直徑，從計(jì)算公式可以看出，兩對(duì)接光纖的模場(chǎng)直徑相等（即d1=d2）時(shí)，其接續(xù)損耗b=0。

　　2、 影響光纖接續(xù)損耗的原因

　　影響光纖接續(xù)損耗的原因，主要是光纖本身的結(jié)構(gòu)參數(shù)和熔接機(jī)的熔接質(zhì)量，同時(shí)還有一些人為因素和機(jī)械因素，比如光纖收容盤纖產(chǎn)生的彎曲損耗，光纖切割的斷面質(zhì)量，橫向失配、縱向分離、軸向傾斜等。

二、 光纖接續(xù)損耗測(cè)試分析

　　1、 熔接機(jī)對(duì)接續(xù)損耗估算原理

　　熔接機(jī)接續(xù)是通過對(duì)光纖X軸和Y軸方向的錯(cuò)位調(diào)整，在軸心錯(cuò)位最小時(shí)進(jìn)行熔接的，這種能調(diào)整軸心的方法稱為纖芯直視法，這種方法不同于功率檢測(cè)法，現(xiàn)場(chǎng)是無(wú)法知道接續(xù)損耗的確切數(shù)值的，在整個(gè)調(diào)整軸心和熔接接續(xù)過程中，通過攝像機(jī)把探測(cè)到所熔接纖芯狀態(tài)的信息，送到熔接機(jī)的分析程序中，然后熔接機(jī)計(jì)算出接續(xù)損耗值，其實(shí)準(zhǔn)確地說(shuō)，這只能是說(shuō)明光纖軸心對(duì)準(zhǔn)的程度，并不含有光纖本身的固有特性所影響的損耗，而OTDR的測(cè)試方法是后向散射法，它包含有光纖參數(shù)的不同形式的反射損耗，所以熔接機(jī)所顯示的數(shù)據(jù)配合觀察光纖接續(xù)斷面情況只是粗略地估計(jì)了光纖接續(xù)點(diǎn)損耗的狀況，不能作為光纖接續(xù)損耗的真實(shí)值。

　　2、 OTDR的工作原理

　　背向散射法是將大功率的窄脈沖光注入待測(cè)光纖，然后在同一端檢測(cè)沿光纖軸向向后返回的散射光功率，由于光纖材料密度不均勻，其本身的缺陷和摻雜成分不均勻，當(dāng)脈沖通過光纖傳輸時(shí)，沿光纖長(zhǎng)度上的每一點(diǎn)均會(huì)引起瑞利散射，其中總有一部分進(jìn)入光纖的數(shù)值孔徑角，沿光纖軸反向傳輸?shù)捷斎攵?。瑞利散射光的波長(zhǎng)與入射光的波長(zhǎng)相同，其光功率與散射點(diǎn)的入射光功率成正比，測(cè)量沿光纖軸向返回的背向瑞利散射光功率可采集到沿光纖傳輸損耗的信息，從而測(cè)得光纖的衰減。

　　光時(shí)域反射儀通過光發(fā)送脈沖進(jìn)入輸入光纖，同時(shí)在輸入端接收其中的菲涅爾反射光和瑞利背向散射光，再變成電信號(hào)，隨時(shí)間在示波器上顯示。

　　使用OTDR測(cè)試光纖接續(xù)損耗時(shí)，1550nm的波長(zhǎng)對(duì)光纖彎曲的損耗較1310nm敏感，所以光纖接續(xù)損耗測(cè)試應(yīng)選擇1550nm波長(zhǎng)，以便觀察光纜敷設(shè)和光纖接續(xù)中是否會(huì)因光纖彎曲過度而造成損耗增大，但采用光源光功率計(jì)全程傳輸損耗測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)1310nm和1550nm兩波長(zhǎng)進(jìn)行分測(cè)。

　　用OTDR監(jiān)測(cè)光纖接續(xù)，常用的有兩種方法，第一種是前向單程測(cè)試法，OTDR在光纖接續(xù)方向前一個(gè)接頭點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，采用這種方法監(jiān)測(cè)，測(cè)試點(diǎn)與接續(xù)點(diǎn)始終只隔一盤光纜長(zhǎng)度，測(cè)試接頭衰耗較為準(zhǔn)確，測(cè)試速度較快，大部分情況下能較為準(zhǔn)確的取得光纖接續(xù)的損耗值，但缺點(diǎn)是所測(cè)得的損耗值全部是單向測(cè)試數(shù)據(jù)，還不能全面、精確地反映光纖接續(xù)的真正的損耗值。如圖所示：





圖1 光纖損耗測(cè)試圖


　　第二種是前向雙程測(cè)試法，OTDR測(cè)試點(diǎn)與接續(xù)點(diǎn)的位置仍同前向單程監(jiān)測(cè)布置一樣，但須在接續(xù)方向的最始端做環(huán)回，即在接續(xù)方向的始端將每組束管內(nèi)的光纖分別兩兩短接，組成環(huán)回回路，由于增加了環(huán)回點(diǎn)，所以O(shè)TDR測(cè)試可以測(cè)出接續(xù)損耗的雙向值，用OTDR前向雙程測(cè)試光纖，兩方向測(cè)試的結(jié)果有時(shí)會(huì)不同，主要原因是光纖芯徑和相對(duì)折射率均不相同時(shí)（即不同品牌或不同批次的光纖熔接），不僅會(huì)造成熔接損耗增加，還會(huì)造 成OTDR兩個(gè)方向（A端到B端或B端到A端）的測(cè)量值相差很大，當(dāng)兩根被熔接的光纖的模場(chǎng)直徑不同時(shí)，因?yàn)樾∧?chǎng)直徑光纖傳導(dǎo)瑞利散射光的能力比大模場(chǎng)直徑光纖強(qiáng)，所以當(dāng)這兩種直徑的光纖熔接時(shí)，若從小模場(chǎng)直徑光纖向大模場(chǎng)直徑光纖方向測(cè)試時(shí)，熔接損耗可能是負(fù)值（即虛假增益），反之，則出現(xiàn)高損耗值，這是一種表面現(xiàn)象，是由于不同模場(chǎng)直徑對(duì)瑞利散射光傳導(dǎo)能力不同所造成測(cè)量上的缺陷，并非熔接點(diǎn)的實(shí)際損耗，所以從兩個(gè)不同方向測(cè)試并取平均值后，所得的損耗才是熔接點(diǎn)的真正損耗，比如一個(gè)接頭從A到B測(cè)得的損耗為0.18dB，而從B到A測(cè)得的損耗為-0.12dB，實(shí)際上此頭的損耗為[0.18+（-0.12）]/2=0.03dB，但如果從單向值0.18dB來(lái)判斷，可能會(huì)誤認(rèn)為接續(xù)不合格，掐斷重接，所以雙向測(cè)試能避免這種誤判的情況，具體測(cè)試原理及方法如下：





圖2 測(cè)試原理與方法


　　1、 接續(xù)點(diǎn)做好第1纖的接續(xù)端面后，測(cè)試點(diǎn)使用OTDR根據(jù)最強(qiáng)的菲涅爾反射峰找好接續(xù)點(diǎn)的位置，并記錄n1。

　　2、 接續(xù)點(diǎn)熔接好第一纖后，測(cè)試點(diǎn)從A至B方向監(jiān)測(cè)第1纖的A至B正向損耗值，并記錄m1正。

　　3、 接續(xù)點(diǎn)做好第2纖接續(xù)端面后，測(cè)試點(diǎn)使用OTDR經(jīng)過1、2纖的環(huán)回找到第2纖B至A方向接續(xù)點(diǎn)的位置，并記錄n2。

　　4、 接續(xù)點(diǎn)在熔接好第2纖后，測(cè)試點(diǎn)從A至B并經(jīng)環(huán)回后變?yōu)锽至A方向監(jiān)測(cè)第2纖的B至A的反向損耗值，并記錄m2反。

　　5、 測(cè)試點(diǎn)再把第2纖接入OTDR測(cè)試端口，利用上述記錄的n1位置，快速定位找出第2纖的A至B方向的正向接續(xù)損耗值，并記錄m2正，接下來(lái)經(jīng)過環(huán)回利用上述記錄的n2位置，快速定位找出第1纖的B至A方向的反向接續(xù)損耗值，并記錄m1反。

　　6、 計(jì)算第1纖、第2纖的接續(xù)損耗：Loss1=1/2(m1正+m1反) 
　　　　　　　　　　　　　　　　　　Loss2=1/2(m2正+m2反)

　　這種方法的優(yōu)點(diǎn)是能準(zhǔn)確評(píng)估光纖接續(xù)損耗，缺點(diǎn)是雙向測(cè)試增加了工作量，減慢了測(cè)試速度，比如中繼段較長(zhǎng)的線路，在離起始端20km處接續(xù)，如一盤光纜長(zhǎng)2km，則在距離起始端2km處測(cè)試，那樣測(cè)試正向值是測(cè)2km處的衰耗值，測(cè)反向則是42km處的衰耗值，由于距離越來(lái)越長(zhǎng)，信號(hào)較弱已不能準(zhǔn)確地測(cè)出反向值，要想繼續(xù)雙向監(jiān)測(cè)，必須在另一頭做環(huán)回來(lái)進(jìn)行接續(xù)和測(cè)試，這樣中間最終必有一個(gè)頭無(wú)法雙向監(jiān)測(cè)。

　　總之，上述兩種光纖接續(xù)損耗的測(cè)試方法是目前通行的測(cè)試方法，根據(jù)不同的現(xiàn)場(chǎng)情況和實(shí)際要求，可以采用不同的測(cè)試方法，隨著光通信技術(shù)的進(jìn)步與發(fā)展，相信很快就會(huì)有更先進(jìn)、更精確的光纖衰耗測(cè)試設(shè)備和測(cè)試手段應(yīng)用到光纜施工、光線路傳輸質(zhì)量的分析之中去。


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