基于PXI平臺(tái)的ESP系統(tǒng)性能測(cè)試平臺(tái)
作者：高振海 王竣 崔愛(ài)昕 郭健
時(shí)間：2013-02-19
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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結(jié)論
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/142075.htmESP是未來(lái)汽車主動(dòng)安全系統(tǒng)發(fā)展的一大方向，ESP實(shí)車道路試驗(yàn)不僅是ESP控制系統(tǒng)優(yōu)劣的最終評(píng)判手段，ESP實(shí)車道路試驗(yàn)在ESP控制算法開(kāi)發(fā)階段也具有一定的指導(dǎo)意義。
基于PXI系統(tǒng)良好的可擴(kuò)展性，我們快速搭建了ESP系統(tǒng)性能試驗(yàn)的測(cè)試平臺(tái)，在極端苛刻的試驗(yàn)環(huán)境下，測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確有效的采集了ESP系統(tǒng)試驗(yàn)的測(cè)試信號(hào)，大大推動(dòng)了863計(jì)劃底盤控制系統(tǒng)的研究，為我們自主底盤電控系統(tǒng)進(jìn)一步的完善提供了有力的支撐。
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