10G網(wǎng)絡(luò)的線纜測試
——
今天,我們討論的是一種全新的網(wǎng)絡(luò)類型。這就意味著要介紹一下新的傳輸帶寬標(biāo)準(zhǔn)。今年夏天,IEEE 802.3an 傳輸標(biāo)準(zhǔn)將支持通過銅纜傳輸10G網(wǎng)絡(luò)的數(shù)據(jù)流。
很明顯,這意味著1G(千兆網(wǎng)絡(luò))數(shù)據(jù)將能被傳輸?shù)絺€人工作點。這將是一個劃時代的傳輸技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)。
然而從理論上而言,當(dāng)我們介紹一個新標(biāo)準(zhǔn)的時候,它是否可以應(yīng)用于現(xiàn)有的布線系統(tǒng)中就顯得非常重要了?,F(xiàn)在可以看到,在E級/ 6類250MHz的系統(tǒng)中不一定支持傳輸10GbaseT的數(shù)據(jù)流。對于10GbaseT的標(biāo)準(zhǔn)而言將超越老標(biāo)準(zhǔn)1000BaseT的很多測試項目。所以這些布線系統(tǒng)的有些標(biāo)準(zhǔn)將要被重新定義。當(dāng)前的建議做法是:在歐洲重新制定新的ISO EA 級和 ISO FA 級標(biāo)準(zhǔn)。北美國家則爭論最多的是新的 TIA/EIA 6a(增強(qiáng)6類)標(biāo)準(zhǔn)?,F(xiàn)有的ISO E級和TIA/EIA 6類標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)運用執(zhí)行四年多了。新的標(biāo)準(zhǔn)出臺將大大減少這兩類標(biāo)準(zhǔn)的生命周期?,F(xiàn)場測試產(chǎn)品自然也由于這些新變化而受到影響,下面就是需要注意的一些問題。
全新的挑戰(zhàn)
最顯而易見的改變就是:新標(biāo)準(zhǔn)需要提升測試頻率。經(jīng)過仔細(xì)的理論分析可知, 250MHz的頻率就已經(jīng)不能支持傳輸10GbaseT的速率。最初估算的625MHz的極限頻率已被目前的500MHz所取代,例如:可通過內(nèi)插值替換,只需作微小調(diào)整就可擴(kuò)展E級/6類極限值曲線,以適應(yīng)新的指標(biāo)。作為連接部件,RJ45升級到500MHz時也能保持它的原有功能。新的FA級標(biāo)準(zhǔn)以F級為范本,頻率范圍將從原有的600MHz提升到現(xiàn)在1000MHz。而從現(xiàn)有的TERA的標(biāo)準(zhǔn)和GG45連接器來看,這些都已經(jīng)具備了上述頻率范圍內(nèi)的更高傳輸需要。但這只是高帶寬屏蔽系統(tǒng)的應(yīng)用,這里我們重點討論非屏蔽E級/6類標(biāo)準(zhǔn)的變化。
新的測試參數(shù)
上面已經(jīng)描述了新的標(biāo)準(zhǔn),也提出了現(xiàn)場測試技術(shù)所面臨的挑戰(zhàn)。所有擁有線纜測試儀的朋友都不得不面對一個問題,那就是對于這些新問題是否需要花費額外的投資呢?答案是:“不一定”。但我們必須明確一個事實:三級精度的6類通道測試設(shè)備將不再適合這場角逐。
已經(jīng)說過,更大的挑戰(zhàn)來自于不斷增加的現(xiàn)場測試頻率范圍。6a類和EA級的頻率范圍從250MHz提高到了500MHz。而FA 級的測試范圍由600MHz增加到了前所未有的1000MHz。頻率范圍增加了,如果仍用以前的測試精度來衡量,顯然是不合適的。因為三級精度的測試標(biāo)準(zhǔn)是針對以往定義的測試帶寬到現(xiàn)有的250MHz頻率之間的。而新的6a類 /EA 級測試要求一種更新的精度類別來區(qū)分,那就是:增強(qiáng)三級精度(Level IIIa)。當(dāng)然,對于ISO Class FA 相應(yīng)的有增強(qiáng)型四級精度(Level IVa)與之對應(yīng)。目前現(xiàn)有的四級精度的類別則是對600MHz以下而言。而目前討論的四級精度和增強(qiáng)四級精度從性能對比中已經(jīng)涵蓋了增強(qiáng)型三級精度。事實上,這就意味著,當(dāng)前每個擁有四級精度的測試設(shè)備已經(jīng)擁有了測試6a 類和 EA.級的能力。
有沒有不利于現(xiàn)場測試儀的消息呢?目前回答十分簡單:沒有!但是對于以后針對10 G網(wǎng)絡(luò)而修定的一些測試項目,會讓你感到一點點麻煩。不過也是僅僅反映在軟件編程,繪制極限曲線上。測試儀的生產(chǎn)廠家會根據(jù)新的情況制定相應(yīng)的極限值曲線圖來附和新的標(biāo)準(zhǔn)?,F(xiàn)場測試設(shè)備生產(chǎn)商們也會根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的變化及時地更新他們測試儀的固件版本。
不必?fù)?dān)心來自外部的干擾
對于現(xiàn)場測試設(shè)備而言,很難預(yù)測到6a 類和EA 級信道測試標(biāo)準(zhǔn)將會出現(xiàn)哪些新的測試參數(shù)。在美國,目前這是個非常熱門的討論課題,甚至有些比較激烈的爭執(zhí)。而追根溯源則是關(guān)于一些非屏蔽系統(tǒng)的具體問題。這些問題集中在300MHz范圍附近的敏感地帶。我們知道,單個的傳輸通道會干擾其他相鄰的傳輸通道。這個效應(yīng)被稱為“外部串?dāng)_”(AXT),這種串?dāng)_不僅干擾相鄰線對,同樣也會干擾線纜外部傳送的信號。串?dāng)_信號與線纜幾何結(jié)構(gòu)相關(guān)(線對的扭絞率)。另外,各種類型的數(shù)據(jù)幀、比特流以及路由環(huán)回信號都在線纜上運行。這些新的參數(shù)起源于外部近端串?dāng)_音(Alien-NEXT)和外部遠(yuǎn)端串?dāng)_音(Alien-FEXT),縮寫為ANEXT和AFEXT。同樣也存在綜合ANEXT及綜合AFEXT (Power Sum ANEXT & Power Sum ANEXT)。這些參數(shù)定義來自相鄰數(shù)據(jù)線纜中串?dāng)_分貝數(shù),對于10G速率的非屏蔽線纜而言,有非常重大的意義。簡單起見,下面將對ANEXT這一術(shù)語本身,以及為何將其作為其他“外部干擾”參數(shù)的參考加以描述。
正如我們所知,干擾源的來源非常復(fù)雜,要想在現(xiàn)場測試中有效地測試這些參數(shù),即使通過合理的努力,仍然不大可能。問題必須通過其他途徑解決。先前我們描述的一些參數(shù)及評判數(shù)據(jù)是從實驗室得來的。關(guān)于這個問題,有計劃建立一種標(biāo)準(zhǔn)的測試模式,即被稱為“6包1”測試方法,包括建立含有6套接口的測試鏈路。換而言之,共有7條等長鏈路在規(guī)定的距離同時連通。每條線路都要相對其他線纜進(jìn)行測試,總共進(jìn)行96個獨立測試。
這種測試方法實際是仿真一種可重復(fù)實驗的最差情況。在這里,關(guān)鍵字是“可重復(fù)試驗”、因為ANEXT只是在極端情況下,很短暫的出現(xiàn)。測試時線纜幾何結(jié)構(gòu)的微小變化都會影響ANEXT值。例如:線纜、連接器、跳線等位置的微小改變,都能在測試結(jié)果中引起一些變化。以上測試方法是確定最差情況下參數(shù)值的極好手段,它可以精確反映鏈路、線纜相互之間出現(xiàn)干擾的最大值。實際應(yīng)用中所能發(fā)生的任何影響,都要比這來得輕微得多。
由于實際中永久安裝的布線系統(tǒng)不可能符合“6包1”原則,對于現(xiàn)場測試而言,上述測試方法實際上是沒用的。
現(xiàn)場如何處理“線外串?dāng)_”?
對如何處理線外串?dāng)_,標(biāo)準(zhǔn)組織為技術(shù)人員提供了一些支持。譬如為如何解決ANEXT問題而適當(dāng)?shù)亩x了一些針對6a類布線產(chǎn)品的“額外”提議,至少在ANEXT和相關(guān)問題上作出規(guī)定,以便保證10 G 網(wǎng)絡(luò)可以運行順暢。當(dāng)線纜、配線架、跳線以及跳線都是針對防止ANEXT而設(shè)計生產(chǎn)后,在現(xiàn)場也就沒必要驗證這些影響了。
當(dāng)前的狀態(tài)下,線纜制造廠商只能在整個信道上保證10 G網(wǎng)絡(luò)性能。一個簡單的理由就是,針對元件、永久鏈路的標(biāo)準(zhǔn)制定仍然在發(fā)展階段。依據(jù)6類標(biāo)準(zhǔn)的組合與匹配方法還不能勝任。我們將密切關(guān)注廠商提供的單個元件的指標(biāo)。屏蔽系統(tǒng)在這種情況下是更便于使用的,因為它具備了足夠抵抗ANEXT的能力。正由于非屏蔽系統(tǒng)也能有效防止線外串?dāng)_,有些制造商己將其非屏蔽系統(tǒng)加入10G網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的競爭之中,尤其在那些只希望使用非屏蔽解決方案的國家更是如此。
結(jié)論
6a類、EA 級、FA 級標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)建立并正在發(fā)展中。隨著這些標(biāo)準(zhǔn)的提升,至少在現(xiàn)場測試標(biāo)準(zhǔn)方面,很快就會有一套關(guān)于“什么該測”、“什么不該測”的明確規(guī)定。有一點是顯而易見的,即:滿足IV級精度指標(biāo)、達(dá)到500MHz甚至更高的頻率測試儀表將會是一大熱
評論