新型的嵌入式存儲器測試算法
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2．2 內(nèi)部單元測試的故障模型
對于內(nèi)部單元，除了上文提到的類似的固定邏輯故障和固定開路故障模型，還有狀態(tài)轉(zhuǎn)換故障(transition fault)、數(shù)據(jù)保持故障(data-maintaining fault)、狀態(tài)耦合故障(coupiing fault)和多重寫入故障(multiple access fault)等。
狀態(tài)轉(zhuǎn)換故障：0→1或1→0的狀態(tài)轉(zhuǎn)換至少有一個不被正確執(zhí)行。
數(shù)據(jù)保持故障：存儲單元無法保持一個邏輯值持續(xù)一定的時間。
狀態(tài)耦合故障：當(dāng)且僅當(dāng)單元j處于某一個特定狀態(tài)y(y∈{0，1})時，單元i總是為某一個確定值x(x∈{0，1})，則稱單元i耦合于單元j。耦合關(guān)系不一定具有對稱性，也就是說單元i耦合于單元j，并不一定單元j也耦合于單元i。
多重寫入故障：對單元i寫入x(x∈{0，1})導(dǎo)致單元j也寫入了x，則稱單元i有多重寫入故障。多重寫入故障不一定具有對稱性。
3 存儲器的測試算法
目前存儲器的測試算法中比較著名的有March算法及其各種變種算法、Gallop算法，這些算法太過復(fù)雜，測試效率不高。本文所提出的算法不僅故障覆蓋率能夠達(dá)到實(shí)際應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)，而且測試效率有明顯提高。
3．1 外圍互連線的測試算法
存儲器外圍互連線包括控制線、數(shù)據(jù)線和地址線。對于控制線的測試沒有比較規(guī)范的測試方法，但是如果控制線存在故障，存儲器基本無法正常工作。一般而言，控制線的故障在對數(shù)據(jù)線和地址線的簡單測試中就能被發(fā)現(xiàn)，所以不作專門測試。
數(shù)據(jù)線和地址線的測試的目的不只是發(fā)現(xiàn)故障，更主要的是精確定位故障以便很容易地進(jìn)行修復(fù)或更換。采用“三步法”，該算法不僅能夠精確地定位故障，而且還能區(qū)分固定邏輯故障和橋接短路故障這兩種不同類型，具體算法如表1所列。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/149950.htm
第一步測試數(shù)據(jù)線是否存在開路故障和固定邏輯故障，第二步測試數(shù)據(jù)線是否存在短路故障，第三步測試地址線是否存在開路或短路故障。在第二步測試結(jié)束時進(jìn)行數(shù)據(jù)線故障診斷，在第三步測試結(jié)束時進(jìn)行地址線故障診斷。
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