新型的嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試算法
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3．2 內(nèi)部存儲(chǔ)單元測(cè)試算法
內(nèi)部單元的測(cè)試算法有Checkboard測(cè)試、MSCAN算法、March算法、GALPAT、跨步法等算法，本文對(duì)內(nèi)部存儲(chǔ)器單元進(jìn)行測(cè)試，采用如圖2所示的棋盤(pán)和跨步相結(jié)合的算法，在檢測(cè)數(shù)據(jù)單元時(shí)采用棋盤(pán)圖形，在檢測(cè)地址譯碼時(shí)采用跨步圖形，將棋盤(pán)測(cè)試法和跨步法各自的優(yōu)點(diǎn)合二為一。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/149950.htm
4 測(cè)試結(jié)果
將本文所涉及的算法進(jìn)行測(cè)試效率與故障覆蓋率的分析，并將結(jié)果進(jìn)行比較，如表2所列。其中d為地址線數(shù)目，n為數(shù)據(jù)線數(shù)目，M為待測(cè)存儲(chǔ)器空間大小，一般M=2d。從表中可以看出這些算法的測(cè)試效率比典型的March算法效率高很多，三步法的測(cè)試復(fù)雜度只有4(n+d+1)，棋盤(pán)跨步相結(jié)合的算法的測(cè)試復(fù)雜度也有5M，在故障覆蓋率也滿足應(yīng)用要求，完全可以為實(shí)際項(xiàng)目所采用。
評(píng)論