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          相變化內(nèi)存原理分析及設(shè)計(jì)使用技巧

          作者: 時(shí)間:2010-11-04 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

           相(Phase Change Memory,PCM)是一項(xiàng)全新的技術(shù),目前有多家公司在從事該技術(shù)的研發(fā)活動(dòng)。這項(xiàng)技術(shù)集當(dāng)今揮發(fā)性和非揮發(fā)性內(nèi)存兩大技術(shù)之長,為系統(tǒng)工程師提供極具吸引力的技術(shù)特性和功能。工程師無需再費(fèi)時(shí)解決過去幾年必須設(shè)法克服的所謂內(nèi)存技術(shù)的奇怪特性。因此,當(dāng)采用NOR或NAND閃存系統(tǒng)時(shí),工程師必須掌握許多變通技巧。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/151385.htm

            由于內(nèi)存簡單易用,人員可以把以前的奇怪東西全部忘掉。相內(nèi)存還有助于大幅縮短產(chǎn)品上市時(shí)間,提高系統(tǒng)效能和編碼容量,降低產(chǎn)品成本。應(yīng)用通常需要RAM內(nèi)存芯片以補(bǔ)償閃存的慢速且錯(cuò)綜復(fù)雜的程序設(shè)計(jì)協(xié)議。在改用相變化內(nèi)存后,還能降低許多設(shè)計(jì)對(duì)RAM芯片的容量要求,甚至根本不再需要RAM芯片。因此設(shè)計(jì)人員已經(jīng)發(fā)現(xiàn)在許多設(shè)計(jì)狀況中把現(xiàn)有設(shè)計(jì)的閃存改由相變化內(nèi)存取代的確是非常值得一試的。

            為什么選用相變化內(nèi)存

            為什么相變化內(nèi)存很有前景,為什么現(xiàn)在正式接近量產(chǎn)?提出這兩個(gè)問題有很多理由。時(shí)至今日,相變化內(nèi)存尚未在市場上蓬勃發(fā)展的最大原因是,現(xiàn)有內(nèi)存技術(shù)的經(jīng)濟(jì)效益遠(yuǎn)高于任何 新的替代技術(shù)。這是每項(xiàng)新技術(shù)進(jìn)入市場時(shí)都必須面臨的狀況,也有許多新技術(shù)因而在初引入時(shí)被擋在市場大門外。

            對(duì)于特定的工藝技術(shù),這些替代內(nèi)存與目前成功的傳統(tǒng)競品相比,不是芯片面積更大,就是晶圓制造成本極高。在向來以成本為王的內(nèi)存市場上,若想替代現(xiàn)有技術(shù),制造成本高的芯片幾乎沒有勝算。不過這種局面很快會(huì)被打破,因?yàn)樵诮窈髱啄?,相變化?nèi)存與DRAM的成本差距將會(huì)變小。

            正面來說,幾個(gè)原因使得相變化內(nèi)存在近期引起市場相當(dāng)大的關(guān)注。首先,材料技術(shù)在過去十年取得長足進(jìn)步,現(xiàn)在制造生產(chǎn)相變化內(nèi)存需要的高純度薄膜的可行性較以前提高很多。而且,相變化內(nèi)存需要的硫系材料也取得很多突破性進(jìn)展,現(xiàn)在被用于大規(guī)模制造CD-R和CD-RW光盤。

            同時(shí),科學(xué)家對(duì)這些材料的物理性質(zhì)的了解也取得相當(dāng)大的進(jìn)步。工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)縮小也發(fā)揮了相應(yīng)的作用:在過去,被加熱材料的面積相對(duì)較大,改變一次相變化狀態(tài)需要相當(dāng)大的能量。隨著工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)縮小,以前像一片海洋的加熱材料,現(xiàn)在變得像一個(gè)浴盆大小。

            最后,業(yè)界普遍接受閃存即將達(dá)到技術(shù)節(jié)點(diǎn)極限的觀點(diǎn),也驅(qū)動(dòng)了后續(xù)技術(shù)研發(fā)活動(dòng)以超越這個(gè)極限。盡管閃存升級(jí)極限被向后推遲多年,但是所有閃存廠商都承認(rèn),閃存無法升級(jí)到下一個(gè)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的時(shí)代很快就會(huì)到來,屆時(shí)閃存產(chǎn)業(yè)將必須改變技術(shù)。

            圖1描述了閃存升級(jí)極限后的現(xiàn)象:儲(chǔ)存在一個(gè)閃存位內(nèi)的電子的數(shù)量在逐步減少。在大約八年后,當(dāng)NAND和NOR其中一種閃存升級(jí)到10nm工藝節(jié)點(diǎn)前,每位所儲(chǔ)存的電子數(shù)不到10個(gè)。

            

          閃存升級(jí)極限后的現(xiàn)象 www.elecfans.com


            對(duì)于一個(gè)多級(jí)單元架構(gòu)(MLC),在一個(gè)多噪聲的環(huán)境內(nèi),10個(gè)電子數(shù)量太少,無法儲(chǔ)存多位數(shù)據(jù),實(shí)際要求每位電子數(shù)量接近100個(gè),遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于10個(gè)。即使達(dá)到這個(gè)指標(biāo),如此少的電子數(shù)量使其很難達(dá)到現(xiàn)有應(yīng)用的可靠性要求。

            相變化內(nèi)存已經(jīng)上市銷售。三星(Samsung)于2004年發(fā)布一個(gè)PRAM原型,是第一個(gè)即將投產(chǎn)的相變化內(nèi)存。不久之后,恒憶(Numonyx)推出了一個(gè)相變化內(nèi)存原型,在2008年底前,已開始限量出貨。從2006年起,BAE系統(tǒng)公司一直在航天航空市場出售C-RAM芯片,這個(gè)市場十分關(guān)注相變化內(nèi)存,因?yàn)檫@項(xiàng)技術(shù)能夠抵抗阿爾法粒子輻射引起的數(shù)據(jù)位錯(cuò)誤。

            試用過這些芯片的設(shè)計(jì)人員表示,當(dāng)使用比較老的傳統(tǒng)的內(nèi)存技術(shù)時(shí),他們必須解決很多技術(shù)難題,而這項(xiàng)技術(shù)正好能夠協(xié)助他們根除這些問題。

            在一個(gè)典型的系統(tǒng)中,非揮發(fā)性內(nèi)存和RAM內(nèi)存都會(huì)被用到,前者用于保存編碼,后者用作高速緩存,有時(shí)也用于儲(chǔ)存其它編碼。為了避免使程序員處理不同類型的記憶體,操作系統(tǒng)隱藏了各類內(nèi)存間的差異,以對(duì)其它程序透明的方式,執(zhí)行對(duì)揮發(fā)性內(nèi)存和非揮發(fā)性內(nèi)存的管理任務(wù),而這大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜程度。

            即便有了這種輔助功能,當(dāng)使用只讀編碼儲(chǔ)存空間儲(chǔ)存編碼,以只讀數(shù)據(jù)儲(chǔ)存空間儲(chǔ)存數(shù)據(jù)時(shí),程序員還是受限某些限制。如果編碼或數(shù)據(jù)量大于內(nèi)存的容量,即便超出一個(gè)字節(jié),那部分儲(chǔ)存空間就必須擴(kuò)大一倍,導(dǎo)致價(jià)格大幅提升。在某些狀況下,使用基于相變化內(nèi)存的系統(tǒng)就可以避免這個(gè)問題。

            相變化內(nèi)存改變了游戲規(guī)則。編碼和數(shù)據(jù)不必再分開儲(chǔ)存在非揮發(fā)性內(nèi)存和RAM的兩個(gè)容量固定的模塊內(nèi)。編碼和數(shù)據(jù)可以保存在一個(gè)內(nèi)存內(nèi)。對(duì)于小型系統(tǒng)的設(shè)計(jì)人員,這種方法可以減少芯片數(shù)量,降低功耗。讀寫內(nèi)存和只讀存儲(chǔ)器之間不再有固定的界限,對(duì)于小型系統(tǒng)和大型系統(tǒng)的設(shè)計(jì)人員是莫大的福音。

            閃存的復(fù)雜之處

            閃存很難管理。曾有設(shè)計(jì)工程師形容管理閃存的過程是一種“非常復(fù)雜的舞蹈”。曾經(jīng)采用NAND或NOR閃存設(shè)計(jì)系統(tǒng)的工程師可以證實(shí)這點(diǎn),閃存管理需要考慮許多因素,例如:損耗均衡、讀寫同步和壞塊管理,這使閃存管理任務(wù)變得極其復(fù)雜。

            與基于閃存的設(shè)計(jì)相比,相變化內(nèi)存帶來的問題非常少。相變化內(nèi)存支持位元組修改功能,因此沒有NAND和NOR閃存的寫入之前需先擦除區(qū)塊的步驟,因而大幅簡化了寫入操作。在相變化內(nèi)存內(nèi),邏輯1可以變?yōu)檫壿?,反之亦然;所以在寫入操作之前無需進(jìn)行一次擦除操作,相變化內(nèi)存的寫入操作更類似于RAM,而不像NAND或NOR閃存。

            相變化內(nèi)存寫入操作速度快,無需NAND或NOR的擦除操作。因此,不再需要同步讀寫功能,程序設(shè)計(jì)師幾乎不必再寫專門的編碼,以防止在最新的寫入操作附近發(fā)生讀取操作。

            相變化內(nèi)存的隨機(jī)尋址類似于NOR或SRAM,非常符合處理器的要求。此外,相變化內(nèi)存不需要NAND閃存的錯(cuò)誤校驗(yàn)功能,因?yàn)橄嘧兓瘍?nèi)存能夠保證所有位保存的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)完全相同。

            相變化內(nèi)存根本不需要閃存管理所需的全部算法,例如:損耗均衡和壞塊管理。有人稱相變化內(nèi)存是“最適合韌體/軟件工程師用的非揮發(fā)性內(nèi)存”。相變化記憶體另外還有一個(gè)好處:編碼儲(chǔ)存區(qū)和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存區(qū)之間的界限比以前更加靈活。在今日的設(shè)計(jì)中,每個(gè)內(nèi)存應(yīng)用都需要自己獨(dú)有的內(nèi)存拓?fù)?,通常是?/span>


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