RF芯片測(cè)試夾具在微波測(cè)量中的應(yīng)用

圖六、TRL校準(zhǔn)界面

TRL校準(zhǔn)向?qū)?/strong>

如果使用8753ES網(wǎng)分，校準(zhǔn)操作如下：

放入校準(zhǔn)件THRU選擇THEU校準(zhǔn)選項(xiàng);

放入校準(zhǔn)件SHORT選擇雙端口的兩個(gè)SHORT校準(zhǔn)選項(xiàng);

放入校準(zhǔn)件LINE選擇LINE校準(zhǔn)選項(xiàng)，選BOTH(雙端口同時(shí)校準(zhǔn))鍵，頻段分段選2-7line;

隔離選項(xiàng)選取忽略。

按下DONE鍵，儀表通過選取的誤差模型計(jì)算校準(zhǔn)，計(jì)算完成后選取FORMAT更改顯示模式為SWR，讀出THRU或者LINE校準(zhǔn)件的駐波讀數(shù)，判定校準(zhǔn)是否準(zhǔn)確。一般來說讀數(shù)在1.00X~1.02X之間波動(dòng)。如數(shù)值過大需重新校準(zhǔn)。如果需要測(cè)量相位則需測(cè)量THRU校準(zhǔn)件S21的相位和SHORT校準(zhǔn)件S11的相位，兩個(gè)值應(yīng)相差180度。下圖是一種型號(hào)產(chǎn)品校準(zhǔn)后的圖形。

圖七、AFX200校準(zhǔn)后數(shù)據(jù)

3、加電測(cè)試

校準(zhǔn)完成，放入核心滑塊，固定好元器件，通過BIAS TEE 加上直流電壓，根據(jù)放大管特性可通過調(diào)節(jié)柵極電壓調(diào)節(jié)漏極電流。注意先加漏極電壓避免元件燒毀。

跟據(jù)測(cè)量需要按MARKER鍵選取測(cè)量點(diǎn)測(cè)量所關(guān)心的S參數(shù),FORMAT格式可選極坐標(biāo)或SMITH圓圖，改變MARKER位置(測(cè)試頻率)，得到S11、S21、S12、S22在各頻率下的模值和相位。

AFX100A型功能版1#夾具對(duì)安捷倫經(jīng)典管型ATF54143的兩次測(cè)量數(shù)據(jù)以及廠家數(shù)據(jù)S11、S21在SMITH圓圖和極坐標(biāo)上的位置。

分析：在不同的環(huán)境下，放大器的匹配必須通過直接測(cè)量獲得準(zhǔn)確參數(shù)，廠家所提供的數(shù)據(jù)是批生產(chǎn)管型的典型參數(shù)。測(cè)量結(jié)果和廠家提供的參數(shù)曲線有一定的區(qū)別，這正是使用夾具對(duì)場(chǎng)效應(yīng)管進(jìn)行測(cè)量的原因。

使用測(cè)量數(shù)據(jù)的對(duì)放大器進(jìn)行仿真曲線

使用廠家數(shù)據(jù)對(duì)同一放大器仿真曲線

實(shí)際放大器的測(cè)量結(jié)果：2GHz增益為11.5dB，2.5GHz增益為8.4dB。測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算結(jié)果比廠家提供的數(shù)據(jù)計(jì)算結(jié)果更接近實(shí)際的測(cè)試曲線。