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          基于GA和PSO算法的反射陣列仿真設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2011-07-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          2.2 數(shù)據(jù)優(yōu)化
          要求θ在60°~120°之間的RCS均大于-20 dB,且整體效果圖盡量好。在進(jìn)行優(yōu)化時(shí),將優(yōu)化條件設(shè)置為大于等于20 dB,優(yōu)化范圍為60°~120°,優(yōu)化步長(zhǎng)為5。
          優(yōu)化主要步驟:
          (1)建立模型,將陣子間距設(shè)為變量,即需要優(yōu)化的參數(shù);
          (2)確定優(yōu)化方式;
          (3)設(shè)置參數(shù)的優(yōu)化范圍和優(yōu)化步長(zhǎng),以及優(yōu)化所需達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn),即適應(yīng)度;
          (4)對(duì)模型進(jìn)行計(jì)算網(wǎng)格劃分,即計(jì)算的個(gè)體,個(gè)體中包含所需優(yōu)化的尺寸信息;
          (5)運(yùn)行FEKO,對(duì)個(gè)體適應(yīng)度進(jìn)行計(jì)算;
          (6)判斷個(gè)體串適應(yīng)度是否達(dá)到適應(yīng)度標(biāo)準(zhǔn),若是,則停止,若否,則繼續(xù);
          (7)重復(fù)以上迭代過程,直到滿足優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)或是達(dá)到迭代次數(shù);
          (8)軟件自動(dòng)將計(jì)算好的最優(yōu)尺寸輸出顯示,并可查看對(duì)應(yīng)的RCS圖;
          (9)若一種優(yōu)化達(dá)不到理想效果,則采用另一種,從第(2)步開始運(yùn)行。
          兩種優(yōu)化算法的結(jié)果如圖3(b),圖3(c)所示。
          2.3 雙優(yōu)化
          經(jīng)過以上兩輪優(yōu)化,已經(jīng)得到了比較理想的值,但為了使更充分地使用可以利用的空間,在上述優(yōu)化參數(shù)的基礎(chǔ)上,采用雙優(yōu)化,即在中設(shè)置兩個(gè)優(yōu)化條件為:
          (1)優(yōu)化范圍:60°~120°;優(yōu)化條件:≥20 dB。
          (2)總長(zhǎng)度在不超過1 000 mm的前提下盡量的長(zhǎng)。結(jié)果如圖3(d)所示。
          通過圖3可以看出,優(yōu)化算法相對(duì)于經(jīng)驗(yàn)公式可以既快又好地提高陣列的性能。間距d1,d2,d3,d4分別為25.1 mm,15.3 mm,35.7 mm,5.1 mm,每組的間距個(gè)數(shù)分別為1,12,4,6,陣列關(guān)于xy平面對(duì)稱。

          3 結(jié)果和實(shí)物測(cè)試結(jié)果
          由于測(cè)量暗室條件的限制,無法測(cè)量原尺寸的圓柱,所以采用一條形平板代替測(cè)量。在此選用的平板尺寸為1 000 mm×16 mm,這個(gè)尺寸基本可以保持原陣列的性能。平板由兩部分組成,時(shí)底層為理想吸波材料做成的介質(zhì),頂層為理想金屬極子貼片;實(shí)物底層為環(huán)氧玻璃,頂層為銅貼片,圖4為實(shí)物圖片。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/156097.htm

          d.JPG


          為了方便測(cè)量,介質(zhì)底板采用環(huán)氧玻璃,實(shí)際投入使用時(shí),介質(zhì)采用理想吸波材料制成的薄膜,可以任意貼在想要覆蓋的區(qū)域,經(jīng)濟(jì)方便。
          將柱面改為平面之后,模型尺寸大大減小,計(jì)算量也急劇減少,因此在此之前已經(jīng)得到的優(yōu)化值基礎(chǔ)上進(jìn)行進(jìn)一步優(yōu)化可以快速地得到理想的優(yōu)化參數(shù)。為了更直觀地比較陣列的優(yōu)勢(shì),又仿真并實(shí)測(cè)了一個(gè)相同尺寸的銅板的RCS。圖5、圖6分別是仿真和實(shí)物測(cè)量的平板陣列和銅板的RCS圖。從圖5和圖6中可以看出,極子陣列相對(duì)于同等尺寸的金屬板RCS顯著提高,并且分布更均勻,實(shí)物測(cè)量結(jié)果與仿真結(jié)果有很好的一致性。

          e.JPG



          4 結(jié)論
          由上述可以看出,實(shí)測(cè)得到的曲線與仿真得到的曲線基本吻合,能夠很好地滿足最初的要求,由此說明本文提出的軟件優(yōu)化結(jié)合經(jīng)驗(yàn)公式的方法能夠準(zhǔn)確、高效地出結(jié)構(gòu)合理、滿足不同性能要求的極子陣列,并且可以在此基礎(chǔ)上靈活更加復(fù)雜的陣元和陣列拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。


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