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          面向電子裝聯(lián)的PCB可制造性設(shè)計

          作者: 時間:2011-05-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            另外一種拼板方式是將雙面都布置有SMD的一正一反的拼成一個大板,這樣的拼板俗稱陰陽拼,一般是出于節(jié)約網(wǎng)板費用的考慮,即通過這樣的拼板,原來需要兩面網(wǎng)板,現(xiàn)在只需要開一面網(wǎng)板即可。另外技術(shù)人員在編制貼片機(jī)運行程序時,采用陰陽拼的編程效率也更高。

            拼板時子板之間的連接可以采用雙面對刻V型槽p長槽孔加圓孔等方式,但時一定要考慮盡可能使分離線在一條直線上,以利于最后的分板,同時還要考慮分離邊不可離走線過近,而使分板時容易損傷PCB。

            還有一種非常經(jīng)濟(jì)的拼板,并不是指的對PCB進(jìn)行拼板,而是對網(wǎng)板的網(wǎng)孔圖形進(jìn)行拼板。隨著全自動焊膏印刷機(jī)的應(yīng)用,目前較為先進(jìn)的印刷機(jī)(比如DEK265)已經(jīng)允許在尺寸為790×790mm的鋼網(wǎng)上,開設(shè)多面PCB的網(wǎng)孔圖形,可以做到一片鋼網(wǎng)用于多個產(chǎn)品的印刷,是一種非常節(jié)約成本的做法,尤其適合于產(chǎn)品特點為小批量多品種的廠家。

            2.4 可測性的考慮

            SMT的可測性主要是針對目前ICT裝備情況。將后期產(chǎn)品的測試問題在電路和表面安裝印制板SMB設(shè)計時就考慮進(jìn)去。提高可測性設(shè)計要考慮工藝設(shè)計和電氣設(shè)計兩個方面的要求。

            2.4.1 工藝設(shè)計的要求

            定位的精度、基板程序、基板的大小、探針的類型都是影響探測可靠性的因素。

            (1) 精確的定位孔。在基板上設(shè)定精確的定位孔,定位孔誤差應(yīng)在±0.05mm以內(nèi),至少設(shè)置兩個定位孔,且距離愈遠(yuǎn)愈好。采用非金屬化的定位孔,以減少焊錫鍍層的增厚而不能達(dá)到公差要求。如基板是整片后再分開測試,則定位孔就必須設(shè)在主板及各單獨的基板上。

            (2) 測試點的直徑不小于0.4mm,相鄰測試點的間距最好在2.54mm以上,不要小于1.27mm。

            (3) 在測試面不能放置高度超過*mm的元器件,過高的元器件將引起在線測試夾具探針對測試點的接觸不良。

            (4) 最好將測試點放置在元器件周圍1.0mm以外,避免探針和元器件撞擊損傷。定位孔環(huán)狀周圍3.2mm以內(nèi),不可有元器件或測試點。

            (5) 測試點不可設(shè)置在PCB邊緣5mm的范圍內(nèi),這5mm的空間用以保證夾具夾持。通常在輸送帶式的生產(chǎn)設(shè)備與SMT設(shè)備中也要求有同樣的工藝邊。

            (6) 所有探測點最好鍍錫或選用質(zhì)地較軟、易貫穿、不易氧化的金屬傳導(dǎo)物,以保證可靠接觸,延長探針的使用壽命。

            (7) 測試點不可被阻焊劑或文字油墨覆蓋,否則將會縮小測試點的接觸面積,降低測試的可靠性。

            2.4.2 電氣設(shè)計的要求

            (1) 要求盡量將元件面的SMC/SMD的測試點通過過孔引到焊接面,過孔直徑應(yīng)大于1mm。這樣可使在線測試采用單面針床來進(jìn)行測試,從而降低了在線測試成本。

            (2) 每個電氣節(jié)點都必須有一個測試點,每個IC必須有POWER及GROUND的測試點,且盡可能接近此元器件,最好在距離IC 2.54mm范圍內(nèi)。

            (3) 在電路的走線上設(shè)置測試點時,可將其寬度放大到40mil 寬。

            (4) 將測試點均衡地分布在印制板上。如果探針集中在某一區(qū)域時,較高的壓力會使待測板或針床變形,進(jìn)一步造成部分探針不能接觸到測試點。

            (5) 電路板上的供電線路應(yīng)分區(qū)域設(shè)置測試斷點,以便于電源去耦電容或電路板上的其它元器件出現(xiàn)對電源短路時,查找故障點更為快捷準(zhǔn)確。設(shè)計斷點時,應(yīng)考慮恢復(fù)測試斷點后的功率承載能力。

            圖6所示為測試點設(shè)計的一個示例。通過延伸線在元器件引線附近設(shè)置測試焊盤或利用過孔焊盤測試節(jié)點,測試節(jié)點嚴(yán)禁選在元器件的焊點上,這種測試可能使虛焊節(jié)點在探針壓力作用下擠壓到理想位置,從而使虛焊故障被掩蓋,發(fā)生所謂的“故障遮蔽效應(yīng)”。由于探針因定位誤差引起的偏晃,可能使探針直接作用于元器件的端點或引腳上而造成元器件損壞。

            圖6 測試點設(shè)計示例

            3、結(jié)束語

            以上是一些PCB設(shè)計時應(yīng)考慮的主要原則,在裝聯(lián)的PCB可制造性設(shè)計中,還有相當(dāng)多的細(xì)節(jié)要求,比如合理的安排與結(jié)構(gòu)件的配合空間p合理的分布絲印的圖形和文字p恰當(dāng)分布較重或發(fā)熱較大的器件的位置,在合適的位置設(shè)置測試點和測試空間p考慮在使用拉鉚p壓鉚工藝安裝聯(lián)接器等器件時,工模具與附近所分布元件的干涉等等,都是在PCB的設(shè)計階段所應(yīng)該考慮的問題。一個優(yōu)秀的PCB設(shè)計者,不但要考慮如何獲得良好的電性能和美觀布局,還有同樣重要的一點那就是PCB設(shè)計中的可制造性,以求高質(zhì)量、高效率、低成本。

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