NI聯(lián)合泰克等公司主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”

繼2004和2005年連續(xù)在中國(guó)地區(qū)成功舉辦兩屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”（Design Validation Test Forum，即DVTF）之后，美國(guó)國(guó)家儀器中國(guó)有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）宣布即將于今年9月21日在北京天鴻科園大酒店主辦第三屆DVTF活動(dòng)。除了兩年來(lái)王牌的自動(dòng)化測(cè)試主題，嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)也將成為今年的亮點(diǎn)。

延承以往的傳統(tǒng)，DVTF 2006聯(lián)合了泰克科技、EWB（Electronics WorkBench）、聲望聲電，以及北京中科泛華、上海聚星儀器等行業(yè)知名公司共同參與，力求將DVTF打造成一個(gè)測(cè)試測(cè)量自動(dòng)化以及設(shè)計(jì)行業(yè)權(quán)威的品牌活動(dòng)，為廣大測(cè)試測(cè)量行業(yè)的工程技術(shù)人員提供一個(gè)絕佳的平臺(tái)，不但可以與行業(yè)專家面對(duì)面地交流，了解最新的技術(shù)趨勢(shì)，而且還可以同時(shí)觀摩多家參與企業(yè)的演示從而獲得最佳的解決方案。

全天的活動(dòng)將分為嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試專題與自動(dòng)化測(cè)試專題兩個(gè)板塊同時(shí)進(jìn)行。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試專題包括：“如何縮短嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)周期”，“無(wú)需掌握VHDL，體驗(yàn)圖形化的FPGA編程 ”，“電路設(shè)計(jì)與仿真最新技術(shù)介紹”等；自動(dòng)化測(cè)試專題包括：“最新PCI Express和測(cè)試測(cè)量總線技術(shù)”，“射頻領(lǐng)域和多種行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)NI的解決方案”，“支持多種傳感器信號(hào)的便攜式數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)”等。所有議程主題均是充分考慮到設(shè)計(jì)和測(cè)試兩個(gè)領(lǐng)域工程師的實(shí)際需求和未來(lái)挑戰(zhàn)而準(zhǔn)備的。

除了兩項(xiàng)專題之外，本次DVTF還特設(shè)“測(cè)試經(jīng)理高峰論壇”專場(chǎng)，邀請(qǐng)各領(lǐng)域公司的高級(jí)測(cè)試經(jīng)理參與交流討論，共同應(yīng)對(duì)和解決市場(chǎng)快速發(fā)展下產(chǎn)生的各種挑戰(zhàn)。該專場(chǎng)座席有限，憑確認(rèn)函入場(chǎng)。