基于MSP430單片機(jī)的智能阻抗測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì)
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4 結(jié)果及討論
測(cè)量值與數(shù)字電橋測(cè)量值對(duì)比如表1～表3。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/171157.htm
設(shè)計(jì)的RLC測(cè)量?jī)x的電阻測(cè)量范圍為50 Ω～20 MΩ，誤差在5％以內(nèi)，電感測(cè)量范圍為1 mH～1 H，誤差在為8％以內(nèi)，電容測(cè)量范圍為100 pF～50μF，誤差在5％以內(nèi)。
設(shè)計(jì)采用了單片機(jī)智能控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)的智能化控制和輸出。高速A／D采樣轉(zhuǎn)換技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的高速轉(zhuǎn)換以及數(shù)據(jù)的高速采集。基于FPGA的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的高速處理計(jì)算。目前該裝置由于模擬開(kāi)關(guān)內(nèi)部電阻較大(約120 Ω)限制了部分范圍的RLC測(cè)量精度，需要改用導(dǎo)通電阻更小的模擬開(kāi)關(guān)來(lái)完善。
評(píng)論