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          基于鉑電阻的數(shù)字溫度測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2009-06-25 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1.3 信號(hào)調(diào)理電路
          由于鉑特性具有線性度不好,在進(jìn)行線性補(bǔ)償時(shí)選用XTR105,鉑線性補(bǔ)償電路如圖3所示。各個(gè)電阻的計(jì)算公式如下。
          其中,RZ=RTD最小,

          RL選用時(shí)注意ADC的參考電壓,ADC的參考電壓設(shè)置為外部電源電壓3.3V,采用150的低溫漂高精度電阻,RL的電壓范圍在0.6V到3V之間,RL可直接接的模擬信號(hào)輸入端進(jìn)行。線性補(bǔ)償電路中的電阻按照XTR105手冊(cè)提供的計(jì)算方法來(lái)確定,其中RZ為在-100℃時(shí)的電阻(60Ω),R2為600攝氏度時(shí)的電阻(314Ω),R1=RTD Resistance at(-100+600)/2=194Ω,經(jīng)過(guò)公式計(jì)算,RG=581Ω,RLIN1=4.3kΩ。z

          2
          在程序設(shè)計(jì)中使用C語(yǔ)言編程,使用C語(yǔ)言設(shè)計(jì)將會(huì)帶來(lái)一下幾點(diǎn)好處:1:可以大大提高開(kāi)發(fā)的工作效率;2:可以提高所設(shè)計(jì)的程序代碼的可靠性、可讀性、可移植性;3:設(shè)計(jì)者可以更多地集中在充分發(fā)揮的功能上。MSP430可以進(jìn)行多個(gè)模擬通道的ADC,進(jìn)行ADC模塊設(shè)置時(shí)需要設(shè)置通道、參考電壓等相關(guān)寄存器,由于ADC轉(zhuǎn)換的數(shù)值是2進(jìn)制的,轉(zhuǎn)換值送LCD顯示前要使轉(zhuǎn)換值變換成ASCII型數(shù)據(jù),程序流程如圖3所示。

          3 測(cè)試結(jié)果
          完成硬件與的設(shè)計(jì)后,進(jìn)行聯(lián)試。首先測(cè)試ADC的功能模塊,測(cè)試的方法采用高精度的可變電阻器替代鉑電阻的阻值,根據(jù)鉑電阻分度表調(diào)節(jié)對(duì)應(yīng)的可變電阻的阻值,從-100℃到600℃區(qū)間取15個(gè)點(diǎn),每50℃測(cè)試一次,記錄AD轉(zhuǎn)換值。溫度和轉(zhuǎn)換值進(jìn)行最小二乘法線性擬合,計(jì)算出線性度等的指標(biāo)。線性度計(jì)算結(jié)果為小于1%,數(shù)據(jù)如下:

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