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          了解高速ADC的數(shù)字輸出選擇

          作者: 時(shí)間:2013-06-14 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          要點(diǎn)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/175072.htm

          1.高端儀表促進(jìn)了更快的ADC速度和更多的通道數(shù)與密度,設(shè)計(jì)者必須評(píng)估的輸出格式,以及基本的轉(zhuǎn)換性能。

          2.主要的輸出選項(xiàng)是CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令),以及CML(電流模式邏輯)。

          3.要考慮的問(wèn)題包括:功耗、瞬變、數(shù)據(jù)與時(shí)鐘的變形,以及對(duì)噪聲的抑制能力。

          4.對(duì)于布局的考慮也是轉(zhuǎn)換輸出選擇中的一個(gè)方面,尤其當(dāng)采用LVDS技術(shù)時(shí)。

          當(dāng)設(shè)計(jì)者有多種ADC選擇時(shí),他們必須考慮采用哪種類型的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)輸出:CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令),還是CML(電流模式邏輯)。ADC中所采用的每種數(shù)字輸出類型都各有優(yōu)缺點(diǎn),設(shè)計(jì)者應(yīng)結(jié)合自己的應(yīng)用來(lái)考慮。這些因素取決于ADC的采樣速率與分辨率、輸出數(shù)據(jù)速率,以及系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求,等等。

          CMOS

          在采樣速率低于200M采樣/秒的ADC中,常見(jiàn)的是CMOS數(shù)字輸出。典型的CMOS包括一個(gè)NMOS管和一個(gè)PMOS管(它們的漏極相互連接)、電源電壓VDD和地(圖1a)。這個(gè)結(jié)構(gòu)會(huì)使輸出反相。另外,也可以采用一種背對(duì)背的結(jié)構(gòu),避免輸出反相(圖1b)。

          1.jpg

          圖1,一個(gè)典型CMOS數(shù)字輸出可以是反相結(jié)構(gòu)(a),或非反相結(jié)構(gòu)(b)。

          CMOS輸出驅(qū)動(dòng)器有高的輸入阻抗和低的輸出阻抗。在驅(qū)動(dòng)器的輸入端,兩個(gè)CMOS晶體管的柵極阻抗非常高,因?yàn)闁艠O氧化物將柵極與任何導(dǎo)電材料隔離開(kāi)來(lái)。輸入端阻抗的范圍可從千歐姆級(jí)到兆歐姆級(jí)。

          在驅(qū)動(dòng)器的輸出端,漏極電流ID通常較小,它決定了阻抗。此時(shí),阻抗通常小于數(shù)百歐姆。CMOS的電壓擺幅大約是從電源電壓到地,因此根據(jù)電源電壓情況可能會(huì)很大。由于輸入阻抗高,輸出阻抗相對(duì)較低,因此一個(gè)CMOS輸出通??梢则?qū)動(dòng)多個(gè)CMOS輸入。

          CMOS輸出端還有低靜態(tài)電流。只有當(dāng)CMOS驅(qū)動(dòng)器發(fā)生一次開(kāi)關(guān)事件時(shí),才出現(xiàn)大量的電流。當(dāng)驅(qū)動(dòng)器在低態(tài)(即拉至地)或高態(tài)(即拉至電源電壓)時(shí),幾乎沒(méi)有流過(guò)驅(qū)動(dòng)器的電流。不過(guò),當(dāng)驅(qū)動(dòng)器從低態(tài)切換到高態(tài),或從高態(tài)切換到低態(tài)時(shí),電源電壓到地之間就出現(xiàn)了一個(gè)短暫的低阻通路。這個(gè)瞬態(tài)電流就是設(shè)計(jì)者通常對(duì)高于200M采樣/秒速率ADC采用其它輸出驅(qū)動(dòng)技術(shù)的主要原因之一。

          另一個(gè)原因是,的每一位都需要一個(gè)CMOS驅(qū)動(dòng)器。一只14位ADC需要14個(gè)CMOS輸出驅(qū)動(dòng)器。這一約束條件要求在一只封裝中使用一個(gè)以上的;通常在一個(gè)封裝中會(huì)用到多達(dá)8個(gè)轉(zhuǎn)換器,產(chǎn)生了多個(gè)驅(qū)動(dòng)器的問(wèn)題。例如,采用CMOS技術(shù)可能需要用多達(dá)112個(gè)輸出端子做數(shù)據(jù)輸出。這種結(jié)構(gòu)不僅從封裝角度是不可能的,而且也會(huì)消耗更多的,增加PCB布局的復(fù)雜性。為解決這些問(wèn)題,制造商開(kāi)始采用LVDS的接口。

          LVDS驅(qū)動(dòng)器

          LVDS較CMOS技術(shù)有一些優(yōu)勢(shì),包括它僅需約350mV的信號(hào)就能運(yùn)行,并且是差分信號(hào)而不是單端信號(hào)。較小電壓擺幅有更快的切換速度,減少了對(duì)EMI問(wèn)題的關(guān)切。由于LVDS技術(shù)是差分的,它也有共模抑制作用,意味著耦合到信號(hào)上的噪聲在兩個(gè)信號(hào)路徑上是相同的,而差分接收器能夠去除大部分噪聲。

          LVDS的阻抗要受到更嚴(yán)格的控制,負(fù)載電阻必須接近100Ω。設(shè)計(jì)者獲得這個(gè)電阻的方法通常是在LVDS接收器上使用并聯(lián)終結(jié)的電阻。另外,還必須用受控阻抗的傳輸線來(lái)傳送LVDS信號(hào)。單端設(shè)計(jì)需要50Ω的阻抗,而差分設(shè)計(jì)則要將阻抗保持在100Ω(圖2)。

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          圖2,LVDS輸出驅(qū)動(dòng)器提供受控的輸入與輸出阻抗。

          正如LVDS輸出驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)所示,電路的工作結(jié)果是輸出提供一個(gè)固定的直流負(fù)載電流,從而避免了在輸出邏輯狀態(tài)變化時(shí),一個(gè)典型CMOS輸出驅(qū)動(dòng)器上會(huì)出現(xiàn)的電流尖峰。電路的標(biāo)稱供出/拉入電流為3.5mA,在100Ω終端電阻上獲得350mV的典型輸出電壓擺幅。電路的共模電平一般為1.2V,兼容于3.3V、2.5V和1.8V的電源電壓。

          LVDS最常見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)是ANSI/TIA/EIA-644規(guī)范,即“低壓差分信令接口電路的電氣特性”;另一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)是IEEE的SCI(可擴(kuò)展一致性接口)LVDS標(biāo)準(zhǔn)。LVDS要求特別注意信號(hào)走線的物理布局,但對(duì)于大于200M采樣/秒的轉(zhuǎn)換器則提供了很多優(yōu)點(diǎn)。LVDS驅(qū)動(dòng)器是恒流驅(qū)動(dòng),因此能夠驅(qū)動(dòng)很多輸出,不需要CMOS那么大量的電流。另外還可以使LVDS工作在DDR模式,它可以用一個(gè)LVDS輸出驅(qū)動(dòng)器給出2個(gè)數(shù)據(jù)位,從而需要的引腳數(shù)只有CMOS的一半。

          LVDS還降低了相同數(shù)量數(shù)據(jù)輸出的功耗。不過(guò),隨著轉(zhuǎn)換器分辨率的增加,PCB布局有一個(gè)更困難的工作,即處理一個(gè)LVDS接口所需要的很多數(shù)據(jù)輸出。ADC的采樣速率最終會(huì)將接口需要的數(shù)據(jù)速率推高至超出LVDS的能力。


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