大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)RC電路時(shí)間常數(shù)的Multisim仿真測(cè)試
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選擇充電期間測(cè)試常數(shù)，用Multisim的AC交流分析功能得到的仿真波形如圖4所示，將游標(biāo)指針1位于充電開始的位置使y1≈0 V，游標(biāo)指針2位于y2=0．632U≈6．339 8 V的位置，可讀出：
τ=t=dx=698．363 3μs≈1ms (8)
與式(3)的理論值近似相等。
1．4 仿真方案4
選擇放電期間測(cè)試常數(shù)。當(dāng)t=τ時(shí)，由式(2)有
uC(t)=Ue-1=0．368U (9)
即電容從U值開始放電的過程中，兩端電壓下降到0．368U的時(shí)間為時(shí)間常數(shù)τ。本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/176991.htm
選擇放電期間測(cè)試測(cè)試常數(shù)，用Multisim的AC交流分析功能得到的仿真波形如圖5所示，將游標(biāo)指針1位于放電開始的位置使y1=U≈9.894 3V、游標(biāo)指針2位于y2=0．368U≈3．614 6 V的位置，可讀出：
τ=t=dx=1．007 0 ms≈1ms (10)
與式(4)的理論值近似相等。
2 結(jié)束語
上述4種測(cè)試方案的測(cè)試結(jié)果都存在誤差，原因是通過游標(biāo)指針讀取數(shù)據(jù)時(shí)不易精確定位。減小讀數(shù)誤差的簡(jiǎn)便方法是將仿真波形顯示窗口橫向拉長，游標(biāo)指針定位后再縮小。
所述測(cè)試方案1、2亦可用Multisim的AC交流分析功能完成。
通過所述的幾個(gè)測(cè)試方案，可深入理解RC電路時(shí)間常數(shù)與電路參數(shù)之間的關(guān)系，從而進(jìn)一步理解實(shí)驗(yàn)測(cè)試原理及創(chuàng)新測(cè)試方法。
將計(jì)算機(jī)仿真軟件Multisim引入到大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)中，使實(shí)驗(yàn)的仿真、測(cè)試非常方便，特別便于電路參數(shù)改變時(shí)的測(cè)試。所述方法具有實(shí)際應(yīng)用意義。
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