RLC串聯(lián)電路諧振特性的Multisim仿真

由式(1)、(3)及圖3測(cè)試表明，電阻的改變對(duì)電路的諧振頻率不產(chǎn)生影響，但影響電路的品質(zhì)因數(shù)，從而影響頻率特性曲線的平坦度。
通過(guò)紅色游標(biāo)指針可讀出諧振頻率f0=1 585 Hz，fH=8 302 Hz，fL=301．85 Hz，計(jì)算出通頻帶寬BW=fH-fL=8 302-301．85=8 000．15 Hz， 品質(zhì)因數(shù)，表明頻率選擇性變差。
1．2 用AC交流分析功能進(jìn)行頻率特性的Multisim仿真測(cè)試
創(chuàng)建仿真實(shí)驗(yàn)電路如圖1所示，其中的波特圖儀可去掉不用。
啟動(dòng)Simulate菜單中Analyses下的AC Analyses…命令，在AC Analyses對(duì)話框中，改動(dòng)Output為節(jié)點(diǎn)3、VerticalScale為L(zhǎng)iner。
點(diǎn)擊AC Analyses對(duì)話框上的Simulate按鈕，出現(xiàn)一個(gè)AC Analyses窗口，如圖4所示。

通過(guò)游標(biāo)指針可讀出諧振頻率、限頻率和下限頻率，其結(jié)果和波特圖儀的結(jié)果基本一致。
將圖1所示電路參數(shù)增大，頻率特性曲線的平坦度發(fā)生變化。

2 結(jié)束語(yǔ)
用硬件實(shí)驗(yàn)儀器對(duì)RLC串聯(lián)電路諧振特性進(jìn)行測(cè)試時(shí)，儀器輸出參數(shù)調(diào)整較為繁瑣，信號(hào)頻率偏高或偏低時(shí)波形顯示不穩(wěn)定。由于受實(shí)驗(yàn)儀器的限制無(wú)法進(jìn)行電路的AC交流頻率特性分析，用Multisim軟件仿真解決了這一問(wèn)題，將計(jì)算機(jī)仿真軟件Multisim引入到電路實(shí)驗(yàn)中，使電路的分析、仿真、測(cè)試非常方便，特別便于電路參數(shù)改變時(shí)的測(cè)試。所述方法具有實(shí)際應(yīng)用意義，創(chuàng)新點(diǎn)是解決了RLC串聯(lián)電路諧振特性的工作波形及參數(shù)不易或無(wú)法用電子實(shí)驗(yàn)儀器進(jìn)行分析測(cè)試的問(wèn)題。
將電路的硬件實(shí)驗(yàn)方式向多元化方式轉(zhuǎn)移，利于培養(yǎng)知識(shí)綜合、知識(shí)應(yīng)用、知識(shí)遷移的能力，使電路分析更加靈活和直觀。